《炬豐科技-半導體工藝》--技術(shù)資料合集四
一:《濕法刻蝕工藝流程》
二:《超臨界CO2清洗技術(shù)》
三:《濕法耦合P-GaN直觀畫面工藝》
四:《電解液配液機》
五:《化學沉積的鉻薄膜的生長工藝》
六:《硅片制絨和清洗工藝》
七:《寬禁帶半導體的濕法化學蝕刻》
八:《高精度點膠機》
九:《氮化鎵能代替硅嗎》
十:《全自動光刻版清洗機》
十一:《硅的濕法刻蝕工藝》
十二:《爐管清洗機技術(shù)方案》
十三:《硅集成電路工藝基礎(chǔ)》
十四:《硅工藝過程介紹》
十五:《半導體各類腐蝕工藝》
十六:《薄膜的清洗方法》
十七:《22納米節(jié)點顆粒挑戰(zhàn)》
十八:《光學傳感器原理》
十九:《氮化鎵特性及應(yīng)用簡介》
二十:《CIP清洗系統(tǒng)清洗工藝》
二十一:《氫氟酸的清洗作用》
二十二:《單片式清洗設(shè)備》
二十三:《碳化硅粉清洗工藝》
二十四:《DSP安裝與使用說明》
二十五:《鍍膜后清洗機》
二十六:《磷酸高溫腐蝕機》
二十七:《光膠顯影與光刻工藝》
二十八:《LCD用光學薄膜技術(shù)》
二十九:《等離子體對氮化硅、氧氮化物的影響》
三十:《氮化鎵是晶體管替代半導體材料的潛力》
標簽: