1、按照 NB/TA7013.3-2015標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，若用2.5P20Z 探頭檢測(cè)厚度為 200mm的鍛件時(shí)，僅在30mm深度發(fā)現(xiàn)一缺陷，BG/BF=4dB，則該鍛件等級(jí)評(píng)為|級(jí)。 對(duì) 錯(cuò)√ 2、按照 NB/T 47013.3-2015 標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，超聲檢測(cè)某低合金鋼鍛件，若已知無缺陷處底波嘉試波高為 40dB，缺陷處底波波高為30dB，則該鍛件應(yīng)判為( )。 迤誠信和 A：I級(jí) B:II級(jí)√ C:Ill級(jí) D:IV級(jí) 3、按照 NB/T 47013.3-2015 標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，對(duì)奧氏體鋼鍛件超聲波檢測(cè)時(shí)，以下哪種情況需作缺陷記錄？（ ） A：由于缺陷的存在，使基準(zhǔn)靈敏度下的底波降低為滿刻度的 25%以下的部位 B：遲到波 C：大于基準(zhǔn)線高度 25%的信號(hào) D：密集草狀波信號(hào) 4、按照 NB/T 47013.3-2015 標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，對(duì)于非鐵素體類細(xì)晶各向同性和低聲衰減金屬材料制承壓設(shè)備焊接接頭，可參照鐵素體鋼制承壓設(shè)備焊接接頭的超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量分級(jí)進(jìn)行，但應(yīng)考慮材料聲學(xué)特性的變化。 對(duì)√ 錯(cuò) 5、NB/T 47013.3-2015 標(biāo)準(zhǔn)不適用于下列哪種工件的超聲檢測(cè)（ ）。 A：不銹鋼堆焊層 B：鋁制壓力容器的對(duì)接焊縫 C：壓力容器用鑄鋼件焊縫√ D：材料衰減系數(shù)超過 4dB/m 的鍛件 6、按照 NB/T 47013.1-2015 標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，以下關(guān)于超聲檢測(cè)的敘述，錯(cuò)誤的是（ ）。 A：超聲波穿透能力強(qiáng)，可用于大厚度(大于 100mm)原材料和焊接接頭的檢測(cè) B：能確定缺陷的深度和相對(duì)尺寸 C：能確定缺陷的反射波幅大小 D：能確定缺陷的類型和性質(zhì)√ 7、按照 NB/T 47013.3-2015 標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，對(duì)板材超聲檢測(cè)時(shí)，如能確定板材底面回波與不同深度Φ5平底孔反射波幅度之間的關(guān)系，則可采用板材無缺陷完好部位第一次底波來調(diào)節(jié)基準(zhǔn)靈敏度。（ ） 對(duì)√ 錯(cuò) 8、按照 NB/T 47013.3-2015 標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，雙晶直探頭檢測(cè)時(shí)，I 級(jí)板材最大允許存在的單個(gè)缺陷指示面積應(yīng)小于（ ）。 A：100mm2 B：120mm2 C：150mm2 D：50mm2√ 9、按照 GB150-2011《壓力容器》規(guī)定，下列哪些 A、B 類焊接接頭，需進(jìn)行 100%超聲或射線檢測(cè)（ ）。 A：材質(zhì) Q370R，焊接接頭厚度 25mm 的封頭拼接接頭(焊接接頭系數(shù) 0.9) B：材質(zhì) 15CrMoR，焊接接頭厚度 15mm 的嵌入式接管與筒體對(duì)接接頭(接管公稱直徑 150mm) C：材質(zhì) 16MnR，焊接接頭厚度 30mm 的筒體縱焊縫(焊接接頭系數(shù) 0.9) D：材質(zhì) 1Gr18Ni9，焊接接頭厚度大于 30mm 的筒體環(huán)焊縫(焊接接頭系數(shù) 0.9)√ 10、按照 GB12337-1998《鋼制球形貯罐》規(guī)定，球殼用 16MnR 鋼板，厚度大于 30mm 時(shí)， 應(yīng) 100％進(jìn)行超聲檢測(cè)，按 JB/T4730 質(zhì)量等級(jí)應(yīng)不低于Ⅱ級(jí)。（ ） 對(duì) 錯(cuò)√ 11、按照 NB/T 47013.3-2015 標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，對(duì)母材厚度為 10mm 的壓力容器對(duì)接焊縫進(jìn)行超聲檢測(cè)，當(dāng)焊縫寬度為 20mm，檢測(cè)區(qū)的寬度為（ ）。 A：20mm B：30mm C：40mm√ D：50mm 12、按照 NB/T 47013.3-2015 標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，GS-4 試塊適用于工件檢測(cè)面曲率半徑的范圍為（ ）。 A：16mm～24mm B：24mm～36mm C：36mm～55mm D：55mm～79.5mm√ 13、按照 NB/T 47013.3-2015 標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，以下有關(guān)堆焊層對(duì)比試塊用途的敘述，錯(cuò)誤的是（ ） A：T1 型試塊用于雙晶直探頭檢測(cè)時(shí)基準(zhǔn)靈敏度的校準(zhǔn) B：T2 型試塊用于縱波雙晶斜探頭檢測(cè)時(shí)基準(zhǔn)靈敏度的校準(zhǔn) C：T1 型試塊用于縱波雙晶斜探頭檢測(cè)時(shí)基準(zhǔn)靈敏度的校準(zhǔn)√ D：T3 型試塊用于單晶直探頭和縱波斜探頭檢測(cè)時(shí)基準(zhǔn)靈敏度的校準(zhǔn) 14、按照 NB/T 47013.3-2015 標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，鋼制對(duì)接接頭超聲檢測(cè)在條件允許時(shí)，應(yīng)盡量采用較大 K 值探頭，以下關(guān)于其原因的敘述，錯(cuò)誤的是（ ）。 A： 焊縫一般存在余高，采用較大 K 值探頭，可減少直射波束掃查盲區(qū) B： 采用較大 K 值探頭，可使用直射波束掃查整個(gè)焊縫根部區(qū)域 C： 焊縫中裂紋類面狀缺陷大多接近垂直于工件表面，采用較大 K 值探頭，有利于缺陷檢出 D： 采用較大 K 值探頭，可減少一次反射波束掃查盲區(qū)√ 15、按照 NB/T 47013.3-2015 標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，對(duì)焊接接頭進(jìn)行超聲檢測(cè)時(shí)，若檢測(cè)橫向缺陷，應(yīng)將各線靈敏度均提高（ ）。 A：3dB B：6dB√ C：8dB D：12dB 16、按照 NB/T 47013.3-2015 標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，對(duì)在用承壓設(shè)備焊接接頭進(jìn)行超聲檢測(cè)，發(fā)現(xiàn)缺陷回波時(shí)，應(yīng)對(duì)位于（ ）的缺陷進(jìn)行位置、波幅、埋藏深度、指示長(zhǎng)度等參數(shù)進(jìn)行測(cè)定。 A：評(píng)定線以上 B：評(píng)定線或評(píng)定線以上√ C：當(dāng)量線或當(dāng)量線以上 D：判廢線或判廢線以上 17、在金屬材料的拉伸試驗(yàn)過程中，下列哪一個(gè)階段材料所受應(yīng)力不再增加而應(yīng)變卻在繼續(xù)增加：（ ） A：彈性階段 B：屈服階段√ C：強(qiáng)化階段 D：頸縮階段 18、低碳鋼和低合金鋼組織的晶體結(jié)構(gòu)屬于體心立方晶格，而奧氏體不銹鋼組織的晶體結(jié)構(gòu)屬于面心立方晶格。