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統(tǒng)計(jì)過程控制（SPC）是美國數(shù)理統(tǒng)計(jì)學(xué)家休哈特在20世紀(jì)二、三十年代所創(chuàng)造的理論，它能以便人們采取措施，消除異常，恢復(fù)過程的穩(wěn)定，是一種測(cè)量、監(jiān)測(cè)和控制過程的統(tǒng)計(jì)方法。

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換句話說，SPC是一種采用統(tǒng)計(jì)方法對(duì)過程進(jìn)行測(cè)量、監(jiān)視和控制的質(zhì)量控制方法，也是六西格瑪最重要的工具之一。它是一種科學(xué)的可視化方法，通過消除過程中的特殊原因變異來監(jiān)視、控制和改進(jìn)過程。

統(tǒng)計(jì)過程控制（SPC）在六西格瑪項(xiàng)目中的兩個(gè)作用

在測(cè)量階段（Measure），統(tǒng)計(jì)過程控制主要用于分析過程是否處于穩(wěn)定的狀態(tài)，如果過程王穩(wěn)定，任何改善行動(dòng)都是徒然。

在控制階段（Control），統(tǒng)計(jì)過程控制主要用于監(jiān)視已改進(jìn)的過程，保證過程維持穩(wěn)定。

統(tǒng)計(jì)過程控制（SPC）的發(fā)展歷程

雖然統(tǒng)計(jì)過程控制SPC從1980年開始在西方工業(yè)界得到有效應(yīng)用，但它是在美國20年代已經(jīng)出現(xiàn)了。1924年，Walter A Shewhart 在美國貝爾電話實(shí)驗(yàn)室提出了控制圖和過程可以處于統(tǒng)計(jì)控制的概念。統(tǒng)計(jì)過程控制的概念在二戰(zhàn)前被W.E.戴明博士列入管理哲學(xué)。然而，統(tǒng)計(jì)過程控制在日本的工業(yè)界實(shí)施了這一概念，并與西方工業(yè)界競(jìng)爭(zhēng)后，統(tǒng)計(jì)過程控制才變得非常有名。

統(tǒng)計(jì)過程控制（SPC）的含義

統(tǒng)計(jì)學(xué)是一門科學(xué)，它涉及收集、總結(jié)、分析和從數(shù)據(jù)中獲取信息。統(tǒng)計(jì)學(xué)是一門科學(xué)，它涉及收集、總結(jié)、分析和從數(shù)據(jù)中獲取信息。

過程。它將投入的資源轉(zhuǎn)化為所需的產(chǎn)出（商品或服務(wù)），并結(jié)合人員、材料、方法、機(jī)器和測(cè)量。

控制。系統(tǒng)，政策和程序的到位，整體輸出符合要求。

為什么使用統(tǒng)計(jì)過程控制（SPC）？

如今，企業(yè)面臨著日益激烈的競(jìng)爭(zhēng)，同時(shí)也面臨著運(yùn)營成本，包括原材料的不斷增加。因此，對(duì)于組織來說，如果他們能控制自己的運(yùn)營，那是非常有益的。

組織必須努力不斷提高質(zhì)量、效率和降低成本。許多組織在生產(chǎn)后仍會(huì)對(duì)質(zhì)量相關(guān)問題進(jìn)行檢查。

SPC幫助企業(yè)走向預(yù)防為主的質(zhì)量控制，而不是檢測(cè)為主的質(zhì)量控制。通過監(jiān)控SPC圖表，組織可以很容易地預(yù)測(cè)過程的行為。

統(tǒng)計(jì)過程控制的好處

減少廢品和返工

提高生產(chǎn)力

提高整體質(zhì)量

將工藝能力與產(chǎn)品要求相匹配

持續(xù)監(jiān)控過程，保持控制

提供數(shù)據(jù)以支持決策

精簡(jiǎn)程序

提高產(chǎn)品的可靠性

透視全公司改進(jìn)的機(jī)會(huì)

