XRD全稱X射線衍射（X-RayDiffraction）,利用X射線在晶體中的衍射現(xiàn)象來獲得衍射后X射線信號特征，經(jīng)過處理得到衍射圖譜。利用譜圖信息不僅可以實現(xiàn)常規(guī)顯微鏡的確定物相，并擁有“透視眼”來看晶體內(nèi)部是否存在缺陷（位錯）和晶格缺陷等。前面了解了物相分析以及晶粒大小的計算，今天我們來了解下其他的應(yīng)用。

XRD的應(yīng)用之定量分析

????????對于多相樣品，當(dāng)通過定性相分析確定了樣品中所存在的物相后，就需要更深入的了解各相的相對百分含量。目前定量方法有：外標(biāo)法、內(nèi)標(biāo)法、標(biāo)準(zhǔn)加入法、RIR值法，其中RIR值法最為簡單方便。

????????RIR法定量是利用各種純物質(zhì)與α三氧化二鋁按照重量比1:1混合，測試二者強(qiáng)度的比值K，制作成一個數(shù)據(jù)庫，在日常多組分混合物定量分析時，將K值引入利用計算機(jī)擬合計算各物相組分含量。

????????需要說明的是此定量結(jié)果為半定量，當(dāng)然在具體樣品分析時，可以將ICP-OES、碳硫氧氮等元素分析方法結(jié)合起來，提高定量準(zhǔn)確性。若樣品又含有有機(jī)物，也可將FTIR、TGA、GC-MS結(jié)合起來進(jìn)行定量分析。

????????測試樣品：未知化合物成分分析、某化合物中不同物相定量分析（如二氧化鈦中的銳鈦礦物相和金紅石物相含量）、輔助失效分析、輔助礦物分析、輔助高分子材料定量分析。

XRD的應(yīng)用之殘余應(yīng)力測試

殘余應(yīng)力是材料及其制品內(nèi)部存在的一種內(nèi)應(yīng)力，是指產(chǎn)生應(yīng)力的各種因素撤銷時，由于不均勻的塑性變形和不均勻相變的影響，在物體內(nèi)部依然存在并自身保持平衡的應(yīng)力。通常殘余應(yīng)力可分為宏觀應(yīng)力、微觀應(yīng)力和點陣靜畸變應(yīng)力三種，分別稱為第一類應(yīng)力、第二類應(yīng)力和第三類應(yīng)力。應(yīng)力對材料的影響如下：

有利的應(yīng)力：材料表面淬火，噴丸，滲碳處理，強(qiáng)化產(chǎn)品表面，產(chǎn)生宏觀內(nèi)應(yīng)力可起到強(qiáng)化作用。

不利的應(yīng)力：由于工藝條件不當(dāng)，過度淬火產(chǎn)生過大的宏觀內(nèi)應(yīng)力，造成部件開裂，性能不穩(wěn)定，尺寸改變。

X射線衍射測試應(yīng)力方法又可分為：測定衍射線位移，可以測定第一類應(yīng)力；通過衍射譜線變寬，可以測定第二類應(yīng)力；根據(jù)衍射線的強(qiáng)度下降，可以測定第三類應(yīng)力。

目前實驗室殘余應(yīng)力測試采用sin2ψ法，測量同一晶面（hkl）在不同的ψ角度下的θψ。取其中ψ=0、0、15、30、45、45六點或及以上，測θψ，繪制2θψ~sin2ψ關(guān)系曲線，從其斜率得到Μ，再乘以應(yīng)力常數(shù)K，即可得到應(yīng)力值。

目前現(xiàn)有設(shè)備適宜檢測對象：形狀合適的有色金屬材料、盡可能無織構(gòu)、無擇優(yōu)取向。

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