上文提到：

調(diào)試的核心的目標(biāo)只有一個(gè)，那就是盡可能精確地鎖定到?jīng)Q定性的錯(cuò)誤因素．
而核心的手段也只有一個(gè)，那就是分解問(wèn)題．李昂1998，公眾號(hào)：吉大儀電216小論壇硬件調(diào)試和軟件調(diào)試的一點(diǎn)點(diǎn)微小的思路1

由上文可知，只有找到?jīng)Q定性的錯(cuò)誤因素，才能避免該換電源的時(shí)候換了燈絲，該換燈絲的時(shí)候換了開(kāi)關(guān)，該換開(kāi)關(guān)的時(shí)候換了電源．．．．．最后解決問(wèn)題的效率極慢甚至徒勞無(wú)功．

那么如何找到?jīng)Q定性的錯(cuò)誤因素呢？，如上文開(kāi)頭所，核心手段就是分解問(wèn)題．

分解問(wèn)題大體上可以分為兩種：

????分解串行問(wèn)題的斷點(diǎn)調(diào)試方法

?? ?分解并行問(wèn)題的對(duì)照試驗(yàn)方法．

一．分解串行問(wèn)題的斷點(diǎn)調(diào)試方法

串行問(wèn)題發(fā)生在流程式的系統(tǒng)當(dāng)中，流程怎么理解呢？就是有順序的，按步驟地實(shí)現(xiàn)特定的功能，有明顯的先后之分．

拿“陀螺儀數(shù)據(jù)顯示”這個(gè)小系統(tǒng)為例，這就是一個(gè)典型的流程式的系統(tǒng)．

第一步，陀螺儀初始化．

第二步，陀螺儀測(cè)量到姿態(tài)信息．

第三步，陀螺儀編碼姿態(tài)信息．

第四步，陀螺儀發(fā)送姿態(tài)信息．

第五步，上位機(jī)接收姿態(tài)信息．

第六步，上位機(jī)解碼姿態(tài)信息．

第七步，上位機(jī)顯示姿態(tài)信息．

每一步之間有嚴(yán)格的先后關(guān)系，前一步不成功，后面的步驟哪怕都沒(méi)問(wèn)題，最后的結(jié)果也一定不正確．

如果你看到了最后的現(xiàn)象是“上位機(jī)不顯示姿態(tài)信息”，那么在進(jìn)一步調(diào)試系統(tǒng)之前，你面臨的困境就是“每一步都可能出問(wèn)題”．而且如果上一步存在問(wèn)題，無(wú)論下一步是否存在問(wèn)題，總的現(xiàn)象都是有問(wèn)題．

這時(shí)就需要用到“斷點(diǎn)”的調(diào)試方法，或者廣義一點(diǎn)說(shuō)，是斷點(diǎn)式的調(diào)試思想．

最顯而易見(jiàn)的斷點(diǎn)調(diào)試方法，就是在程序里面打斷點(diǎn)，不必多說(shuō)．除此之外，還有斷點(diǎn)思想的廣義調(diào)試方法，不僅可以打程序斷點(diǎn)，還可以打物理斷點(diǎn)（字面意義上把導(dǎo)線斷開(kāi)），還可以打數(shù)學(xué)斷點(diǎn)（對(duì)求解的多個(gè)步驟依次驗(yàn)算）等等．只要是針對(duì)串行問(wèn)題的步驟分解方法，都能夠叫做斷點(diǎn)思想的廣義調(diào)試方法．

斷點(diǎn)思想的廣義調(diào)試方法是解決串行問(wèn)題的基本方法．

二．分解并行問(wèn)題的對(duì)照試驗(yàn)方法

并行問(wèn)題發(fā)生在有應(yīng)該相互獨(dú)立的多個(gè)部分的系統(tǒng)當(dāng)中，說(shuō)并行問(wèn)題發(fā)生在相互獨(dú)立的多個(gè)部分是很好理解的，但是為什么有多了應(yīng)該兩個(gè)字呢？

這是因?yàn)?，如果系統(tǒng)的各個(gè)應(yīng)該相互獨(dú)立的多個(gè)部分真的相互獨(dú)立，完全不會(huì)互相影響，那么就不會(huì)出現(xiàn)并行問(wèn)題了．并行問(wèn)題的本質(zhì)，就是本來(lái)應(yīng)該相互獨(dú)立的多個(gè)部分，實(shí)質(zhì)上并沒(méi)有相互獨(dú)立，而他們之間的我們不希望的相互影響，正是造成并行問(wèn)題的根本原因．

對(duì)照試驗(yàn)方法正是探究多個(gè)部分的相互影響的一個(gè)重要手段，對(duì)照試驗(yàn)本身也極大地推動(dòng)了人類認(rèn)識(shí)自然的偉大進(jìn)程．

拿“stm32控制步進(jìn)電機(jī)并顯示”這個(gè)小系統(tǒng)為例，這就是一個(gè)典型的存在并行部分的系統(tǒng)．

部分一：stm32控制步進(jìn)電機(jī)的轉(zhuǎn)速

部分二：stm32控制OLED顯示當(dāng)前的轉(zhuǎn)速

我們希望的是，這兩個(gè)部分完全不相互影響，也就是應(yīng)該獨(dú)立，而當(dāng)這樣的系統(tǒng)出現(xiàn)bug時(shí)，就要考慮各個(gè)并行部分是否實(shí)際獨(dú)立了．

這個(gè)時(shí)候就可以設(shè)計(jì)以下的一組對(duì)照試驗(yàn)，來(lái)判斷是否出現(xiàn)了并行問(wèn)題：

實(shí)驗(yàn)一：stm32控制步進(jìn)電機(jī)，但不控制OLED．

實(shí)驗(yàn)二：stm32控制OLED，但不控制步進(jìn)電機(jī)．

實(shí)驗(yàn)三：stm32既控制步進(jìn)電機(jī)，又控制OLED．

如果實(shí)驗(yàn)三的結(jié)果是無(wú)法同時(shí)工作，實(shí)驗(yàn)一和實(shí)驗(yàn)二的結(jié)果是可以單獨(dú)工作，那么就很明顯，這個(gè)系統(tǒng)出現(xiàn)了并行問(wèn)題，這個(gè)時(shí)候我們就要著重考察這兩個(gè)部分所占用的共同資源（如標(biāo)志位、CPU資源等）和各部分控制的全局因素（如全局延時(shí)、更改全局變量等）．

如果實(shí)驗(yàn)一或者實(shí)驗(yàn)二其中一個(gè)無(wú)法單獨(dú)工作，那么無(wú)法判斷現(xiàn)在是否出現(xiàn)并行問(wèn)題，應(yīng)該先保證各個(gè)部分能夠獨(dú)立工作．

實(shí)際中的系統(tǒng)往往是串行問(wèn)題和并行問(wèn)題混雜的，經(jīng)常是多個(gè)串行問(wèn)題形成的步驟鏈彼此是應(yīng)該相互獨(dú)立的，因此，斷點(diǎn)調(diào)試方法和對(duì)照試驗(yàn)方法都需要靈活掌握．