（ ） 對(duì)√ 錯(cuò) 19、硬度是表示材料抵抗局部塑性變形或表面損傷的能力，是衡量金屬軟硬的力學(xué)性能指標(biāo)。（ ） 對(duì)√ 錯(cuò) 20、退火的目的主要是：（ ）。 A：改善機(jī)械性能 B：消除熱加工時(shí)產(chǎn)生的殘余內(nèi)應(yīng)力，以穩(wěn)定工件尺寸并防止變形和開裂 C：細(xì)化晶粒，使金屬的顯微組織均勻化，改善組織，提高力學(xué)性能 D：以上都是√ 21、金屬材料強(qiáng)度越高，塑性變形能力越高。（ ） 對(duì) 錯(cuò)√ 22、鋼制壓力容器的消除應(yīng)力退火時(shí)，鋼中的組織會(huì)發(fā)生變化。（ ） 對(duì) 錯(cuò)√ 23、衡量材料抵抗沖擊載荷作用時(shí)斷裂的力學(xué)性能指標(biāo)是：（ ） A：強(qiáng)度 B：塑性 C：韌性√ D：硬度 24、對(duì)承壓類特種設(shè)備焊后進(jìn)行消除應(yīng)力熱處理會(huì)降低鋼的（ ）。 A : 沖擊韌性 B : 硬度√ C : 塑性 D : 耐磨性 25、以下哪一種焊接方法的熱影響區(qū)最窄：（ ） A：手工電弧焊 B：埋弧自動(dòng)焊√ C：電渣焊 D：氣焊 26、金屬材料的沖擊韌度不僅與試樣的尺寸和缺口形式有關(guān)，而且與試驗(yàn)溫度有關(guān)。（ ） 對(duì)√ 錯(cuò) 27、氣體保護(hù)焊是指在空氣保護(hù)的條件下進(jìn)行焊接的一種方法。（ ） 對(duì) 錯(cuò)√ 28、用 2.5P16Z 直探頭檢測(cè)厚度為 600mm 的餅形鍛件(CL=5900m/s)，測(cè)得一次底波與二次底波的分貝差為 18dB，在 400mm 處發(fā)現(xiàn)一個(gè)缺陷，其波幅比底波低 8dB，該缺陷的當(dāng)量平底孔尺寸為（ ）。 A : 9.2mm B : 7.1mm C : 12.6mm D : 10.0 mm√ 29、鋼制壓力容器焊后熱處理的主要目的是提高焊縫的強(qiáng)度。（ ） 對(duì) 錯(cuò)√ 30、去除焊縫余高可以提高焊接接頭的疲勞強(qiáng)度。（ ） 對(duì)√ 錯(cuò) 31、根據(jù)無損檢測(cè)的目的應(yīng)正確選擇無損檢測(cè)實(shí)施時(shí)機(jī)。超聲檢測(cè)一般應(yīng)安排在鍛件精加工之前進(jìn)行。（ ） 對(duì)√ 錯(cuò) 32、當(dāng)外力作用除去后，固體不能完全消失的變形稱為（）。* A : 彈性 B : 塑性 C : 彈性變形 D : 塑性變形√ 33、焊條藥皮的主要作用是（ ）。 A : 穩(wěn)定電弧、保護(hù)熔池√ B : 絕緣 C : 防腐蝕 D : 以上都對(duì) 34、焊條使用前進(jìn)行烘干，主要目的是：（ ） A：保證焊縫的抗拉強(qiáng)度 B：去掉藥皮中的水分√ C：降低藥皮中的含氧量 D：改善脫渣性能 35、常見鍋爐壓力容器用碳鋼的常溫組織是：（ ） A : 鐵素體＋滲碳體 B : 鐵素體＋珠光體√ C : 珠光體＋滲碳體 D : 馬氏體＋鐵素體 36、根據(jù)無損檢測(cè)的目的應(yīng)正確選擇無損檢測(cè)實(shí)施時(shí)機(jī)。超聲檢測(cè)一般應(yīng)安排在鍛件精加工之前進(jìn)行。 對(duì)√ 錯(cuò) 37、按缺欠性質(zhì)分類未焊透和未焊滿屬于同一類缺陷。* 對(duì) 錯(cuò)√ 38、鋼焊接接頭具有的特點(diǎn)是：（ ） A : 組織性能不均勻 B : 存在應(yīng)力集中和殘余應(yīng)力 C : 容易產(chǎn)生各種焊接缺陷 D : 以上都是√ 39、承壓類特種設(shè)備常用低碳鋼，包括低合金結(jié)構(gòu)鋼、低溫鋼和耐熱鋼。* 對(duì)√ 錯(cuò) 40、對(duì)于焊接接頭中的一個(gè)埋藏缺陷，如果超聲檢測(cè)時(shí)，發(fā)現(xiàn)在兩個(gè)檢測(cè)面或者用兩種頻率探頭測(cè)得的結(jié)果有差異時(shí)，以下敘述正確的是（ ）。 A : 以頻率高的探頭測(cè)定的結(jié)果為準(zhǔn) B : 以頻率低的探頭測(cè)定的結(jié)果為準(zhǔn) C : 以評(píng)定級(jí)別嚴(yán)重的結(jié)果為準(zhǔn)√ D : 兩組數(shù)據(jù)分別記錄和處理 41、探頭晶片面積一定時(shí)，鋼中相同頻率的縱波直探頭比 K1 橫波斜探頭的近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度小。 對(duì)√ 錯(cuò) 42、已知超聲波在鋼中 CL=5950m/s，用 5P20Z 探頭檢測(cè)厚為 100mm 的鋼鍛件時(shí)，超聲波發(fā)射聲場(chǎng)的未擴(kuò)散區(qū)長(zhǎng)度 b 是多少？（ ） A : 1.19mm B : 84.03mm C : 4.17mm D : 137.81mm√ 43、一般而言自發(fā)自收探頭，始脈沖寬盲區(qū)大，而雙晶探頭盲區(qū)較小。（ ） 對(duì)√ 錯(cuò) 44、下面哪種參考反射體與入射聲束角度無關(guān)：（ ） A : CBⅡ中的平底孔 B : 鋼管檢測(cè)試塊中的矩形槽 C : GS 試塊中的橫通孔√ D : 鋼板橫波檢測(cè)試塊中的 V 型槽 45、斜探頭的入射點(diǎn)是指其主聲束軸線與檢測(cè)面的交點(diǎn)。（ ） 對(duì)√ 錯(cuò) 46、用斜探頭檢測(cè)厚焊縫時(shí)，為提高缺陷定位精度可采取措施是：（ ） A : 提高探頭聲束指向性 B : 校準(zhǔn)儀器掃描線性 C : 提高探頭前沿長(zhǎng)度 D : 以上都對(duì)√ 47、采用橫波斜探頭直接接觸法檢測(cè)鋼板焊縫時(shí)，其橫波在（）產(chǎn)生。* A : 有機(jī)玻璃楔塊中 B : 晶片中 C : 有機(jī)玻璃與耦合層界面上 D : 耦合層與鋼板界面上√ 48、橫波聲場(chǎng)中假想聲源的面積大于實(shí)際聲源面積。（ ） 對(duì) 錯(cuò)√ 49、當(dāng)超聲縱波由有機(jī)玻璃以入射角 30?射向鋼界面時(shí)，可能存在（ ） A : 只有折射橫波√ B : 只有折射縱波 C : 折射縱波、橫波共存 D : 既無折射縱波又無折射橫波 50、在超聲檢測(cè)中，同聲程理想大平面與平底孔回波聲壓的比值隨頻率的提高而減小。(對(duì))* 焊縫斜角探傷時(shí)橫波聲場(chǎng)中假想聲源的面積小于實(shí)際聲源面積。(對(duì)) 51、直探頭置于非重皮側(cè)的鋼板表面檢測(cè)，不容易發(fā)現(xiàn)鋼板中的重皮缺陷。* 對(duì)√ 錯(cuò) 52、調(diào)節(jié)鍛件探傷靈敏度的底波法，其含義是鍛件掃查過程中依據(jù)底波變化情況評(píng)定鍛件質(zhì)量等級(jí)。（ ） 對(duì) 錯(cuò)√ 53、下列關(guān)于探頭頻率的敘述中，不正確的是（ ）。 A : 高頻率探頭有利于發(fā)現(xiàn)更小的缺陷 B : 高頻率探頭有利于區(qū)分相鄰的缺陷 C : 高頻率探頭近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度大，對(duì)探傷不利 D : 高頻率探頭擴(kuò)散衰減增加，聲波穿透力下降√ 54、當(dāng)聲束指向與光滑平面缺陷不垂直時(shí)，兩者夾角越大，其反射回波強(qiáng)度越（ ） A : 大 B : 小√ C : 影響不大 D : 以上均錯(cuò) 55、超聲波在介質(zhì)中的傳播速度即為質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)速度。（ ） 對(duì) 錯(cuò)√ 56、實(shí)心軸類工件用縱波直探頭外圓超聲檢測(cè)時(shí)，調(diào)整檢測(cè)靈敏度也可以用同聲程的大平底試塊。 對(duì)√ 錯(cuò) 57、超聲波探傷儀的脈沖重復(fù)頻率越高,探傷頻率也越高。 對(duì) 錯(cuò)√ 58、超聲檢測(cè)中，半波高度法用來測(cè)量大于聲束截面缺陷的尺寸誤差較小。 