在做掃描電子顯微鏡（SEM）測試時，科學指南針檢測平臺工作人員在與很多同學溝通中了解到，好多同學對SEM測試不太了解，針對此，科學指南針檢測平臺團隊組織相關同事對網(wǎng)上海量知識進行整理，希望可以幫助到科研圈的伙伴們；

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電子顯微鏡分透射和掃描電鏡兩種，透射電鏡（TEM）是觀察樣品中的內(nèi)部結構：如細胞器等；掃描電鏡（SEM）可觀察樣品中的表面形態(tài)結構。隨著組織工程技術的發(fā)展興起，如支架材料的制作后，需觀察樣品中的孔徑大小 ，與細胞的相融性，生長形態(tài)變化等。用掃描電鏡觀察獲得清晰圖像，是重要的檢測手段之一。

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掃描電鏡的優(yōu)點

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景深長，視野廣，圖像呈三維立體結構，樣品制作較透射電子顯微鏡簡單，功能多，根據(jù)樣品性質不同，其處理方法也有所區(qū)別，下面主要介紹組織工程支架、細胞、細胞外基質等樣品的制作技術。

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掃描電鏡的特點

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1.掃描電鏡的特點：有較高的分辨率。鎢燈絲可達 3nm

2.有較高的放大倍數(shù)，幾倍到幾十萬倍之間連續(xù)可調(diào)，且高倍聚焦后縮小到低倍無需再聚焦

3.有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結構

4.試樣制備簡單、使用方便

5.可搭配X射線能譜儀等其它分析裝置，使掃描電鏡成為集微觀形貌成像和微區(qū)分析于一身的綜合系統(tǒng)。

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以上僅為科學指南針檢測平臺對網(wǎng)上資料的收集整合，故此分享給大家，希望可以幫助大家對測試更了解，如有測試需求，可以和科學指南針聯(lián)系，我們會給與您最準確的數(shù)據(jù)和最好的服務體驗，惟祝科研工作者可以更輕松的工作。

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