TEM測試功能
在制備透射電子顯微鏡(TEM測試)薄膜樣品時,科學(xué)指南針檢測平臺工作人員在與很多同學(xué)溝通中了解到,大多數(shù)同學(xué)沒有太好的處理薄膜樣品的方法,針對此,科學(xué)指南針檢測平臺團隊組織相關(guān)同事對網(wǎng)上海量知識進行整理,希望可以幫助到科研圈的伙伴們;
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早期的透射電子顯微鏡功能主要是觀察樣品形貌,后來發(fā)展到可以通過電子衍射原位分析樣品的晶體結(jié)構(gòu)。具有能將形貌和晶體結(jié)構(gòu)原位觀察的兩個功能是其它結(jié)構(gòu)分析儀器(如光鏡和X射線衍射儀)所不具備的。
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透射電子顯微鏡增加附件后,其功能可以從原來的樣品內(nèi)部組織形貌觀察(TEM)、原位的電子衍射分析,發(fā)展到還可以進行原位的成分分析(能譜儀EDS、特征能量損失譜EELS)、表面形貌觀察(二次電子像SED、背散射電子像BED)和透射掃描像(STEM)。
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結(jié)合樣品臺設(shè)計成高溫臺、低溫臺和拉伸臺,透射電子顯微鏡還可以在加熱狀態(tài)、低溫冷卻狀態(tài)和拉伸狀態(tài)下觀察樣品動態(tài)的組織結(jié)構(gòu)、成分的變化,使得透射電子顯微鏡的功能進一步的拓寬。
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透射電子顯微鏡功能的拓寬意味著一臺儀器在不更換樣品的情況下可以進行多種分析,尤其是可以針對同一微區(qū)位置進行形貌、晶體結(jié)構(gòu)、成分(價態(tài))的全面分析。
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