對(duì)√ 錯(cuò) 59、無法獲得工件底波、厚度尺寸小于 3N 的鍛件超聲檢測(cè)時(shí)常用試塊法校準(zhǔn)靈敏度。 對(duì)√ 錯(cuò) 60、不等厚板材對(duì)接焊縫超聲檢測(cè)時(shí)，缺陷評(píng)定以厚板側(cè)母材厚度為準(zhǔn)。 對(duì) 錯(cuò)√ 61、當(dāng)超聲縱波由水垂直射向鋼時(shí)，其透射系數(shù)大于 1，這意味著：（ ） A : 能量守恒定律在這里不起作用 B : 透射能量大于入射能量 C : A 與 B 都對(duì) D : 以上都不對(duì)√ 62、縱波直探頭的近場(chǎng)長(zhǎng)度不取決于下述何種因素（ ） A : 換能器的直徑 B : 換能器的頻率 C : 聲波在試件中的傳播速度 D : 耦合劑的聲阻抗√ 63、下列關(guān)于耦合的敘述中不正確的是（ ）。 A : 工件表面粗糙，反射回波低 B : 對(duì)同一探測(cè)面，耦合劑聲阻抗大，反射回波低√ C : 探頭表面為平面時(shí)：工件表面若為平面則耦合效果最好；凸曲面次之；凹曲面最差 D : 當(dāng)耦合層厚度小于 時(shí)，耦合層厚度越薄，反射回波越高 64、以下幾種試塊中，能用于測(cè)定橫波斜探頭分辨力的是（ ）。 A : ⅡW B : ⅡW2 C : CSK-ⅠA√ D : CS-Ⅰ 65、焊縫超聲檢測(cè)時(shí)應(yīng)正確調(diào)整儀器掃描比例，其目的是（ ）。 A : 對(duì)缺陷準(zhǔn)確定位 B : 判斷缺陷波幅 C : 判定結(jié)構(gòu)反射波和缺陷波 D : 以上 A 和 C√ 66、A 型掃描顯示中，熒光屏縱軸表示（ ）。 A : 超聲回波的幅度大小√ B : 缺陷的位置 C : 被探材料的厚度 D : 超聲傳播時(shí)間 67、檢測(cè)板厚 T=22mm 的鋼板對(duì)接焊縫，上焊縫寬度為 30mm，下焊縫寬度為 20mm。選用K=（ ），前沿距離 L0=20mm 的探頭。用一、二次波法能夠掃查到整個(gè)焊縫截面。 A : 1 B : 1.5 C : 2 D : 3 68、下列敘述中正確的是（ ）。 A : 為減少側(cè)壁對(duì)定量的影響宜選用高頻率大尺寸晶片的探頭 B : 用橫波斜探頭探測(cè)焊縫，熒光屏上觀察到的缺陷回波均是入射波與缺陷垂直時(shí)的反射 C : 頻率偏差影響用底波調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度√ D : 金屬材料中非金屬夾雜物的厚度越大，其回波也越大 69、下列敘述中不正確的是（ ）。 A : 草狀回波多出現(xiàn)在粗晶材料的檢測(cè)中 B : 用手指沾油觸摸法可鑒別工件輪廓回波 C : 通過計(jì)算相應(yīng)回波的聲程可分析判別示波屏上的非缺陷回波 D : 遲到波位于第一次底波之后；三角反射波位于第一次底波之前√ 70、用底波調(diào)節(jié)法校準(zhǔn)鍛件檢測(cè)靈敏度時(shí),下面有關(guān)缺陷定量的敘述中哪點(diǎn)是錯(cuò)誤的。（ ） A : 可不考慮檢測(cè)耦合差補(bǔ)償 B : 缺陷定量可采用計(jì)算法或 AVG 曲線法 C : 可不使用試塊 D : 缺陷定量可不考慮衰減差修√ 71、焊縫斜角探傷時(shí)，最容易漏掉：（ ） A : 與表面垂直的裂紋 B : 方向無規(guī)律的夾渣 C : 根部未焊透 D : 與表面平行的未熔合√ 72、鍛件探傷時(shí)，如果用試塊比較法對(duì)缺陷定量，對(duì)于表面粗糙的缺陷，缺陷實(shí)際尺寸會(huì)：（ ） A : 小于當(dāng)量尺寸 B : 等于當(dāng)量尺寸 C : 大于當(dāng)量尺寸√ D : 以上都可能 73、介質(zhì)能傳播橫波和表面波的必要條件是介質(zhì)具有切變彈性。（ ） 對(duì)√ 錯(cuò) 74、超聲波垂直入射到平界面時(shí)，聲壓反射率與聲壓透過率之和等于 1。（ ） 對(duì) 錯(cuò)√ 75、超聲波垂直入射到異質(zhì)界面時(shí)，聲壓往復(fù)透射率與聲強(qiáng)透射率在數(shù)值上相等。（ ） 對(duì)√ 錯(cuò) 76、檢測(cè)相同的材料，超聲波頻率高則衰減小，檢測(cè)距離大。（ ） 對(duì) 錯(cuò)√ 77、對(duì)同一個(gè)直探頭來說，在鋼中的近場(chǎng)長(zhǎng)度比在水中的近場(chǎng)長(zhǎng)度大。（ ） 對(duì) 錯(cuò)√ 78、超聲波聲場(chǎng)的近場(chǎng)長(zhǎng)度愈短，聲束指向性愈好。（ ） 對(duì) 錯(cuò)√ 79、用斜探頭周向檢測(cè) Ф320mm×20mm 的鋼管，將探頭楔塊底面磨成與鋼管曲面相吻合后，探測(cè)鋼管內(nèi)表面校準(zhǔn)槽，測(cè)得一次波聲程為 30mm。修磨后探頭折射角為（ ）。 A : 29.0° B : 44.1° C : 63.0° D : 82.9° 80、超聲檢測(cè)采用低頻是為了改善聲束指向性，提高檢測(cè)靈敏度。（ ） 對(duì) 錯(cuò)√ 81、提高超聲波頻率，可改善聲束指向性，提高檢測(cè)靈敏度。（ ） 對(duì)√ 錯(cuò) 82、用底波法校準(zhǔn)鍛件檢測(cè)靈敏度時(shí)，不用考慮表面耦合補(bǔ)償。（ ） 對(duì)√ 錯(cuò) 83、超聲檢測(cè)中，6dB 法測(cè)定的是缺陷的實(shí)際尺寸。（ ） 對(duì) 錯(cuò)√ 84、已知有機(jī)玻璃中縱波聲速 CL=2730m/s，鋼中縱波聲速 CL=5900m/s，橫波聲速CS=3230m/s?？v波傾斜入射到有機(jī)玻璃/鋼界面時(shí)的第 I 臨界角為（ ）。 A : 57.7° B : 27.6°√ C : 33.2° D : 條件不夠，無法計(jì)算 85、鍛件超聲檢測(cè)時(shí)，如缺陷被判定為白點(diǎn)，則應(yīng)按密集缺陷評(píng)定鍛件的等級(jí)。（ ） 對(duì) 錯(cuò)√ 86、對(duì)焊縫中與聲束成一定角度的缺陷，檢測(cè)頻率較高時(shí)，缺陷回波不易被探頭接受。(錯(cuò)) 超聲探頭晶片尺寸不變而頻率提高時(shí)( )。 A : 橫向分辨力降低 B : 聲束擴(kuò)散角增大 C : 近場(chǎng)長(zhǎng)度增大√ D : 指向性變差 87、在超聲檢測(cè)條件相同的情況下，3 倍近場(chǎng)區(qū)外孔徑比為 4 的兩個(gè)球形人工缺陷，其反射波高相差多少 dB ？（ ） A : 6dB B : 12dB√ C : 18dB D : 24dB 88、表面波檢測(cè)時(shí)，儀器熒光屏上缺陷波的水平刻度值通常代表：（ ） A : 缺陷深度 B : 缺陷至探頭前沿距離√ C : 缺陷聲程 D : 以上都可以 89、關(guān)于檢測(cè)厚板焊接對(duì)接接頭，不采用大 K 值探頭的原因，下列敘述錯(cuò)誤的是：（ ） A : 減少衰減 B : 保證檢測(cè)靈敏度 C : 縮短聲程 D : 避免近場(chǎng)區(qū)檢測(cè)√ 90、超聲檢測(cè)分散的氣孔時(shí)，反射波較低，這是因?yàn)椋海? ） A : 氣孔表面通常是光滑的 B : 氣孔內(nèi)充滿了空氣 C : 氣孔通常是或近似圓球形，其反射波是發(fā)散的√ D : 以上都不是 91、鋼板超聲檢測(cè)中,測(cè)量缺陷邊界的方法是：（ ） A : 6dB 法 B : 12dB 法 C : 20dB 法 D : 上述都不對(duì)√ 92、斜探頭沿圓柱曲面外壁周向檢測(cè)時(shí)，如儀器用標(biāo)準(zhǔn)試塊按深度 1：1 調(diào)節(jié)掃描線性， 下面哪種說法是正確的？（ ） A : 缺陷實(shí)際徑向深度總是小于顯示值√ B : 顯示的水平距離總是大于實(shí)際弧長(zhǎng) C : 顯示值與實(shí)際值之差，隨顯示值的增加而減少 D : 以上都是 93、方形鍛件垂直法檢測(cè)時(shí),熒光屏上出現(xiàn)一個(gè)隨探頭移動(dòng)而游動(dòng)的缺陷回波,其波幅較低但底波降低很大,該缺陷的取向可能是（ ）。 