一、用途：

? ? 電子元器件自由跌落試驗(yàn)機(jī)主要用于電池、手機(jī)、相機(jī)等小型電子產(chǎn)品及零部件之自由跌落測試。

二、標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)：UL 2054、UL1642、GB/T 18287-2000、SJ/T 11169-1998、SJ/T 11170-1998、YD 1268-2003、YD 1268.2-2003、GB 8897.4-2002、QB/T 2502-2000、QB/T 2947.3-2008、QC/T 743-2006、QC/T 744-2006、GB/T 18333.1-2001、HEV、EV等測試標(biāo)準(zhǔn)。

三、主要技術(shù)參數(shù)：

規(guī)格型號： HE-F-315S HE-F-320S

跌落高度： 300～1500mm 300～2000mm

整機(jī)尺寸： W700×D900×H1760mm W700×D900×H2260mm

機(jī)臺重量： 90Kg 110Kg

測試負(fù)載： 2Kg±100g

最大試件尺寸： L150×W200（mm）

高度顯示方式： 不銹鋼標(biāo)尺（最小指示1mm）或數(shù)顯式

試驗(yàn)方式： 自由跌落

升降方式： 電動升降

跌落驅(qū)動方式： 氣動跌落（氣源用戶自配）

電源功率： AC 單相 三線 220V 50HZ? 500W

跌落底板介質(zhì)： 鋼板（電木板、大理石板、壓克力板、水泥板供選擇）

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