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統(tǒng)計(jì)過程控制目標(biāo)

SPC的重點(diǎn)是通過使用統(tǒng)計(jì)工具分析數(shù)據(jù)，對(duì)過程行為進(jìn)行推斷，然后做出適當(dāng)?shù)臎Q策，從而優(yōu)化持續(xù)改進(jìn)。

SPC的基本假設(shè)是，所有的過程都會(huì)發(fā)生變化。變異衡量的是數(shù)據(jù)在中心傾向周圍的分布情況。此外，變異可以分為兩種類型之一，隨機(jī)或偶然原因變異和可分配原因變異。

一般性的變異原因 Common Cause?過程中的變異是由偶然因素引起的，但不能歸于任何因素。它是過程中固有的變異。在共同原因的影響下，過程總是穩(wěn)定和可預(yù)測(cè)的。

特殊性的變異原因?Assignable Cause?它也被稱為 "特殊原因 Special Cause"。在一個(gè)過程中，不是由于偶然因素造成的變化，因此可以被識(shí)別和消除。受特殊原因影響的過程將不穩(wěn)定和可預(yù)測(cè)。

如何進(jìn)行統(tǒng)計(jì)過程控制（SPC）？

1、確定流程。找出影響產(chǎn)品產(chǎn)出的關(guān)鍵工藝或?qū)蛻舴浅ｊP(guān)鍵的工藝。例如，板材厚度影響到生產(chǎn)企業(yè)的產(chǎn)品性能，那么就考慮板材制造工藝。

2. 確定過程的可測(cè)量屬性。確定生產(chǎn)過程中需要測(cè)量的屬性。從上面的例子來看，將板材厚度作為可測(cè)量的屬性。

3. 確定測(cè)量方法，同時(shí)進(jìn)行量具的R&R：建立包括測(cè)量?jī)x器在內(nèi)的測(cè)量方法工作說明書或程序。例如，考慮用厚度計(jì)來測(cè)量厚度，并創(chuàng)建一個(gè)合適的測(cè)量程序。執(zhí)行量具重復(fù)性和再現(xiàn)性(Gage R&R)，以定義由于測(cè)量系統(tǒng)造成的測(cè)量數(shù)據(jù)的變化量。

4. 制定子組（Sub-Group）策略和抽樣計(jì)劃。根據(jù)產(chǎn)品的臨界性確定子組規(guī)模，確定抽樣規(guī)模和頻率。例如按時(shí)間順序收集20組板厚，子組大小為4。

5. 采集數(shù)據(jù)并繪制SPC圖。按照樣本大小收集數(shù)據(jù)，并根據(jù)數(shù)據(jù)類型（連續(xù)或離散）和子組大小選擇合適的SPC圖。例如，板厚的子組大小為4，選擇Xbar -R圖。

6. 描述屬性的自然變化。計(jì)算控制極限。從上面的例子中，計(jì)算Xbar Range兩個(gè)控制上限（UCL）和控制下限（LCL）。

7. 監(jiān)測(cè)過程變化。解讀控制圖，檢查是否有任何一點(diǎn)失控，以及模式。例如：檢查Xbar R圖 如果過程不在控制范圍內(nèi)，那么確定可分配的原因并解決這個(gè)問題。這是一個(gè)監(jiān)控過程變化的持續(xù)過程。

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其他統(tǒng)計(jì)過程控制資源

控制限值是過程的聲音（不同于規(guī)格限值，規(guī)格限值是客戶的聲音），它們顯示了過程正在做的事情，并作為它應(yīng)該做的事情的指南?？刂葡拗颠€表明，一個(gè)過程事件或測(cè)量可能落在該限值內(nèi)。