A : 平行且靠近檢測(cè)面 B : 與聲束方向平行 C : 與檢測(cè)面成較大角度√ D : 平行且靠近底面 94、對(duì)接焊縫超聲檢測(cè)時(shí)，探頭平行于焊縫方向掃查目的是檢測(cè)：（ ）。 A : 橫向裂縫√ B : 夾渣 C : 縱向缺陷 D : 以上都是 95、用折射角 71°的探頭檢測(cè)板厚為 25mm 的對(duì)接焊縫，熒光屏上最適當(dāng)?shù)穆暢虦y(cè)定范圍是：（ ） A : 100mm B : 125mm C : 200mm√ D : 150mm 96、根據(jù)公式：C=λ?f 可知聲速 C 與頻率 f 成正比，因此同一波型的超聲波在高頻時(shí)傳播速度比低頻時(shí)大。（ ） 對(duì) 錯(cuò)√ 97、當(dāng)其他條件一定時(shí)，若超聲波頻率增加，則近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度和半擴(kuò)散角都增加。（ ） 對(duì) 錯(cuò)√ 98、200mm 處Φ4 長(zhǎng)橫孔的回波聲壓比 100mm 處Φ2 長(zhǎng)橫孔的回波聲壓高。（ ） 對(duì) 錯(cuò)√ 99、面積相同、頻率相同的圓晶片和方晶片其聲束指向角亦相同。（ ） 對(duì) 錯(cuò)√ 100、因?yàn)橛袡C(jī)玻璃/鋁界面的第一臨界角大于有機(jī)玻璃/鋼界面第一臨界角，所以前者的第二臨界角也大于后者。（ ） 對(duì) 錯(cuò)√ 101、雙晶探頭因?yàn)榉直媪?，所以主要用于薄板的檢測(cè)。（ ） 對(duì) 錯(cuò)√ 102、探頭發(fā)射的超聲波，總是在聲束軸線上的聲壓為最高。（ ） 對(duì) 錯(cuò)√ 103、厚鋼板直探頭超聲檢測(cè)中，若出現(xiàn)缺陷多次反射波，且底波明顯下降或消失，則可判定缺陷的尺寸一定較大。（ ） 對(duì)√ 錯(cuò) 104、鍛件超聲檢測(cè)時(shí)，如果底波消失，就可判定該鍛件中存在較嚴(yán)重的缺陷。（ ） 對(duì) 錯(cuò)√ 105、超聲檢測(cè)單面焊根部未焊透時(shí)，用 K1 探頭比用 K2 好，主要原因是因?yàn)?K1 探頭所產(chǎn)生的聲束軸線正好以 45°入射至未焊透的根部，形成強(qiáng)烈的端角反射。（ ） 對(duì)√ 錯(cuò) 106、在同一界面上，聲強(qiáng)透過率 T 與聲壓反射率 r 之間的關(guān)系是（ ）。 A : T=r2 B : T=1- r2√ C : T=l+r D : T=1-r 107、鍛件超聲檢測(cè)中，如需要計(jì)算缺陷當(dāng)量，當(dāng)材質(zhì)衰減系數(shù)超過（ ）時(shí)，應(yīng)考慮修正。 A : 4dB/mm B : 4dB/m√ C : 0.4dB/mm D : 0.4dB/m 108、晶片直徑 D=20mm 的直探頭，在鋼中測(cè)得其零幅射角為 10°，該探頭的頻率約為：（ ） A : 2MHz√ B : 2.5MHz C : 4MHz D : 5MHz 109、當(dāng) 聲程 X ≥ 3 N 時(shí)，在檢測(cè)條件相同的情況下，面積比為 2 的兩個(gè)平底孔， 其反射波高相差（ ）。 A : 6 dB√ B : 12 dB C : 9 dB D : 3 dB 110、直徑Ф14mm，2.5MHz 直探頭在鋼中的近場(chǎng)長(zhǎng)度是：（ ）。 A : 27mm B : 21mm√ C : 38mm D : 以上都不對(duì) 111、超聲檢測(cè)用通用 AVG 曲線的通用性體現(xiàn)在可適用不同頻率、不同晶片尺寸的同型探頭。（ ） 對(duì)√ 錯(cuò) 112、采用半圓試塊調(diào)節(jié)探傷掃描比例時(shí)，如圓弧的第一次反射波對(duì)準(zhǔn)時(shí)基刻度 2，則以后各次反射波對(duì)應(yīng)的刻度為（ ）。 A : 4，6，8，10 B : 3，5，7，9 C : 6，10√ D : 以上都不對(duì) 113、對(duì)工件中缺陷測(cè)長(zhǎng)時(shí)（ ）。 A : 缺陷的指示長(zhǎng)度往往小于缺陷的實(shí)際長(zhǎng)度√ B : 6dB 法不同于半波高度法 C : 用絕對(duì)靈敏度測(cè)長(zhǎng)法，若測(cè)長(zhǎng)靈敏度較高，則缺陷指示長(zhǎng)度小 D : 端點(diǎn)峰值法測(cè)得的缺陷指示長(zhǎng)度比端點(diǎn) 6dB 法測(cè)得的缺陷指示長(zhǎng)度大 114、關(guān)于復(fù)合材料的超聲檢測(cè)，下列敘述中不正確的是（ ）。 A : 若只有底波，說明兩種復(fù)合材料聲阻抗相近 B : 若只有底波，說明無脫接缺陷 C : 若有底波與界面回波，說明無脫接缺陷 D : 不能夠根據(jù)復(fù)合界面回波來判別缺陷波√ 115、厚度均為 400mm，但材質(zhì)衰減不同的兩個(gè)鍛件，采用各自底面校正 400/Φ2 靈敏度分別進(jìn)行檢測(cè)，現(xiàn)兩個(gè)鍛件中均發(fā)現(xiàn)缺陷，且回波高度和缺陷聲程均相同，則：（ ）。 A : 兩個(gè)缺陷當(dāng)量相同 B : 材質(zhì)衰減小的鍛件中缺陷當(dāng)量小 C : 材質(zhì)衰減大的鍛件中缺陷當(dāng)量小√ D : 以上都不對(duì) 116、對(duì)同一金屬材料來說,橫波的衰減系數(shù)要比縱波大。（ ） 對(duì)√ 錯(cuò) 117、如果超聲波頻率不變，晶片面積越大，超聲場(chǎng)的近場(chǎng)長(zhǎng)度越短。（ ） 對(duì) 錯(cuò)√ 118、超聲檢測(cè)時(shí)，使用 CSK-ⅢA 試塊，也能測(cè)定探頭的前沿和 K 值。（ ） 對(duì)√ 錯(cuò) 119、兩次三角波總是位于第一次底波 B1 之前,容易干擾缺陷波的判別。（ ） 對(duì) 錯(cuò)√ 120、實(shí)用 AVG 曲線只適用于特定的探頭,使用時(shí)不需要進(jìn)行歸一化處理。（ ） 對(duì)√ 錯(cuò) 121、焊縫斜聲束檢測(cè)時(shí)，裂紋等危害性缺陷的反射波幅總是很高的。（ ） 對(duì) 錯(cuò)√ 122、在同種固體材料中，縱波聲速 CL，橫波聲速 CS 和表面波 CR 之間的關(guān)系是（ ）。 A : CR＞CS＞CL B : CS＞CL＞CR C : CL＞CS＞CR√ D : 以上都不對(duì) √123、波束擴(kuò)散角是晶片尺寸和所通過的介質(zhì)中聲波波長(zhǎng)的函數(shù)，并且（ ）。 A : 頻率增大，晶片直徑減小時(shí)增大 B : 頻率或晶片直徑減小時(shí)減小 C : 頻率增加，晶片直徑增加時(shí)減小√ D : 頻率或晶片直徑增大時(shí)增大 124、超聲波傾斜入射到異質(zhì)界面時(shí)，聲壓往復(fù)透射率取決于：（ ） A： 界面兩側(cè)介質(zhì)的密度 B： 界面兩側(cè)介質(zhì)的聲阻抗和入射角度√ C： 界面兩側(cè)介質(zhì)的聲速 D： 界面兩側(cè)的波型 125、在檢測(cè)條件相同的情況下，直徑比為 2 的兩個(gè)實(shí)心圓柱體，其曲底面回波相差（ ）。 A : 12dB B : 9dB C : 3dB D : 0dB√ 126、超聲波垂直入射到異質(zhì)界面時(shí)，其聲壓反射率或透射率與界面兩側(cè)介質(zhì)的聲阻抗有關(guān)。（ ） 對(duì)√ 錯(cuò) 127、放大器的不飽和信號(hào)高度與缺陷面積成比例的范圍叫做放大器的：（ ） A : 靈敏度范圍 B : 線性范圍√ C : 分辨力范圍 D : 選擇性范圍 128、如果將 K2 探頭去檢測(cè)鋁(CFe=3230m／s，CAl=3100m／s)則 K 值的變化是：（ ） A : 大于 2 B : 小于 2√ C : 等于 2 D : 還需其它參數(shù)才能確定 129、用水浸法超聲波縱波垂直入射檢測(cè)鋼板，要使第二次水層界面回波與鋼板第二次底波重合，則水層厚度與鋼板厚度之比應(yīng)為（）。