XPS測試制樣要求
XPS的原理是用X射線去輻射樣品,使原子或分子的內(nèi)層電子或價電子受激發(fā)射出來。被光子激發(fā)出來的電子稱為光電子。可以測量光電子的能量,以光電子的動能/束縛能(binding energy,Eb=hv(光能量)-Ek(動能)-w(功函數(shù)))為橫坐標,相對強度(脈沖/s)為縱坐標可做出光電子能譜圖。從而獲得試樣有關(guān)信息。X射線光電子能譜因?qū)瘜W分析最有用,因此被稱為化學分析用電子能譜(Electron Spectroscopy for Chemical Analysis)。
XPS在測試時需要預處理,在這里提供一些XPS制樣要求以及注意事項,希望能夠幫助大家。
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注意事項:
樣品含S,F(xiàn),I,Br,Hg等揮發(fā)性元素單質(zhì)不能測試,以免污染高真空系統(tǒng),元素含量低于5%需說明,磁性樣品一定注明是否有磁性。
當測試薄膜塊狀的樣品時,其表面常含有環(huán)境中的雜質(zhì)元素,由于XPS測試深度只有0.5-10 nm,所以需要進行表面清潔,一般通過氬離子刻蝕來去除。
XPS測試的元素范圍是Li-Cm, H,He元素不能測試。
樣品要求:
粉末樣品:10-20 mg或2 ml以上,粉末必須干燥,盡量研細,樣品無腐蝕性、揮發(fā)性元素。
固體樣品:尺寸小于5*5*3 cm,標清正反面,樣品需干燥、表面平整。
液體樣品:樣品必須可以在鋁箔或者硅片等載體上烘干后形成液膜測試,不能被干燥的樣品無法測試。
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