相信大家在進(jìn)行XRD測(cè)試時(shí)，會(huì)遇到標(biāo)準(zhǔn)半峰寬度，科學(xué)指南針平臺(tái)為大家解釋標(biāo)準(zhǔn)半峰寬度是什么，所謂的標(biāo)準(zhǔn)半峰寬應(yīng)該是指儀器本身的寬化因子，和實(shí)驗(yàn)時(shí)使用的狹縫條件關(guān)系最大，想得到它并不難。

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比如在相同的測(cè)量條件下，把 Si 標(biāo)樣放到儀器上測(cè)量 Si 的各個(gè)衍射峰的 Kα1 峰的半高寬，就是所謂的標(biāo)準(zhǔn)了。當(dāng)你需要測(cè)量一系列非標(biāo)樣 Si 粉時(shí)，就把標(biāo)樣 Si 的 Kα1 峰的半寬作為標(biāo)準(zhǔn)半峰寬使用就可以了。

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但，有很多時(shí)候合適的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)很難得到，你就用另外的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)（出峰位置很相近的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)）代替，也完全沒(méi)有問(wèn)題。也可以根據(jù) Si 標(biāo)樣在整個(gè)掃描范圍內(nèi)的衍射峰的 Kα1峰的半高寬作出儀器寬化因子-2θ關(guān)系曲線來(lái)得到任意進(jìn)度的儀器寬化因子。因?yàn)橹x樂(lè)方程的適用條件也就是幾十到 200nm 之間，超出這個(gè)范圍誤差是很大的。

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只要你在進(jìn)行相同的一系列計(jì)算時(shí)使用相同的一個(gè)參數(shù)就一般就可以滿(mǎn)足研究工作的要求了。如果有測(cè)試方面的需求，可以聯(lián)系科學(xué)指南針，科學(xué)指南針平臺(tái)甄選優(yōu)質(zhì)儀器，為廣大科研工作者提供方便、快速、更具性?xún)r(jià)比的分析測(cè)試服務(wù)。

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