* A : 4.23611111111111E-02 B : 6.97337962962963E-04 C : 4.30555555555556E-02√ D : 2:1 130、超聲探頭中的波源作受迫振動(dòng)和阻尼振動(dòng)，當(dāng)距離波源足夠遠(yuǎn)(X≥3N)時(shí)，波型類似于柱面波。（ ） 對(duì) 錯(cuò)√ 131、在同一固體介質(zhì)中,縱波、橫波、瑞利波和蘭姆波的傳播速度均為常數(shù)。* 對(duì) 錯(cuò)√ 132、超聲檢測(cè)時(shí)，工件與試塊的聲能傳輸損失差為表面耦合和底面反射損失差。 對(duì) 錯(cuò)√ 133、數(shù)字超聲檢測(cè)儀在系統(tǒng)靈敏度校準(zhǔn)過程中自動(dòng)生成的距離—波幅曲線就是坐標(biāo)曲線。對(duì) 錯(cuò)√ 134、P12Z 直探頭在鋼中的指向角是：（ ） A : 5.6° B : 3.5° C : 6.8°√ D : 24.6° 135、因?yàn)槌暡ㄊ怯蓹C(jī)械振動(dòng)產(chǎn)生的，所以超聲波在介質(zhì)中的傳播速度即為質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)速度。 對(duì) 錯(cuò)√ 136、以下哪一種檢測(cè)方法不適宜 T 型焊縫超聲檢測(cè)（）。* A : 直探頭在翼板上檢測(cè) B : 斜探頭在翼板外側(cè)或內(nèi)側(cè)檢測(cè) C : 直探頭在腹板上檢測(cè)√ D : 斜探頭在腹板上檢測(cè) 137、關(guān)于焊縫超聲檢測(cè)前正確校準(zhǔn)儀器水平掃描比例的目的，下列錯(cuò)誤的是：（）* A : 對(duì)缺陷進(jìn)行準(zhǔn)確定位 B : 對(duì)缺陷進(jìn)行準(zhǔn)確定量√ C : 準(zhǔn)確判定焊縫根部反射波 D : 準(zhǔn)確判定結(jié)構(gòu)反射波和缺陷波 138、縱波傾斜入射到兩種介質(zhì)的界面時(shí)，假設(shè)αL 為縱波入射角。αⅠ、αⅡ分別為第一、第二臨界角，使第二介質(zhì)中只存在折射橫波的條件是：（）。* A : αⅠ＞αL ＞αⅡ B : αⅠ≤αL ＜αⅡ√ C : αⅠ＜αL ＜αⅡ D : αⅠ≥αL ＞αⅡ 139、常規(guī)探頭鋼焊縫橫波超聲檢測(cè)中，如在室溫(20℃)調(diào)節(jié)儀器掃描，當(dāng)被檢焊縫溫度較高(50℃)時(shí)，顯示的缺陷回波深度值將變化為：（）* A : 比實(shí)際深度大 B : 比實(shí)際深度小√ C : 與實(shí)際深度相同 D : 不一定 140、界面上聲束的折射角等于反射角。（ ） 對(duì) 錯(cuò)√ 141、在超聲檢測(cè)中，3 倍近場(chǎng)區(qū)外球孔的回波聲壓隨距離變化的規(guī)律與平底孔的相同。(對(duì))* 型號(hào)為 5P20Z.的探頭，其頻率為 20MHz。(錯(cuò)) 142、用雙晶直探頭檢測(cè)管壁厚度時(shí)，探頭的用法應(yīng)是：（ ） A : 探頭分割線與管軸中心線成 45° B : 探頭分割線與管軸中心線平行 C : 探頭分割線與管軸中心線垂直，探頭中心線通過管軸中心線√ D : 探頭應(yīng)放在管子內(nèi)壁上測(cè)量 143、超聲檢測(cè)時(shí)，經(jīng)超聲波測(cè)高發(fā)現(xiàn)缺陷具有明顯的自身高度，即可判定此缺陷為裂紋。（ ）對(duì) 錯(cuò)√ 144、鋼管作手工接觸法周向探傷時(shí)，應(yīng)從順、逆時(shí)針兩個(gè)方向各探傷一次。* 對(duì)√ 錯(cuò) 145、焊縫斜角探傷時(shí)，最容易漏掉：（ ） A : 與表面垂直的裂紋 B : 方向無規(guī)律的夾渣 C : 根部未焊透 D : 與表面平行的未熔合√ 146、大口徑鋼管手工接觸法檢測(cè)時(shí)，對(duì)平行于管軸的縱向缺陷，應(yīng)選擇的探頭和掃查方法是（ ）。 A : 直探頭作徑向掃查 B : 斜探頭作周向掃查√ C : 直探頭作軸向掃查 D : 以上都不對(duì) 147、超聲波傳播的兩個(gè)必要條件是有聲源和傳播聲波的彈性介質(zhì)。（ ） 對(duì)√ 錯(cuò) 148、用 K1.5 橫波斜探頭外圓周向檢測(cè)外徑 1080mm，壁厚 85mm 的容器縱縫。儀器按按深度 1：2 調(diào)節(jié)掃描速度，檢測(cè)中在水平刻度 40mm 處發(fā)現(xiàn)一缺陷波，此缺陷距表面深度為：（ ）。 A : 80mm B : 65mm√ C : 60mm D : 20mm 149、機(jī)械波的波速取決于（ ）。 A：機(jī)械振動(dòng)中質(zhì)點(diǎn)的速度 B： 機(jī)械振動(dòng)中質(zhì)點(diǎn)的振幅 C： 機(jī)械振動(dòng)中質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)頻率 D： 彈性介質(zhì)的特性√ 150、質(zhì)點(diǎn)完成五次全振動(dòng)所用的時(shí)間，可以使超聲波在介質(zhì)中傳播五個(gè)波長(zhǎng)的距離。 對(duì) √ 錯(cuò) 151、在下列不同的超聲波波型中，哪種波的傳播速度隨頻率不同而改變？（ ） A： 橫波√ B： 縱波 C：表面波 D： 板波 152、液體中不能傳播的超聲波波型是：（）* A： 剪切波 B： 瑞利波 C： 蘭姆波 D： 以上都是√ 153、超聲波傳播過程中，遇到尺寸與波長(zhǎng)相當(dāng)?shù)恼系K物時(shí)將發(fā)生（）。* A： 無繞射只反射 B： 只繞射無反射 C： 既繞射又反射√ D： 以上都可能 154、超聲波的頻率越高，傳播速度越快。（ ） 對(duì) 錯(cuò)√ 155、超聲縱波、橫波和表面波的速度，主要取決于：（ ） A： 傳聲材料的彈性模量和密度√ B： 頻率 C： 聲阻抗 D： 以上全部 156、超聲波之所以能用于探傷的重要原因之一是：超聲波的聲強(qiáng)遠(yuǎn)大于可聞聲波的聲強(qiáng)。對(duì)√ 錯(cuò) 157、超聲波入射到異質(zhì)界面時(shí)，可能發(fā)生：（ ） A： 反射 B： 折射 C： 波形轉(zhuǎn)換 D： 以上都可能√ 158、用 5P10×12K2.5 探頭，檢測(cè)板厚 T＝25mm 的鋼焊縫，掃描按水平 1：1 調(diào)節(jié)。檢測(cè)時(shí)在水平刻度 70mm 處發(fā)現(xiàn)一個(gè)缺陷波，則該缺陷的深度為（）。* A : 3mm B : 20mm C : 28mm D : 22mm√ 159、超聲波傾斜入射至異質(zhì)界面時(shí)，其傳播方向的改變主要區(qū)別于（）。* A： 界面兩側(cè)介質(zhì)的聲阻抗 B： 界面兩側(cè)介質(zhì)的聲速√ C： 界面兩側(cè)介質(zhì)的衰減系數(shù) D： 界面兩側(cè)的耦合效果 160、超聲波垂直入射到異質(zhì)界面時(shí)，聲壓往復(fù)透射率與聲強(qiáng)透射率在數(shù)值上相等。* 對(duì)√ 錯(cuò) 161、超聲檢測(cè)儀發(fā)射脈沖的持續(xù)時(shí)間叫（）。* A： 脈沖寬度√ B： 脈沖周期 C： 脈沖振幅 D： 以上都不是 162、同一介質(zhì)中,超聲波反射角（）* A： 等于同波型入射角√ B： 與使用的耦合劑有關(guān) C： 與使用頻率有關(guān) D： 等于折射角 163、縱波從第一介質(zhì)傾斜入射到第二介質(zhì)，橫波折射角達(dá)到 90°時(shí)的縱波入射角稱為第一臨界角。* 對(duì) 錯(cuò)√ 164、第二臨界角是（）。* A： 折射橫波折射角等于 90°時(shí)的縱波入射角√ B： 折射縱波折射角等于 90°時(shí)的橫波入射角 C： 折射縱波折射角等于 90°時(shí)的縱波入射角 D： 入射縱波入射角接近 90°時(shí)的折射角 165、當(dāng)超聲橫波入射至端角時(shí)，下列敘述錯(cuò)誤的是（ ）。* A： 反射橫波與入射波平行但方向相反 B： 入射角為 300 時(shí)反射率最高√ C： 入射角為 450 時(shí)反射率最高 D： 入射角為 600 時(shí)反射率最低 166、平面波入射到 C1＜C2的凹曲面時(shí)，其折射波聚焦。