GJB548A-96微電子器件試驗方法和程序，自由跌落試驗測試可靠性試驗跌落測試報告跌落試驗標準，可靠性試驗正弦振動試驗正弦定頻振動試驗

本標準規(guī)定了微電子器件統(tǒng)一的試驗方法，控制和程序；包括為確定對軍用及空間應用的自然因素和條件的抗損壞能力而進行的基本環(huán)境試驗，物理和電試驗，設計封裝和材料的限制，標準的一半要求，工作質量和人員培訓程序，以及為保證這些器件滿足預定用途的質量與可靠性水平而必需采取的其他控制和限制。

本標準適用于微電子器件。

本標準所規(guī)定的微電子器件的環(huán)境試驗，物理試驗及電試驗方法，在適當時，也適用于已批準的軍用規(guī)范所未包括的微電子器件。

為保證按本標準篩選的相同等級的所有器件具有一致的質量和可靠性性，提供了相同水平的物理試驗，電試驗和環(huán)境實驗，生產控制，工作質量以及各種材料。

微電子器件包含的試驗有：低氣壓試驗，浸液試驗，絕緣電阻，耐濕熱試驗，穩(wěn)態(tài)壽命試驗，模擬壽命試驗，鹽霧腐蝕試驗，溫度循環(huán)試驗，熱沖擊試驗，密封試驗等。

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