安捷倫4279A流量計(jì)

附加功能:

用于執(zhí)行晶片摻雜分布的C-V測(cè)量。

變?nèi)荻O管的C-V特性和分類。

射頻混頻器和開關(guān)二極管的電容測(cè)試。

為進(jìn)貨檢驗(yàn)施加DC偏壓測(cè)試電容器。

測(cè)量時(shí)間:10毫秒/20毫秒/30毫秒

測(cè)量精度:0.1%(20毫秒)

內(nèi)部DC偏置:0至+/-38V，0.1%

是德科技安捷倫HP 4279A 1 MHz C-V測(cè)量儀為測(cè)量半導(dǎo)體的電容與偏置電壓特性提供了提高質(zhì)量和通量的最佳解決方案。是德科技安捷倫HP 4279A測(cè)量范圍為0.00001pF至1280.00pF的電容，基本精度為0.1%，顯示分辨率為6位數(shù)，同時(shí)掃描DC偏置電壓。由于低偏置電壓不確定性，內(nèi)部可編程DC偏置掃描源在+/-38V范圍內(nèi)具有0.1%的電壓精度，可確保極低的測(cè)量誤差。這使得是德科技安捷倫HP 4279A非常適合變?nèi)荻O管、MOS二極管等的精確表征和測(cè)試。測(cè)量時(shí)間可從10ms、20ms和30ms/meas三種模式中選擇，以最大限度地提高生產(chǎn)率。是德科技安捷倫HP 4279A的快速測(cè)距和高速GP-IB數(shù)據(jù)傳輸能力減少了測(cè)試時(shí)間。自動(dòng)偏置極性控制功能允許為被測(cè)器件快速選擇正確極性的偏置電壓。這一新功能簡化了進(jìn)貨/出貨檢驗(yàn)中的樣品手動(dòng)測(cè)試，并為自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)提供了一種簡單的極性控制方法。