* 對(duì)√ 錯(cuò) 167、在超聲檢測(cè)中，使用聚焦探頭能提高檢測(cè)靈敏度和分辨力，并且擴(kuò)大了一次檢測(cè)范圍。 對(duì) 錯(cuò)√ 168、超聲波入射至 C1＞C2 的凸曲面時(shí)，其透射波集聚。* 對(duì)√ 錯(cuò) 169、吸收衰減和散射衰減是材料對(duì)超聲能量衰減的主要原因。* 對(duì)√ 錯(cuò) 170、材料的聲阻抗越大，超聲波傳播時(shí)衰減越大。* 對(duì) 錯(cuò)√ 171、規(guī)則反射體回波聲壓的計(jì)算前提之一是基于波束軸線與反射體垂直的情況。* 對(duì)√ 錯(cuò) 172、與超聲頻率無關(guān)的衰減方式是（ ）。 A： 擴(kuò)散衰減√ B： 散射衰減 C： 吸收衰減 D： 以上都是 173、下面有關(guān)材料衰減的敘述，哪句話是錯(cuò)誤的：（）* A： 提高增益可完全克服衰減對(duì)探傷的影響√ B： 固體材料的衰減系數(shù)一般隨溫度上升而增大 C： 當(dāng)晶粒度大于波長(zhǎng) 1/10 時(shí)對(duì)探傷有顯著影響 D： 橫波衰減比縱波嚴(yán)重 174、超聲波擴(kuò)散衰減的大小與介質(zhì)無關(guān)。* 對(duì)√ 錯(cuò) 175、下列關(guān)于衰減的敘述，不正確的是（）。* A： 介質(zhì)溫度升高，分子熱運(yùn)動(dòng)加劇，有利于超聲波的傳播 B： 對(duì)于奧氏體不銹鋼來說，超聲波穿透能力較低 C： 引起超聲波衰減的主要原因是波束擴(kuò)散、晶粒散射和介質(zhì)吸收 D： 通常所說的介質(zhì)衰減是指擴(kuò)散衰減、散射衰減和吸收衰減√ 176、在超聲檢測(cè)中，衰減系數(shù)指的是：（）* A：擴(kuò)散衰減加吸收衰減系數(shù) B：擴(kuò)散衰減加散射衰減系數(shù) C：散射衰減加吸收衰減系數(shù)√ D：以上都對(duì) 177、用 2.5P20Z 直探頭檢驗(yàn)厚度 380mm 的鋼鍛件(CL＝5900 m/s)，材質(zhì)衰減系數(shù)α＝0.01 dB/mm。檢測(cè)中在 130mm 深度發(fā)現(xiàn)一個(gè)缺陷，其波幅比底波低 7 dB，此缺陷當(dāng)量大小為（）。* A： 4.1mm√ B： 5.5mm C：7.3mm D： 9.8mm 178、波源輻射的超聲波，總是在聲束中心軸線上的聲壓為最高。* 對(duì) 錯(cuò)√ 179、超聲檢測(cè)實(shí)際聲場(chǎng)中，聲束軸線上不存在聲壓為零的點(diǎn)。* 對(duì)√ 錯(cuò) 180、超聲檢測(cè)中避免在近場(chǎng)區(qū)定量的原因是（）。* A：近場(chǎng)區(qū)的回波聲壓很高，定量不準(zhǔn)確 B：近場(chǎng)區(qū)檢測(cè)時(shí)，由于探頭存在盲區(qū)，易形成漏檢 C：在近場(chǎng)區(qū)檢測(cè)時(shí)，處于聲壓極大值處的較小缺陷可能回波較高，而處于聲壓極小值處的較大缺陷可能回波較低，容易出現(xiàn)誤判√ D：近場(chǎng)區(qū)內(nèi)不能發(fā)現(xiàn)缺陷 181、頻率相同的縱波，在水中的波長(zhǎng)大于在鋼中的波長(zhǎng)。* 對(duì) 錯(cuò)√ 182、用 2.5P10×12、折射角 60°斜探頭超聲檢測(cè) T=25mm 鋼板對(duì)接焊縫，掃描按聲程 1：1 調(diào)節(jié)，檢測(cè)時(shí)在示波屏水平刻度 7.5 格處發(fā)現(xiàn)一缺陷波，此缺陷的深度為（）。* A : 0mm B : 20mm C : 12.5mm√ D : 37.5mm 183、超聲探頭使用聚焦透鏡能提高靈敏度和分辨力，但減小了探測(cè)范圍。* 對(duì)√ 錯(cuò) 184、A型超聲波探傷儀能提供缺陷回波的時(shí)間和幅度兩方面信息，因此能較為準(zhǔn)確的定位、定量和定性。* 對(duì) 錯(cuò)√ 185、超聲檢測(cè)中，下列哪個(gè)因素影響缺陷的定量？（）* A： 缺陷與聲束的角度 B： 缺陷的性質(zhì) C： 缺陷反射面的大小 D： 以上全部√ 186、調(diào)整探傷靈敏度的目的在于發(fā)現(xiàn)工件中規(guī)定大小的缺陷，并對(duì)缺陷定位。* 對(duì) 錯(cuò)√ 187、A 型掃描顯示中，從熒光屏上直接可獲得的信息是：（）* A：缺陷的性質(zhì)和大小 B：缺陷的形狀和取向 C：缺陷回波的大小和超聲傳播的時(shí)間√ D：以上都是 188、常用的數(shù)字式超聲檢測(cè)儀是 A 型脈沖反射式檢測(cè)儀。* 對(duì)√ 錯(cuò) 189、脈沖反射式超聲檢測(cè)儀中，產(chǎn)生觸發(fā)脈沖的電路單元叫做：（）* A： 同步電路√ B： 掃描電路 C： 發(fā)射電路 D： 顯示電路 190、A 型超聲波探傷儀上的(抑制)旋鈕打開對(duì)下述哪個(gè)性能有影響?（）* A：垂直線性√ B：水平線性 C：脈沖重復(fù)頻率 D：延遲 191、衰減式模擬檢測(cè)儀衰減器 dB 值讀數(shù)越大，靈敏度越低；增益式數(shù)字式檢測(cè)儀 dB值讀數(shù)越大，靈敏度越高。* 對(duì)√ 錯(cuò) 192、影響儀器靈敏度的旋紐有：（ ） A：發(fā)射強(qiáng)度和增益旋紐 B：衰減器和抑制 C：深度補(bǔ)償 D：以上都是√ 193、超聲探頭中的關(guān)鍵部件是晶片，它的作用是電能和聲能的互相轉(zhuǎn)換。* 對(duì)√ 錯(cuò) 194、探傷用超聲波的產(chǎn)生是由換能器將電能轉(zhuǎn)換成機(jī)械能。* 對(duì)√ 錯(cuò) 195、超聲波檢測(cè)中，發(fā)射超聲波是利用正壓電效應(yīng)，接收超聲波是利用逆壓電效應(yīng)。* 對(duì) 錯(cuò)√ 196、常用的壓電材料中，硫酸鋰的發(fā)射靈敏度較高；鋯鈦酸鉛(PZT)的接收靈敏度較高。* 對(duì) 錯(cuò)√ 197、探頭晶片背面加上阻尼塊會(huì)導(dǎo)致：（）* A：θm 值降低，靈敏度提高 B：θm 值增大，分辨力提高 C：θm 值降低，分辨力提高√ D：θm 值增大，盲區(qū)增大 198、橫波探頭在檢測(cè)過程中，斜楔將會(huì)磨損，下列說法錯(cuò)誤的是（）。* A：探頭磨損會(huì)使入射點(diǎn)發(fā)生變化 B：探頭磨損可能導(dǎo)致探頭 K 值的增大或減小 C：探頭磨損可能導(dǎo)致儀器的水平線性發(fā)生變化√ D：探頭磨損可能導(dǎo)致校準(zhǔn)好的掃描速度發(fā)生變化 199、斜探頭楔塊前部和上部開消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失。* 對(duì) 錯(cuò)√ 200、20℃時(shí)，Z 水＝1.5×106Kg/m2s，Z 鋼＝45.4×106Kg/m2s，水浸法超聲檢測(cè)鋼材時(shí)，水/鋼界面的往復(fù)透過率 T 為（）。* A : 0.93 B : 1.93 C : 0.87 D : 0.12√ 201、為使工件中只有單一的橫波，斜探頭入射角應(yīng)選擇為第一臨界角或第二臨界角。* 對(duì) 錯(cuò)√ 202、雙晶直探頭由于延遲塊的存在，避免了始脈沖引起的盲區(qū)問題，可以檢測(cè)近表面缺陷和進(jìn)行薄板檢測(cè)。 對(duì)√ 錯(cuò) 203、5P20FG15Z 探頭是雙晶直探頭，其工作頻率為 5MHz。* 對(duì)√ 錯(cuò) 204、應(yīng)用有人工反射體的試塊主要目的是（）* A：作為檢測(cè)時(shí)的校準(zhǔn)基準(zhǔn)，并為評(píng)價(jià)工件中缺陷嚴(yán)重程度提供依據(jù)√ B：為檢測(cè)人員提供一種確定缺陷實(shí)際尺寸的工具 C：為檢出小于某一規(guī)定的參考反射體的所有缺陷提供保證 D：提供一個(gè)能精確模擬某一臨界尺寸自然缺陷的參考反射體 205、與ⅡW 試塊相比 CSK-ⅠA 試塊的優(yōu)點(diǎn)之一是可以測(cè)定斜探頭分辨力。