? ? ? ?第九章是非常重要的一章！作者提到了測(cè)試驅(qū)動(dòng)程式開(kāi)發(fā)(Test Driven Development)。說(shuō)到「測(cè)試」兩字，給人的印象是重要性不如正式的產(chǎn)品程式，通常測(cè)試程式寫完立刻就會(huì)被丟棄。測(cè)試驅(qū)動(dòng)程式開(kāi)發(fā)的寫法產(chǎn)品程式與測(cè)試程式的關(guān)係如同太極圖的陰與陽(yáng)同樣重要，兩者是對(duì)立又相依的關(guān)係。

TDD的三大法則

第一法則：在寫一個(gè)單元測(cè)試前，不寫產(chǎn)品程式。

第二法則：只寫剛好無(wú)法通過(guò)的單元測(cè)試。

第三法則：只寫剛好能通過(guò)測(cè)試失敗的產(chǎn)品程式。

說(shuō)人話吧！傳統(tǒng)軟體開(kāi)發(fā)方法是先寫產(chǎn)品程式，再寫測(cè)試程式。測(cè)試驅(qū)動(dòng)程式開(kāi)發(fā)先寫測(cè)試程式，再寫產(chǎn)品程式。

此處的測(cè)試程式是每的小單元都有測(cè)試程式，測(cè)試程式只比產(chǎn)品程式早幾秒寫，幾乎是兩者同時(shí)開(kāi)發(fā)。

讓測(cè)試程式整潔

作者分享自己的工作經(jīng)驗(yàn)，測(cè)試程式依然要保持整潔，不然到最後雜亂無(wú)章的測(cè)試程式也會(huì)被拋棄。沒(méi)有測(cè)試程式之後就會(huì)出現(xiàn)惡性循環(huán)，變成不敢修改產(chǎn)品程式導(dǎo)致軟體品質(zhì)下降。

作者認(rèn)為測(cè)試程式與產(chǎn)品程式一樣重要。

測(cè)試帶來(lái)更多的好處

測(cè)試程式讓產(chǎn)品程式保持?jǐn)U充性、可維護(hù)性。有測(cè)試程式讓人不怕修改軟體程式。

整潔的測(cè)試

可讀性最重要，測(cè)試程式要寫得簡(jiǎn)單明瞭。

9-1是錯(cuò)誤示範(fàn)，寫得太複雜。

9-2是重構(gòu)之後簡(jiǎn)潔的範(fàn)例。

每個(gè)測(cè)試程式單元呈現(xiàn)了建造、操作、檢查三個(gè)部分。

範(fàn)例中assert開(kāi)頭的函數(shù)是測(cè)試程式

特定領(lǐng)域的測(cè)試語(yǔ)言

測(cè)試程式寫多了可以演化出測(cè)試API。

雙重標(biāo)準(zhǔn)

測(cè)試程式注重可讀性，可以犧牲效率。

一個(gè)測(cè)試一次斷言(Assert)

斷言數(shù)量越少越好。

一個(gè)測(cè)試一個(gè)概念

相當(dāng)於一個(gè)測(cè)試不要測(cè)試太多項(xiàng)目。

FIRST

整潔的測(cè)試遵循五個(gè)法則

Fast

測(cè)試程式執(zhí)行快速

Independent

每個(gè)測(cè)試程式能夠獨(dú)立運(yùn)行，不用管其他測(cè)試程式

Repeatable

任何系統(tǒng)環(huán)境都能夠執(zhí)行測(cè)試程式

Self-Validating?

測(cè)試程式的輸出是對(duì)或錯(cuò)(true or false)

Timely

測(cè)試程式要在產(chǎn)品程式「之前不久」撰寫

總結(jié)

測(cè)試程式與產(chǎn)品程式同等重要，甚至更重要。測(cè)試程式腐化會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)品程式接著腐化，引發(fā)惡性循環(huán)。

我覺(jué)得測(cè)試驅(qū)動(dòng)程式開(kāi)發(fā)(Test Driven Development)是好東西，無(wú)奈要實(shí)際運(yùn)作有很大的困難，通常軟體公司的每個(gè)人進(jìn)度都被安排好，不可能再安排時(shí)間再寫詳盡的測(cè)試程式，更何況做到本章節(jié)所言測(cè)試先行、測(cè)試程式與產(chǎn)品程式同時(shí)開(kāi)發(fā)。

雖然如此有機(jī)會(huì)「制度環(huán)境許可」的情況下，還是試試看測(cè)試驅(qū)動(dòng)程式開(kāi)發(fā)(Test Driven Development)的寫作方法。