三次元測量儀和二次元影像儀加探針在測量物體的三維參數(shù)方面有一些不同之處。以下是它們的區(qū)別：

測量原理：三次元測量儀通常使用激光掃描、觸發(fā)探針或光學(xué)投影等技術(shù)，以獲取物體的三維坐標(biāo)和形狀數(shù)據(jù)。它可以直接測量物體的高度、深度和曲率等三維特征。

而二次元影像儀加探針則是將傳統(tǒng)的二次元影像測量儀與觸發(fā)探針相結(jié)合。通過安裝探針，可以在平面上獲取物體的尺寸、形狀和位置信息，并通過測量點的坐標(biāo)來計算出物體的三維參數(shù)。

適用范圍：三次元測量儀適用于需要全方位、高精度的三維測量任務(wù)。它可以應(yīng)對復(fù)雜的幾何形狀和曲面特征，適用于工業(yè)制造、逆向工程、產(chǎn)品研發(fā)等領(lǐng)域。

二次元影像儀加探針主要用于簡單的三維參數(shù)測量和表面缺陷檢測。它適用于平面零件和較為簡單的幾何形狀，以及對尺寸和位置的快速測量需求。

測量精度和速度：由于三次元測量儀可以直接獲取物體的三維數(shù)據(jù)，因此在精度和測量速度方面通常更高。它可以實現(xiàn)高精度和高效率的測量任務(wù)。

而二次元影像測量儀加探針在垂直方向的測量精度可能會受到限制，但它具有較快的測量速度和操作簡便性。

總之，三次元測量儀和二次元影像儀加探針在測量原理、適用范圍和測量精度等方面存在一些差異。根據(jù)具體的測量需求和對象特征，選擇適合的測量設(shè)備能夠提高測量效果和準(zhǔn)確性。

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