* 對(duì)√ 錯(cuò) 206、CSK-ⅠA 試塊上φ50 、φ44、φ40 三孔的臺(tái)階，可用來測(cè)定斜探頭的分辨力。* 對(duì)√ 錯(cuò) 207、標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，高壓無縫鋼管對(duì)比式樣中 V 型槽的角度應(yīng)為（）。* A：15° B：30° C：45° D：60°√ 208、儀器水平線性的好壞直接影響到對(duì)缺陷當(dāng)量大小的判斷。* 對(duì) 錯(cuò)√ 209、儀器和探頭的綜合性能不包括（）* A：水平線性√ B：靈敏度 C：盲區(qū) D：分辨力 210、超聲檢測(cè)“分辨力”是指探頭發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力。* 對(duì) 錯(cuò)√ 211、超聲波檢測(cè)中，盡量避免近場(chǎng)區(qū)探傷的原因是在近場(chǎng)區(qū)內(nèi)對(duì)缺陷的定量往往不準(zhǔn)確。* 對(duì)√ 錯(cuò) 212、超聲波檢測(cè)儀器與探頭的組合性能中，“盲區(qū)”是指（）。 A：近場(chǎng)區(qū) B：聲束擴(kuò)散角以外的區(qū)域 C：始脈沖寬度和儀器的阻塞恢復(fù)時(shí)間√ D：以上都是 213、采用 CTS-22 型超聲波探傷儀和鋼中 K 值為 1.0 的斜探頭，對(duì)厚度為 50mm 的某合金對(duì)接接頭進(jìn)行檢測(cè)，在熒光屏刻度 6 上發(fā)現(xiàn)一處缺陷。熒光屏上每一刻度相當(dāng)于鋼中橫波聲程 20mm，該缺陷的埋藏深度（）。* A : 22.7mm√ B : 20.0mm C : 30.0mm D : 27.3mm 214、穿透法的最大優(yōu)點(diǎn)是不存在盲區(qū)，但小缺陷容易漏檢。* 對(duì)√ 錯(cuò) 215、超聲檢測(cè)中串列式雙探頭法即為穿透法。 對(duì) 錯(cuò)√ 216、超聲檢測(cè)用通用 AVG 曲線的通用性體現(xiàn)在可適用不同頻率、不同晶片尺寸的探頭。 對(duì)√ 錯(cuò) 217、B 型顯示能夠顯示工件內(nèi)缺陷的埋藏深度。 對(duì)√ 錯(cuò) 218、單晶直探頭接觸法檢測(cè)中，與探測(cè)面十分接近的缺陷往往不能有效地檢出，這是因?yàn)椋? ） A：近場(chǎng)干擾 B：衰減 C：盲區(qū)√ D：折射 219、超聲波在同一介質(zhì)中橫波比縱波檢測(cè)分辨力高，但穿透能力差。* 對(duì)√ 錯(cuò) 220、使用窄脈沖寬頻帶探頭可以提高近表面缺陷的檢測(cè)能力。* 對(duì)√ 錯(cuò) 221、接觸式和液浸式兩種超聲檢測(cè)方法都可對(duì)工件進(jìn)行斜入射檢測(cè)。* 對(duì)√ 錯(cuò) 222、超聲檢測(cè)前應(yīng)根據(jù)被檢對(duì)象的形狀、對(duì)超聲波的衰減和檢測(cè)技術(shù)要求等來選擇探頭。 對(duì)√ 錯(cuò) 223、接頭中裂紋、未焊透、未熔合等危險(xiǎn)性大的缺陷，一般均不與檢測(cè)面平行，這是采用橫波斜探頭檢測(cè)的重要原因之一。* 對(duì)√ 錯(cuò) 224、探頭晶片尺寸相同，頻率越高，近場(chǎng)區(qū)的長(zhǎng)度也就越大。* 對(duì)√ 錯(cuò) 225、已知鋼中橫波聲速為 3230m/s，鋁中橫波聲速為 3080m/s，求用探測(cè)鋼的 K1.0 橫波探頭探測(cè)鋁時(shí)的實(shí)際 K 值為（ ）。 A : 0.91√ B : 0.95 C : 1 D : 1.1 226、頻率和晶片尺寸相同時(shí)，橫波聲束指向性比縱波好。* 對(duì)√ 錯(cuò) 227、面積相同、頻率相同的圓晶片和方晶片，其它條件相同，兩者超聲場(chǎng)的近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度相同。 對(duì)√ 錯(cuò) 228、超聲檢測(cè)利用試塊法校正檢測(cè)靈敏度的優(yōu)點(diǎn)是：對(duì)大于 3N 和小于 3N 的鍛件都適用。 對(duì)√ 錯(cuò) 229、當(dāng)用雙晶直探頭在平面上掃查時(shí)，應(yīng)盡可能使探頭隔聲層的放置方向與探頭掃查方向平行。 對(duì) 錯(cuò)√ 230、直徑為 20mm，頻率為 2.5MHz 的探頭在水中的半擴(kuò)散角為（） 。(已知 C 水=1480m/s)。（ ） A : 2°√ B : 8° C : 12° D : 15° 231、只有當(dāng)工件中缺陷在各個(gè)方向的尺寸均大于聲束截面直徑時(shí)，才能采用測(cè)長(zhǎng)法確定缺陷長(zhǎng)度。* 對(duì) 錯(cuò)√ 232、采用當(dāng)量法確定的缺陷尺寸一般小于缺陷的實(shí)際尺寸。* 對(duì)√ 錯(cuò) 233、超聲檢測(cè)中，非缺陷回波是指檢測(cè)中可能出現(xiàn)的遲到波、變型波、工件輪廓回波。* 對(duì)√ 錯(cuò) 234、下面有關(guān) 61°反射波說法，哪一點(diǎn)是錯(cuò)誤的？（）* A：產(chǎn)生 61°反射時(shí)，縱波入射角與橫波反射角之和為 90° B：產(chǎn)生 61°反射時(shí)，縱波入射角為 61°，橫波反射角為 29° C：產(chǎn)生 61°反射時(shí)，橫波入射角為 29°，縱波反射角為 61°√ D：產(chǎn)生 61°反射時(shí)，其聲程是恒定的 235、長(zhǎng)軸類鍛件從端面作軸向檢測(cè)時(shí)，容易出現(xiàn)的非缺陷回波是（）。* A：三角反射波 B：61°反射波 C：輪廓回波 D：遲到波√ 236、所謂“幻影波”，不是由于檢測(cè)頻率過高或材料晶粒粗大引起的。* 對(duì)√ 錯(cuò) 237、為減小超聲波通過粗晶材料時(shí)的衰減和避免林狀回波，宜采用（）進(jìn)行探傷。* A： 高頻率、橫波 B： 較低頻率、橫波 C： 高頻率、縱波 D： 較低頻率、縱波√ 238、焊縫橫波探傷時(shí)，如采用直射法，可不考慮結(jié)構(gòu)反射、變型波等干擾回波的影響。* 對(duì) 錯(cuò)√ 239、斜探頭前部磨損較多時(shí)，探頭的 K 值將變大。* 對(duì) 錯(cuò)√ 240、已知鋼中 CL=5900m/s, 2.5MHz、Φ20mm 縱波直探頭在鋼中縱波聲場(chǎng)的半擴(kuò)散角θo 為 （）。* A : 2° B : 8°√ C : 12° D : 15° 241、溫度對(duì)斜探頭折射角有影響，當(dāng)溫度升高時(shí)，鋼中折射角將變大。* 對(duì)√ 錯(cuò) 242、儀器的垂直線性好壞會(huì)影響（ ）。 A：缺陷當(dāng)量的測(cè)定√ B：缺陷的方向 C：缺陷的定位 D：缺陷的本身尺寸 243、超聲波垂直探傷時(shí)，探傷面的粗糙度對(duì)反射波高的影響比斜角探傷嚴(yán)重。* 對(duì)√ 錯(cuò) 244、超聲波傾斜入射到表面粗糙的缺陷與入射到尺寸相同而表面光滑的缺陷相比（） 。* A：前者反射波高√ B：前者反射波低 C：反射波相同 D：前者反射波無規(guī)律性變化 245、鋼板探傷中，當(dāng)同時(shí)存在底波和缺陷波時(shí)，說明鋼板中存在小于聲場(chǎng)直徑的缺陷 。* 對(duì)√ 錯(cuò) 246、鋼板直探頭檢測(cè)時(shí)，底波消失的原因是：（）。* A：鋼板內(nèi)有大面積分層 B：鋼板中有大面積傾斜缺陷 C：鋼板上有嚴(yán)重的密集性缺陷 D：以上都是√ 247、用 2.5MHzΦ20 直探頭對(duì)鍛件進(jìn)行超聲檢測(cè)，工件厚度為 400mm，鍛件不允許有≥ Φ2(mm)的缺陷存在，以Φ2/200mm 處的平底孔試塊調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度(試塊、工件的材質(zhì)衰減不計(jì)，表面補(bǔ)償 4dB)，在上述條件下檢測(cè)時(shí)發(fā)現(xiàn) 300mm 處有一個(gè)比基準(zhǔn)波高 19dB 的缺陷波， 則該缺陷平底孔當(dāng)量直徑為（）。