Agilent 4286A 射頻LCR測(cè)試儀在1MHz～3GHz頻率范圍可以提供精確、可靠和快速測(cè)量，以改進(jìn)生產(chǎn)線上對(duì)電子元件進(jìn)行測(cè)試的質(zhì)量和生產(chǎn)率。

與反射測(cè)量技術(shù)不同，采用直流電 壓測(cè)量技術(shù)能在大的阻抗范圍進(jìn)行精確測(cè)量。 生產(chǎn)率高，質(zhì)量可靠HP4286A 適于在射頻范圍對(duì)電子元器件進(jìn)行測(cè)試。
4286A的測(cè)量非?？臁４送?，在小測(cè) 試電流(100μA)處優(yōu)良的測(cè)試重復(fù)性還可以顯著提高生產(chǎn)率，因?yàn)樗璧娜∑骄^(guò)程 非常短。
系統(tǒng)組建簡(jiǎn)單測(cè)試頭電纜(1m或利用延伸電纜時(shí)為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測(cè)件接點(diǎn)附近 ，而不會(huì)使誤差有任何增大。
增強(qiáng)的比較器功能可以使復(fù)雜的倉(cāng)室適用于多頻或 陣列芯片測(cè)試。

主要特性與技術(shù)指標(biāo) ：
1 MHz至1 GHz，10 kHz步進(jìn)
1%基本精度
高速測(cè)量：15ms
帶有APC-3.5測(cè)試頭的1 m/3 m電纜
描述：
Keysight 4286A RF LCR表提供精確、可靠的測(cè)量，以便提高電子元器件或電路設(shè)計(jì)的質(zhì)量和性能。
與反射測(cè)量技術(shù)不同，Keysight 4,286A使用直接的電流－電壓測(cè)量技術(shù)，可在廣泛的阻抗范圍內(nèi)提供更精確的阻抗測(cè)量結(jié)果。
而且，由于先進(jìn)的校準(zhǔn)技術(shù)（典型的Q精度：6% @ 100 MHz，Q=100），還可以極大地改進(jìn)Q測(cè)量。
因此，通過(guò)在射頻范圍內(nèi)測(cè)量設(shè)備的真實(shí)阻抗值，您將能夠顯著降低設(shè)計(jì)的不確定度。

技術(shù)指標(biāo)
測(cè)量參數(shù)：|Z|,|Y|,θ-z（度/弧度），θ-y（度/弧度），G,B,Ls,Lp,Cs,Cp,Rs,Rp,Q,D（可同時(shí)顯示4種測(cè)量參數(shù)）
測(cè)試頻率：1MHz～3GHz
頻率分辨力：100KHz