Q1：AFM制樣條件是什么？

A：（1）將待測樣品根據(jù)需要用水或者酒精分散，待測樣品被分散后整個溶液要是透明的，目測與水或者酒精一樣；

（2）仍是根據(jù)需要，選擇是否進(jìn)行超聲分散以及分散的時間；

（3）將分散好的溶液的上層清液取出來滴在事先準(zhǔn)備的硅片基底上，烘干或者晾干即可。

Q2：AFM測試模式有哪些？

A：表面形貌測試：可得到樣品表面形貌（2D、3D）以及粗糙度和高度分布圖；

導(dǎo)電性能測試（C-AFM）：同時得到形貌和電流分布圖；也可以進(jìn)行選區(qū)I-V曲線測試；

表面電勢測試（AFM-SKPFM）：表面電荷的半定性表征，能直接測量探針和樣品之間的電勢差；

磁學(xué)性能測試（AFM-MFM）：微區(qū)磁疇的分布表征；

納米力學(xué)測試（AFM-QNM）：力學(xué)圖譜測量，可通過擬合力學(xué)曲線得到樣品的楊氏模量，得到微區(qū)的楊氏模量分布，適用于較軟樣品高級納米力學(xué)成像模式，可對有機物，高分子以及金屬材料進(jìn)行掃描，同時得到形貌和模量分布；

壓電力測量（AFM-PFM）：薄膜，陶瓷，晶體，纖維材料的表面鐵電疇表征，極化反轉(zhuǎn)和蝴蝶曲線測試，疇操縱。

Q3：AFM拍攝范圍一般時多大？

A：AFM與SEM、TEM或者金相測試不同，測試時不做倍數(shù)要求，AFM一般要告知掃描范圍，常規(guī)是10*10nm到10*10μm；尺寸過小，分辨率可能達(dá)不到，尺寸過大，會增加掃描時間。

總結(jié)

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