蔡司代理昆山友碩小編介紹蔡司全新三維X射線顯微鏡（XRM），用戶能夠?qū)崿F(xiàn)更高水平的研究成果，拓展研究視野。

ZEISS Xradia Versa系列以其遠(yuǎn)距離分辨率（Raad）技術(shù)而聞名，而現(xiàn)在這一系列又迎來了更新升級(jí)——ZEISS Xradia 630 Versa。

　　了解推動(dòng)材料研究中的相關(guān)研究發(fā)展，包括AI驅(qū)動(dòng)的X射線和Laserfib三維顯微技術(shù)的創(chuàng)新。

　　精準(zhǔn)搜索

　　從微電子元器件的集成材料工程和高級(jí)合金和復(fù)合材料的變形，到鋰離子電池或其他能源材料中的孔隙傳輸和離子遷移，材料科學(xué)中的許多問題只有通過三維成像才能得到完全的解決。材料科學(xué)的主要推動(dòng)力是將宏觀尺度的材料特性與特定的微米和納米級(jí)結(jié)構(gòu)聯(lián)系起來。從這個(gè)角度來看，眾多應(yīng)用領(lǐng)域的材料研究人員長(zhǎng)期以來的目標(biāo)是尋找并分析深藏在大宗樣品中的關(guān)鍵納米級(jí)特征。

　　推動(dòng)材料研究中的相關(guān)研究發(fā)展

　　三維X射線、LaserFIB和AI驅(qū)動(dòng)的顯微技術(shù)方面引人入勝的創(chuàng)新推進(jìn)材料研究發(fā)展。將飛秒激光器與FIB-SEM(LaserFIB)集成可提供功能強(qiáng)大、精度高的樣品制備方案。相關(guān)X射線顯微鏡可以有意選擇樣品位點(diǎn)，以確保所選位點(diǎn)的代表性。將深度學(xué)習(xí)算法與X射線顯微鏡結(jié)合，全面提升XRM圖像質(zhì)量，保留視野范圍內(nèi)的整體結(jié)構(gòu)，同時(shí)提高細(xì)節(jié)部分的分辨率，并實(shí)現(xiàn)更好的自動(dòng)化、精度、重復(fù)性和速度，無需數(shù)小時(shí)僅需幾分鐘即可完成作業(yè)。

　　精準(zhǔn)快速準(zhǔn)備FIB-SEM結(jié)構(gòu)

　　了解如何直接獲取隱藏在表面下的感興趣區(qū)域(ROI)，揭示不同材料類型中的所有結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)。無論是硬質(zhì)或軟質(zhì)材料、納米科學(xué)、工程或能源材料、導(dǎo)電或絕緣材料：LaserFIB可實(shí)現(xiàn)前所未有的樣品加工速度。

　　了解全新推出的ZEISS Xradia Versa 630

　　及其新功能

　　蔡司代理昆山友碩小編介紹作為Versa系列的全新成員，該設(shè)備打破了分辨率性能限制，提供直觀的用戶體驗(yàn)，通過簡(jiǎn)單的引導(dǎo)式工作流程和更高的吞吐量提高了生產(chǎn)力。采用顛覆性AI的重建技術(shù)，為學(xué)術(shù)和工業(yè)領(lǐng)域用戶提供X射線顯微鏡新功能。探索材料科學(xué)、電池研究、先進(jìn)電子學(xué)、生命科學(xué)等領(lǐng)域內(nèi)前所未有的樣品測(cè)試應(yīng)用。更多蔡司信息請(qǐng)點(diǎn)ZX昆山友碩