安捷倫Agilent射頻測(cè)試儀4287A

產(chǎn)品詳細(xì)介紹:

頻率1 MHz至3 GHz，100 kHz步進(jìn)

測(cè)量范圍

寬阻抗測(cè)量范圍：200 m ohm至3 k ohm

基本測(cè)量精度1%基本精度

更多特性

在低測(cè)試信號(hào)電平時(shí)優(yōu)異的測(cè)量可重復(fù)性

高速測(cè)量： 9 ms

Agilent4287A射頻測(cè)試儀

　　Agilent4287A射頻測(cè)試儀LCR在1MHz～3GHz頻率范圍可以提供，可靠和快速測(cè)量，以改進(jìn)生產(chǎn)線上對(duì)電子元件進(jìn)行測(cè)試的質(zhì)量和生產(chǎn)率。與反向測(cè)量技術(shù)不同，采用直流電壓測(cè)量技術(shù)能在大的阻抗范圍進(jìn)行測(cè)量。

生產(chǎn)率高，質(zhì)量可靠

　　4287A適于在射頻范圍對(duì)電子元器件進(jìn)行測(cè)試。4287A的測(cè)量非?？?。此外，在小測(cè)試電流(100μA)優(yōu)良的測(cè)試重復(fù)性還可以顯著提高生產(chǎn)率，因?yàn)樗璧娜∑骄^程非常短。

系統(tǒng)組建簡(jiǎn)單

　　測(cè)試頭電纜(1m或利用延伸電纜時(shí)為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測(cè)件點(diǎn)測(cè)件接點(diǎn)附近，而不會(huì)使誤差有任何增大。內(nèi)置比較器功能，高速GPIB處理器接口可用來(lái)簡(jiǎn)化與元件固定裝置和PC機(jī)的組合。增強(qiáng)的比較器功能可以使復(fù)雜的倉(cāng)室適用于多頻或陣列芯片測(cè)試。

便于使用

　　8.4英寸彩色顯示器能清楚觀察測(cè)量設(shè)置和結(jié)果。新研制的用戶接口使操作過程更為方便且無(wú)差錯(cuò)。內(nèi)置統(tǒng)計(jì)分析功能可以提供監(jiān)視測(cè)試質(zhì)量和效率的過程?？蛇x用的LAN接口有助于統(tǒng)一進(jìn)行生產(chǎn)**。此外，若干APC-7SMD測(cè)量夾具可以與4287所提供的夾具架和APC-3.5轉(zhuǎn)APC-7適配器聯(lián)用，從而無(wú)需制作專用夾具。