編輯 | 環(huán)儀儀器

固態(tài)硬盤SSD BIT測(cè)試箱主要用于固態(tài)硬盤BIT（Burn-In Test）測(cè)試的試驗(yàn)設(shè)備，固態(tài)硬盤的BIT測(cè)試可以加速芯片老化，做潛在失效分析，發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的不足。對(duì)于BIT測(cè)試箱有哪些特點(diǎn)呢？下面我們來(lái)看看。

環(huán)儀儀器 固態(tài)硬盤SSD BIT測(cè)試箱的特點(diǎn)：

⑴極速傳輸

BIT測(cè)試箱的單口最大速度高達(dá)4000MB/S，即使在滿負(fù)荷運(yùn)行時(shí)，仍能維持高達(dá)1500MB/S的最高速度。確保了在測(cè)試過(guò)程中能夠充分發(fā)揮SSD的潛在性能，為性能評(píng)估提供了可靠支持。

⑵大規(guī)模測(cè)試

具備多個(gè)端口（可按需定制），支持同時(shí)測(cè)試多臺(tái)電腦，每臺(tái)電腦可同時(shí)連接8個(gè)PCIE NVME SSD。這種高度的擴(kuò)展性使得大規(guī)模測(cè)試變得輕松，為生產(chǎn)線上的高效生產(chǎn)提供了便利。

⑶智能自動(dòng)操作

整合自動(dòng)測(cè)試軟件，一鍵操作輕松實(shí)現(xiàn)。這不僅提高了測(cè)試效率，同時(shí)也降低了人為操作錯(cuò)誤的風(fēng)險(xiǎn)，使得測(cè)試過(guò)程更為智能化和可控。

⑷保護(hù)性設(shè)計(jì)

每個(gè)端口都配置保護(hù)座，一旦出現(xiàn)座子損壞，可以直接更換保護(hù)板。這樣的設(shè)計(jì)不僅提高了設(shè)備的可維護(hù)性，也延長(zhǎng)了設(shè)備的使用壽命。

⑸穩(wěn)定電源供應(yīng)

每個(gè)端子配備12V轉(zhuǎn)3.3V5A供電，提供充足的工作電流。同時(shí)，設(shè)備還具備短路、過(guò)流、過(guò)熱保護(hù)，確保在測(cè)試過(guò)程中電源穩(wěn)定、安全可靠。

⑹下壓式母座

采用插入下壓式母座設(shè)計(jì)，避免了用久后接觸不良的問(wèn)題。

⑺人性化設(shè)計(jì)

硅膠定位柱的使用減輕了上下盤的操作難度，同時(shí)提高了效率。

⑻多長(zhǎng)度定位孔

設(shè)備具備32、40、60、80各種長(zhǎng)度的定位孔，以適應(yīng)各種長(zhǎng)度的SSD測(cè)試需求。

只有性能強(qiáng)大的固態(tài)硬盤SSD BIT測(cè)試箱，才能應(yīng)付大批量的SSD經(jīng)行BIT測(cè)試，而生產(chǎn)線需要應(yīng)對(duì)大批量測(cè)試，而這款bit測(cè)試箱完全可以滿足用戶的測(cè)試需求。