* A : 2.24mm B : 3.56mm C : 4.48mm√ D : 8.96 mm 248、探傷時(shí)采用較高的探測(cè)頻率，可有利于（）。* A：發(fā)現(xiàn)較小的缺陷 B：區(qū)分開相鄰的缺陷 C：改善聲束指向性 D：以上全部√ 249、鋼板超聲檢測(cè)主要應(yīng)采用（）。* A：縱波直探頭√ B：表面波探頭 C：橫波直探頭 D：聚焦探頭 250、對(duì)接焊縫超聲檢測(cè)時(shí)，關(guān)于探頭掃查方式，下面哪一種說法是錯(cuò)誤的?（）* A：斜平行掃查是為了檢測(cè)橫向缺陷 B：垂直于焊縫掃查是為了檢測(cè)縱向缺陷 C：定點(diǎn)轉(zhuǎn)動(dòng)掃查和環(huán)繞掃查是為了檢測(cè)缺陷的形狀 D：串列掃查能檢測(cè)各個(gè)方向的缺陷√ 251、由于板材在軋制過程中，缺陷往往沿壓延方向延伸，因此探頭移動(dòng)方向應(yīng)與壓延方向平行。 對(duì) 錯(cuò)√ 252、關(guān)于超聲檢測(cè)前儀器和探頭系統(tǒng)的調(diào)整和測(cè)定，下列正確的是：（）* A：應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)試塊上進(jìn)行 B：斜探頭測(cè)定項(xiàng)目有入射點(diǎn)、K 值、主聲束偏離、掃描量程和掃查靈敏度 C：直探頭測(cè)定項(xiàng)目有脈沖寬度、靈敏度余量、分辨力、掃描量程和掃查靈敏度 D：以上都是√ 253、鍛件超聲檢測(cè)時(shí)，波高比較法的檢測(cè)靈敏度校準(zhǔn)方法有兩種，一種是試塊法，另一種是底波法。 對(duì)√ 錯(cuò) 254、復(fù)合鋼板超聲波檢測(cè)的主要對(duì)象是基板和復(fù)板內(nèi)的缺陷。* 對(duì) 錯(cuò)√ 255、對(duì)復(fù)合良好的復(fù)合材料進(jìn)行超聲檢測(cè)時(shí)，不會(huì)出現(xiàn)界面回波。* 對(duì) 錯(cuò)√ 256、兩種材料聲阻抗相差較大的復(fù)合材料探傷時(shí)，缺陷判別困難，一般要用對(duì)比試塊比較，根據(jù)反射波寬度、高度、底波變化來判別。* 對(duì)√ 錯(cuò) 257、采用斜探頭對(duì)鋼管作周向接觸法探傷時(shí)，鋼管內(nèi)外徑之比越大，入射角允許的范圍越大。* 對(duì)√ 錯(cuò) 258、小徑管對(duì)接焊縫超聲檢測(cè)應(yīng)選擇大 K 值、小尺寸的探頭。* 對(duì)√ 錯(cuò) 259、小徑管超聲檢測(cè)時(shí)，調(diào)節(jié)靈敏度用的對(duì)比試樣上人工缺陷為縱向槽，其斷面形狀為U 型、V 型或矩形。 對(duì)???錯(cuò)√ 260、用 2.5MHz，φ20 直探頭探測(cè)厚度 300mm 的鍛鋼件，要求≥φ2 當(dāng)量缺陷不漏檢。利用工件底面調(diào)節(jié)探測(cè)靈敏度，如在此靈敏度下探測(cè)時(shí)發(fā)現(xiàn)距探測(cè)面 200mm 處有一缺陷，其波高為 15dB，此缺陷的平底孔當(dāng)量為（?）。 A : 2.24mm B : 3.16mm√ C : 4.48mm D : 5.96 mm 261、小徑管焊接接頭超聲檢測(cè)中,選擇探頭時(shí)可以不考慮的是：（）* A：探頭前沿 B：折射角 C：晶片面積 D：晶片的形狀√ 262、鋼管水浸探傷時(shí)，如鋼管中無缺陷，熒光屏上只有始波和界面波。* 對(duì)√???錯(cuò) 263、由于水中只能傳播縱波，所以水浸探傷只能進(jìn)行縱波檢測(cè)。* 對(duì)??錯(cuò)√ 264、在管材水浸法偏心距超聲檢測(cè)中，以下哪個(gè)敘述是正確的?（）* A：縱波入射角隨偏心距的增大而增大√ B：縱波入射角隨偏心距的增大而減小 C：橫波折射角隨偏心距的增大而減小 D：以上全不對(duì) 265、管材自動(dòng)探傷設(shè)備中，探頭與管材相對(duì)運(yùn)動(dòng)的形式是：（）* A：探頭旋轉(zhuǎn)，管材直線前進(jìn) B：探頭靜止，管材螺旋前進(jìn) C：管材旋轉(zhuǎn)，探頭直線移動(dòng) D：以上均可√ 266、在超聲檢測(cè)中，點(diǎn)聚焦探頭比線聚焦探頭靈敏度高。* 對(duì)√??錯(cuò) 267、數(shù)字式超聲檢測(cè)儀的每一通道相當(dāng)于一臺(tái)單通道探傷儀。* 對(duì)√??錯(cuò) 268、在鍛件的超聲波檢測(cè)中，選擇探測(cè)面的一個(gè)很重要的原則是：應(yīng)盡可能使透入鍛件的超聲波傳播方向與晶粒的變形方向相垂直。* 對(duì)√??錯(cuò) 269、對(duì)圓筒形容器來說，軸向應(yīng)力是切向應(yīng)力的（）。* A：一半√??B：一倍 C：二倍???D：四倍 270、與表面光滑的工件相比，檢驗(yàn)表面粗糙的工件時(shí)，一般應(yīng)采用（）* A：較低頻率的探頭和粘度較大的耦合劑√ B：較高頻率的探頭和粘度較大的耦合劑 C：較高頻率的探頭和粘度較小的耦合劑 D：較低頻率的探頭和粘度較小的耦合劑 271、超聲波檢驗(yàn)中，當(dāng)探傷面比較粗糙時(shí)，宜選用（）* A：較低頻探頭 B：較粘的耦合劑 C：軟保護(hù)膜探頭 D：以上都對(duì)√ 272、用超聲波直探頭檢測(cè)鋼鍛件時(shí)，引起底波明顯降低或消失的因素有（）* A：底面與探傷面不平行 B：工件內(nèi)部有傾斜的大缺陷 C：工件內(nèi)部有材質(zhì)衰減大的部位 D：以上全部√ 273、用直探頭檢測(cè)焊接接頭兩側(cè)母材主要目的是（）。* A：檢測(cè)熱影響區(qū)裂紋 B：檢測(cè)可能影響斜探頭檢測(cè)結(jié)果的分層√ C：提高焊接接頭兩側(cè)母材驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn),以保證焊接接頭質(zhì)量 D：確定焊接接頭兩側(cè)母材的厚度 274、在焊接接頭檢測(cè)過程中，探頭垂直于焊接接頭方向前后移動(dòng)，主要用于（）。* A：測(cè)量缺陷的深度 B：測(cè)定缺陷距焊縫中心線的水平位置 C：判斷缺陷的方向性 D：以上都是√ 275、焊縫探傷時(shí)，平行掃查目的是探測(cè)：（?） A：橫向裂紋√ B：夾渣 C：縱向缺陷 D：以上都是 276、為了檢出管座角焊縫中坡口面未熔合等危害性缺陷，一般以縱波直探頭探測(cè)為主。* 對(duì)√??錯(cuò) 277、在焊縫檢測(cè)中，探頭在做鋸齒形掃查的同時(shí)還要做 10-15°轉(zhuǎn)動(dòng)，目的是為了發(fā)現(xiàn)橫向缺陷。 對(duì)??錯(cuò)√ 278、超聲檢測(cè) T 型焊接接頭中的橫向缺陷，應(yīng)選擇：（）* A：以翼板處為檢測(cè)面的直探頭 B：以翼板外為檢測(cè)面的斜探頭√ C：以翼板內(nèi)為檢測(cè)面的直探頭 D：以腹板為檢測(cè)面的斜探頭 279、用 2MHzΦ14 直探頭探測(cè)厚度為 400mm 的餅形鍛件，一次底波高度為 100%時(shí)，二次底波高度為 5%，已知底面反射損失為 3dB，則該材料衰減系數(shù)為（）。* A : 0.050dB/mm???B : 0.043 dB/mm C : 0.021dB/mm√??D : 0.029 dB/mm 280對(duì)壓力管道環(huán)向?qū)雍附咏宇^進(jìn)行超聲檢測(cè)，在確定缺陷的指示長(zhǎng)度時(shí)應(yīng)考慮：（）* A：探頭左右移動(dòng)的距離 B：缺陷的埋藏深度 C：管道的外徑 D：以上全是√ 281、聲束指向角較小且聲束截面較窄的探頭稱作窄脈沖探頭。* 對(duì)??錯(cuò)√ 282、無論遠(yuǎn)離探頭一側(cè)，還是靠近探頭一側(cè)，上、下焊角都會(huì)產(chǎn)生干擾回波。* 對(duì)??錯(cuò)√