汽車電子EMC測試：怎么快速定位引起發(fā)射超標(biāo)的干擾源？相信不少人是有疑問的，今天深圳市比創(chuàng)達(dá)電子科技有限公司就跟大家解答一下！

汽車電子零部件EMC測試超標(biāo)時(shí)有發(fā)生，發(fā)射測試的超標(biāo)經(jīng)常困擾著現(xiàn)場跟進(jìn)的工程師們，電磁發(fā)射看不見摸不著，怎么快速定位引起發(fā)射超標(biāo)的干擾源？

汽車電子零部件EMC發(fā)射測試包含CTE（電源線瞬態(tài)傳導(dǎo)發(fā)射），MFE（低頻磁場發(fā)射）CE（傳導(dǎo)發(fā)射）-AN（電壓法）和CP（電流法）以及RE（輻射發(fā)射）四項(xiàng)，

下面我們來一一解析：

汽車電子發(fā)射測試項(xiàng)目

1．CTE測試超標(biāo)

CTE測試的超標(biāo)一般由內(nèi)部大功率的磁性器件引起，如電機(jī)的線圈，電磁鐵的線圈、濾波電路中的大功率電感等，這些部件在關(guān)閉的瞬間會產(chǎn)生很強(qiáng)的瞬態(tài)脈沖。

CTE測試超標(biāo)數(shù)據(jù)

2．MFE測試超標(biāo)

MFE測試的超標(biāo)一般由內(nèi)部大功率的磁性器件引起，如電機(jī)的線圈，電磁鐵的線圈、新能源部件中的大功率感性部件等，這些部件在工作時(shí)會產(chǎn)生的低頻磁場干擾。

MFE測試超標(biāo)數(shù)據(jù)

3．CE測試超標(biāo)

CE測試中的超標(biāo)一般由開關(guān)電源和地處理不良引起，測試數(shù)據(jù)中的窄帶騷擾引起超標(biāo)一般為開關(guān)電源引起，寬帶騷擾超標(biāo)一般由地處理不良引起。

開關(guān)電源模塊引起的AN測試超標(biāo)-窄帶騷擾

地處理不良引起的CP測試超標(biāo)-寬帶騷擾

4．RE測試超標(biāo)

RE測試中的低頻超標(biāo)一般由開關(guān)電源和地處理不良引起，高頻超標(biāo)一半為內(nèi)部時(shí)鐘或晶振的處理不良引起倍頻超標(biāo)，這些信號會有很強(qiáng)的規(guī)律，很容易區(qū)分。

開關(guān)電源模塊引起的RE測試超標(biāo)

晶振/時(shí)鐘引起的RE測試超標(biāo)

地處理不良引起的RE測試超標(biāo)

綜上所述，相信通過本文的描述，各位對汽車電子EMC測試：怎么快速定位引起發(fā)射超標(biāo)的干擾源都有一定了解了吧，有疑問和有不懂的想了解可以隨時(shí)咨詢深圳比創(chuàng)達(dá)這邊。今天就先說到這，下次給各位講解些別的內(nèi)容，咱們下回見啦！也可以關(guān)注我司wx公眾平臺：深圳比創(chuàng)達(dá)EMC！

以上就是深圳市比創(chuàng)達(dá)電子科技有限公司小編給您們介紹的汽車電子EMC測試：怎么快速定位引起發(fā)射超標(biāo)的干擾源的內(nèi)容，希望大家看后有所幫助！

深圳市比創(chuàng)達(dá)電子科技有限公司成立于2012年，總部位于深圳市龍崗區(qū)，成立至今一直專注于EMC電磁兼容領(lǐng)域，致力于為客戶提供最高效最專業(yè)的EMC一站式解決方案，業(yè)務(wù)范圍覆蓋EMC元件的研發(fā)、生產(chǎn)、銷售及EMC設(shè)計(jì)和整改。