材料性能檢測設(shè)備
材料性能檢測設(shè)備的分類、工作原理及主要功能，以及如何選用。
隨著科學(xué)技術(shù)的飛速發(fā)展，新材料的應(yīng)用范圍越來越廣泛，對材料的性能要求也越來越高。在工業(yè)生產(chǎn)和科研中，需要對各種材料的物理、化學(xué)和機(jī)械特性進(jìn)行測試和分析。因此，對材料性能的檢測設(shè)備提出了越來越高的要求。
目前國內(nèi)外用于各種材料和制品的性能測試分析的設(shè)備主要有以下幾種形式：傳統(tǒng)的理化儀器如電子天平、密度儀等；電化學(xué)傳感器如x射線衍射儀（edx）、能譜儀（eds）等；光電子顯微鏡（optical microscope）、掃描探針顯微鏡（sem）?
laser cond cting microscopy）等；紅外熱像儀、拉曼光譜分析儀等；近些年興起的分子束外延生長裝置與微區(qū)分析系統(tǒng)相結(jié)合的新型儀器；利用計算機(jī)控制的自動化儀表系統(tǒng)等等。這些儀器設(shè)備雖然種類繁多，但基本原理基本一致。
標(biāo)簽：
