????????紫外光電子能譜UPS（ultraviolet photo-electron spectroscopy）以紫外線為激發(fā)光源的光電子能譜。激發(fā)源的光子能量較低，該光子產(chǎn)生于激發(fā)原子或離子的退激，最常用的低能光子源為氦Ⅰ和氦Ⅱ。紫外光電子能譜主要用于考察氣相原子、分子以及吸附分子的價(jià)電子結(jié)構(gòu)。

????????在測(cè)試UPS的時(shí)候，對(duì)我們測(cè)試的樣品有哪些要求呢，其實(shí)UPS就是XPS上加了個(gè)元器件，樣品要求和XPS的差不多，

????????1、樣品最好是新鮮干燥的薄膜、塊體材料，表面平整無污染，尺寸必須大于5*5mm-小于10*10mm左右，厚度小于2mm。UPS的光斑大小3mmX3mm,如果因樣品尺寸不符合要求導(dǎo)致收集到樣品托或者其他位置的信息，需要同學(xué)承擔(dān)責(zé)任。

????????2、UPS測(cè)試表面1-2nm信息，表面吸附的碳氧會(huì)影響測(cè)試結(jié)果，建議暴露空氣中的樣品選擇用離子源清潔后測(cè)試，數(shù)據(jù)更加準(zhǔn)確。如果使用旋涂法制備樣品要求是基材材質(zhì)為ITO、FTO、單晶硅片等半導(dǎo)體材料，尺寸必須大于5*5mm-小于等于10*10mm左右，厚度小于2mm，涂完膜干燥后能看到薄薄一層樣品即可。

????????3、粉末樣品需要制樣，粉末顆粒直徑最好在1萬目以下，摸起來類似面粉，越細(xì)越好。使用壓片制樣或者旋涂法制樣，需要制備1cmX1cm的薄片，請(qǐng)?zhí)峁?ml體積的樣品量。若壓片樣品的性質(zhì)發(fā)生變化，不建議測(cè)試。

????????4、如果測(cè)試目的是功函數(shù)，要求樣品的導(dǎo)電性比較良好，電阻小于3千歐。

????????5、粉末樣品如非必要不建議測(cè)試。針對(duì)導(dǎo)體，電阻<3kΩ半導(dǎo)體才可以加偏壓得到二次電子截止邊計(jì)算功函數(shù)。3kΩ<電阻<10MΩ半導(dǎo)體看樣品有時(shí)有信號(hào)，有時(shí)沒有；3kΩ<電阻<10MΩ半導(dǎo)體和 絕緣體只可以開中和得到價(jià)帶譜的數(shù)據(jù)，分析價(jià)帶頂，價(jià)帶結(jié)構(gòu)一般需要模擬計(jì)算輔助分析。UPS數(shù)據(jù)分析不出來帶隙。

常見問題解答：

測(cè)試結(jié)果為什么跟文獻(xiàn)或者預(yù)期有偏差？

????????第一，由于UPS測(cè)量中光激發(fā)電子的動(dòng)能在0-20eV范圍，在此能量區(qū)間的電子逃逸深度較小，且隨能量急劇變化，材料表面的導(dǎo)電性、污染程度和粗糙度等因素會(huì)對(duì)測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生較大影響，輕則導(dǎo)致譜圖的峰位移動(dòng)和峰形變化，重則導(dǎo)致無信號(hào)。UPS適用于分析表面均勻潔凈的導(dǎo)體以及導(dǎo)電性較好的半導(dǎo)體薄膜材料。對(duì)于合成的粉末樣品，影響因素較多，UPS測(cè)試存在一定風(fēng)險(xiǎn) ； 第二，UPS測(cè)試過程中，紫外光的掃描范圍僅為樣品中的某個(gè)微小區(qū)域，如果樣品制備不均勻，或者測(cè)試區(qū)域恰好條件不佳，也可能會(huì)影響測(cè)試結(jié)果；

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