在做 X 射線光電子能譜(XPS)測試時，科學(xué)指南針檢測平臺工作人員在與很多同學(xué)溝通中了解到，好多同學(xué)僅僅是通過文獻或者師兄師姐的推薦對XPS有了解，但是對于其原理還屬于小白階段，針對此，科學(xué)指南針檢測平臺團隊組織相關(guān)同事對網(wǎng)上海量知識進行整理，希望可以幫助到科研圈的伙伴們；

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一．什么是表面及表面分析技術(shù)

表面：物體與周圍環(huán)境（氣體、液體 、固體或真空）的邊界，第四態(tài)。

固體表面：是有一定厚度的，有時指表面的第一原子層，有時指上面幾個原子層，有時厚度達到幾個納米的表面層。

表面分析技術(shù)：通過微觀粒子或（電、磁、力等）場與表面的相互作用而獲取表面信息的技術(shù)。與超高真空、電子離子光學(xué)、微弱信號檢測和計算機技術(shù)密不可分。

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二．表面分析包含內(nèi)容

表面形貌分析：電子顯微鏡、離子顯微鏡、STM、AFM

表面組分分析：測定表面的元素組成、化學(xué)態(tài)及在表面層的橫向與縱向分布￠

表面結(jié)構(gòu)分析：測定表面原子排列，包括襯底表面原子及其上吸附單層原子的相對位置，LEED、STM、LEISS、ARPES、XRD 、AP -FIM￠

表面電子態(tài)分析：測定表面原子能級的性質(zhì)、表面態(tài)密度、表面電荷密度分布和能量分布。UPS、STM、HREELS￠

表面原子態(tài)分析：測定表面原子振動，表面原子化學(xué)鍵的性質(zhì)與吸附位置、吸附原子態(tài)，吸附原子成鍵方向和吸附質(zhì)成鍵的基底原子的情況。高分辨電子能量損失譜、熱脫附和電子、光子誘導(dǎo)脫附。

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