控制圖 ?？刂茍D是統(tǒng)計(jì)過程控制（SPC）的主要技術(shù)之一?？刂茍D是用圖形顯示從樣品中測(cè)量或計(jì)算出的質(zhì)量特性與樣品數(shù)量或時(shí)間的關(guān)系。此外，控制圖包含一條代表質(zhì)量特性平均值的中心線和另外兩條水平線，即控制上限（UCL）和控制下限（LCL）。

在控制圖繪制中，選擇一個(gè)合適的控制圖是非常重要的。否則，最終導(dǎo)致數(shù)據(jù)的控制限值不準(zhǔn)確?？刂茍D的選擇取決于數(shù)據(jù)類型。連續(xù)的還是離散的？

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連續(xù)數(shù)據(jù)的控制圖

X-R圖（當(dāng)數(shù)據(jù)容易獲得時(shí)）?X-R圖用于監(jiān)測(cè)連續(xù)數(shù)據(jù)的過程性能和在設(shè)定的時(shí)間段內(nèi)分組采集的數(shù)據(jù)。它實(shí)際上是用兩張圖來監(jiān)測(cè)過程平均值和過程隨時(shí)間的變化。

運(yùn)行圖（有限的單點(diǎn)數(shù)據(jù)）?運(yùn)行圖顯示觀察到的數(shù)據(jù)隨時(shí)間變化的情況。只是一個(gè)基本的圖表，按時(shí)間順序顯示數(shù)據(jù)值。對(duì)于識(shí)別過程中的趨勢(shì)或轉(zhuǎn)變很有用，但也允許您測(cè)試過程中的隨機(jī)性。

X - MR圖（I - MR，個(gè)體移動(dòng)范圍）I-MR圖也稱為X-MR圖。當(dāng)數(shù)據(jù)是連續(xù)的，并且不以分組形式收集時(shí)，就會(huì)使用個(gè)體移動(dòng)范圍（I-MR）圖。換句話說，就是每次收集單個(gè)觀察值。I-MR圖以圖形方法提供了隨時(shí)間變化的過程。

X-S圖（當(dāng)sigma是現(xiàn)成的）?X-S圖經(jīng)常被用來檢查過程平均值和標(biāo)準(zhǔn)差隨時(shí)間變化的控制圖。當(dāng)子組的樣本量較大時(shí)，這些圖表就會(huì)被使用，而且S圖比范圍圖能更好地了解子組數(shù)據(jù)的分布情況。

EWMA圖--指數(shù)加權(quán)移動(dòng)平均圖在統(tǒng)計(jì)過程控制中用于監(jiān)測(cè)利用給定輸出的整個(gè)歷史的變量（或類似變量的屬性）。這與其他控制圖不同，其他控制圖傾向于單獨(dú)處理每個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)。

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離散數(shù)據(jù)的控制圖

P圖表?它也可以顯示為缺陷的百分比。在P圖上繪制的點(diǎn)是在n個(gè)樣品中發(fā)現(xiàn)的非確認(rèn)單位或缺陷件的分?jǐn)?shù)。

np圖（針對(duì)缺陷--樣本大小固定）--當(dāng)數(shù)據(jù)收集在相同大小的子組中時(shí)，使用np圖。np圖顯示了由其產(chǎn)生的不合格品（缺陷）數(shù)量衡量的過程如何隨時(shí)間變化。換句話說，過程描述的是通過或失敗，是或不是。

C圖（用于缺陷--樣本量固定）--當(dāng)數(shù)據(jù)涉及產(chǎn)品中的缺陷數(shù)量時(shí)，使用c圖表。收集每個(gè)子組中機(jī)會(huì)區(qū)域的缺陷數(shù)。

U圖（針對(duì)缺陷--樣本大小不一）--u圖是一種屬性控制圖，它顯示了一個(gè)過程或系統(tǒng)的缺陷或不合格的頻率是如何隨時(shí)間變化的。 每個(gè)子組中機(jī)會(huì)區(qū)域收集的缺陷數(shù)量。