科學(xué)指南針-SEM測(cè)試噴金與能譜
在做掃描電子顯微鏡(SEM)測(cè)試時(shí),科學(xué)指南針檢測(cè)平臺(tái)工作人員在與很多同學(xué)溝通中了解到,好多同學(xué)對(duì)sem測(cè)試不太了解,針對(duì)此,科學(xué)指南針檢測(cè)平臺(tái)團(tuán)隊(duì)組織相關(guān)同事對(duì)網(wǎng)上海量知識(shí)進(jìn)行整理,希望可以幫助到科研圈的伙伴們;
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SEM的噴金與能譜
@指南針鄭州侯老師
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終于,經(jīng)過了三天三夜的奮斗
小A終于做出了自己想要的材料
哈哈,這不,來我們指南針做表征了
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客人:
老師,我想做SEM測(cè)試,但是不是很懂可以給我講講嗎?
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侯老師:
指南針專業(yè)為同學(xué)服務(wù),當(dāng)然可以啦
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今天小侯老師就來給同學(xué)們
總結(jié)SEM測(cè)試二三事
敲黑板,劃重點(diǎn)啦
樣品情況要說明
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一要說清樣品形態(tài)
粉末樣品可直接粘到導(dǎo)電膠測(cè)試,
塊狀樣品對(duì)尺寸有要求,
最好直徑小于3cm,厚度小于1cm
測(cè)試哪一個(gè)面也要確認(rèn)好
液體樣品
可以滴到導(dǎo)電膠、硅片或鋁箔上測(cè)試
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二要確認(rèn)是否噴金
若是樣品導(dǎo)電性不好
會(huì)造成樣品表面多余電子
或游離粒子的累積不能及時(shí)導(dǎo)走
一定程度后就反復(fù)出現(xiàn)充電放電現(xiàn)象
最終影響電子信號(hào)的傳遞
造成圖像扭曲,變形、晃動(dòng)
所以導(dǎo)電性不好的樣品,還是建議噴金
從而增加樣品導(dǎo)電性,避免積電現(xiàn)象
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三要確認(rèn)樣品是否為磁性
含鐵、鈷、鎳均為磁性樣品,
吸鐵石能吸起來為強(qiáng)磁,反之為弱磁?
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最后確認(rèn)測(cè)試內(nèi)容
測(cè)試形貌前要確認(rèn)好放大倍數(shù)
最好附上參考圖片為拍攝做參考
能譜要確認(rèn)測(cè)試的元素
對(duì)拍攝能譜位置有要求的
別忘了標(biāo)明具體位置哦
我們拿到樣品會(huì)按照要求認(rèn)真拍攝
但是最終結(jié)果我們還是以樣品的實(shí)際形貌為準(zhǔn)
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客人:
那老師,我的樣品噴金會(huì)不會(huì)對(duì)我的形貌有影響呢?
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樣品表面噴金后
只是在其表面覆蓋了幾個(gè)到十幾個(gè)金原子層
厚度只有幾個(gè)納米到十幾個(gè)納米
對(duì)于看形貌來說,幾乎是沒有什么影響的
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客人:
老師能譜點(diǎn)掃是有什么元素都可以測(cè)試出來嗎?
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侯老師:
非也非也。
能譜點(diǎn)掃對(duì)輕質(zhì)元素探測(cè)能力有限,
而且探測(cè)深度只有幾微米,
測(cè)試元素含量屬于半定量測(cè)試。
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此外給大家普及下
能譜點(diǎn)掃,線掃,面掃(mapping)的區(qū)別
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點(diǎn)掃可以測(cè)試材料某一位置的元素種類和含量
面掃(mapping)的意義主要在于
了解材料元素的區(qū)域分布
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線掃的意義在于
了解材料一條線上各個(gè)點(diǎn)的元素含量的變化
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能譜點(diǎn)掃
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能譜線掃
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能譜面掃
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面掃和線掃就是
元素種類和含量的二維和一維顯示
從上面的圖更直觀的看到結(jié)果
應(yīng)該讓大家有了清楚的認(rèn)識(shí)
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有什么想了解的可以聯(lián)系我哦
祝您科研順利
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