2.1SSD算法理論
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02:47
?Faster RCNN的流程
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03:46
?Faster RCNN為什么對(duì)小目標(biāo)檢測(cè)效果差？
只在一個(gè)特征圖上進(jìn)行預(yù)測(cè)
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04:46
?檢測(cè)速度慢的原因？
兩次預(yù)測(cè)
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05:16
?SSD網(wǎng)絡(luò)的框架
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05:59
?VGG16模型和SSD的對(duì)照參考
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08:38
?預(yù)測(cè)特征層1、2、3、4、5、6
在6個(gè)特征層上預(yù)測(cè)不同大小的目標(biāo)
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11:27
?示例
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13:51
?default box的scale和aspect設(shè)定
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15:32
?比例的設(shè)定
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18:56
?理解default box
如果將6個(gè)feature maps上每個(gè)位置上的default box繪制到圖片上，可以覆蓋每個(gè)目標(biāo)
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21:24
?預(yù)測(cè)器實(shí)現(xiàn)
如何在6個(gè)特征圖上預(yù)測(cè)
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23:11
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25:45
?SSD訓(xùn)練時(shí)正負(fù)樣本的選取
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28:01
?計(jì)算模型損失
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28:27
?類別損失
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30:37
?定位損失
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32:60
?回顧SSD框架
標(biāo)簽：
