T8193 ICS TRIPLEX

使用半導(dǎo)體行業(yè)中使用的技術(shù)，許多結(jié)串聯(lián)連接以增加設(shè)備的輸出，但檢測(cè)器封裝是小型化和緊湊的。設(shè)備的尺寸和質(zhì)量對(duì)于確定其響應(yīng)時(shí)間和設(shè)備的其他特性很重要。該檢測(cè)器的響應(yīng)時(shí)間相對(duì)較慢，但具有直流穩(wěn)定性、無(wú)需偏置和響應(yīng)所有波長(zhǎng)的優(yōu)點(diǎn)。它是將光能轉(zhuǎn)換為電信號(hào)的最簡(jiǎn)單方法。

2. 熱敏電阻測(cè)輻射熱計(jì)：

當(dāng)入射紅外輻射與探測(cè)器相互作用時(shí)，測(cè)輻射熱計(jì)會(huì)改變電阻。這種熱敏半導(dǎo)體由燒結(jié)金屬氧化物材料制成。它具有很高的電阻溫度系數(shù)。

3. 熱釋電探測(cè)器：

熱電材料是晶體，例如鉭酸鋰，它表現(xiàn)出自發(fā)極化，或與溫度相關(guān)的集中電荷。當(dāng)紅外輻射撞擊探測(cè)器表面時(shí)，溫度的變化會(huì)導(dǎo)致電流流動(dòng)。該電流與輻射強(qiáng)度成正比。該檢測(cè)器表現(xiàn)出良好的靈敏度和對(duì)寬波長(zhǎng)范圍的良好響應(yīng)，并且不需要冷卻檢測(cè)器。它是氣體監(jiān)測(cè)儀最常用的檢測(cè)器。

光子探測(cè)器：

光子根據(jù)其波長(zhǎng)和強(qiáng)度擁有能量。光子檢測(cè)器檢測(cè)入射光子與半導(dǎo)體材料之間的量子相互作用。以足夠能量撞擊電子的光子可以將電子從非導(dǎo)電狀態(tài)提升到導(dǎo)電狀態(tài)。導(dǎo)帶中電子的存在會(huì)增加芯片的導(dǎo)電性，偏置電壓會(huì)將這種變化記錄為信號(hào)。電子的激發(fā)需要光子具有一定的能量。較短的波長(zhǎng)具有較高的頻率，因此具有更多的能量。該檢測(cè)器在有限的光譜區(qū)域中起作用，這取決于所使用的檢測(cè)器材料。通常，檢測(cè)器必須用熱電冷卻器甚至液氮冷卻才能正常工作。?

DS200DENQF1ADB

DS200DENQF1AEA

DS200DENQF1BCB

DS200DENQF1BDB

DS200DENQF1BDC

DS200DENQF1BDD

DS200DENQF1BDE

DS200DENQF1BDG

DS200DMCAG1A

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DS200DMCBF1CFA

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DS200DSPAF1ABE

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DS200DSPAF1ABG

DS200DSPAF1ABH

DS200DSPBF1ABD

DS200DSPBF1ABE

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