????????在測試過程中，鑠思百檢測小編整理了一些有關(guān)于XPS測試的常見問題，希望能幫到各位同學(xué)們！
????????（一）當(dāng)譜峰重疊時，要怎么處理？

????????答：(a)如果是特征譜峰和俄歇譜峰發(fā)生重疊，建議更換X射線能量；

????????(b)如果是比較元素含量，可以選擇測試元素的其他譜峰：

????????(c)進行解譜分析。

????????（二）每種元素的特征譜峰一定嗎？

????????答：除了H、H和少量放射性元素以外，元素周期表中的大多數(shù)元素都有相應(yīng)的XPS特征譜峰，而且XPS譜峰具有元素"指紋效應(yīng)”，可以用于鑒定元素的成分。同時原子外層電子結(jié)構(gòu)變化會導(dǎo)致XPS特征譜峰出現(xiàn)有規(guī)律的化學(xué)位移，所以XPS可以通過觀測化學(xué)位移，提供與化學(xué)態(tài)、分子結(jié)構(gòu)或官能團相關(guān)的信息。需要注意的是，物種中含有多種組分，可能會存在特征譜峰重疊的問題，所以在判斷元素成分和化學(xué)態(tài)的時候，除了關(guān)注特征譜峰外，也需要觀察相應(yīng)元素其他譜峰。

????????（三）為什么P、d、f軌道道都只會有兩個裂分峰？

????????答：這是由于電子自旋-軌道偶合效應(yīng)導(dǎo)致的，根據(jù)總量子數(shù)j（j=IL+SI,S=±1/2)而使電子能級出現(xiàn)裂分。例如對于s軌道，j=1/2,對于p軌道，j=1/2和j=3/2。需要注意的是，對于p、d、f軌道的兩個裂分峰的峰面積是存在固定的比例，如下圖所示：

????????（四）EDS探測深度比較深，不是表面的信息？

????????答：是的。這是由于兩個實驗技術(shù)的原理不同所導(dǎo)致的，如下圖所示：因為XPS檢測是出射的光電子，光電子的非彈性平均自由程較小，所以提供的是表面信息；而EDS檢測的是出射的特征X射線，而特征X射線的穿透能力可以達(dá)到微米，所以提供的是信息深度是微米級別的。這兩種實驗技術(shù)提供互補的信息，可以幫助我們深入了解樣品性質(zhì)。

免責(zé)聲明：部分文章整合自網(wǎng)絡(luò)，因內(nèi)容龐雜無法聯(lián)系到全部作者，如有侵權(quán)，請聯(lián)系刪除，我們會在第一時間予以答復(fù)，萬分感謝 。