IM7580日本日置IM7580阻抗分析儀

日本日置IM7580阻抗分析儀

300MHz快、通過高速測量和高反復精度縮短工時、加速生產(chǎn)

測量頻率1MHz~300MHz

測量時間：0.5ms

基本精度±0.72%rdg.

緊湊主機僅機架一半大小、測試頭僅手掌大小

豐富的接觸檢查功能（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定）

使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量

HIOKI日置阻抗分析儀IM7580的特點：

1.最高300MHz的高頻測量

IM7580的測量頻率為1MHz~300MHz。在以單一頻率測量的LCR表的模式下，判斷出貨檢查時的合格與否，改變頻率的同時在測量的分析模式下可用于產(chǎn)品開發(fā)的特性評估等多種領(lǐng)域中。

2.最快0.5ms的高速測量或高穩(wěn)定性的測量，有助于提高生產(chǎn)效率

可進行最快0.5ms（0.0005秒）的高速測量。這樣，對于希望更快速的檢查大批量電子元器件的電子元器件廠家來說能夠大幅提高生產(chǎn)效率。

而且，測量的反復精度提高到以往產(chǎn)品的1/10，讓測量更加穩(wěn)定，改善了生產(chǎn)產(chǎn)量，提高了生產(chǎn)效率。

3.主機體積更小，有助于降低生產(chǎn)成本

在電子元器件廠家的生產(chǎn)線中，將各種儀器整合在機架上制作成檢查系統(tǒng)，然后進行自動檢查。因此，主機體積小的話，則檢查系統(tǒng)也會小巧，通過安裝多臺儀器可以索多檢查時間，從而降低生產(chǎn)成本。

IM7580的體積是半個機架的大?。ㄩL215mm，高200mm，厚268mm），一個機架可以安裝2臺。

4.各種各樣的判斷功能判斷合格與否

在單一的頻率測量的LCR表的模式下，有判斷電子元器件合格與否的比較器功能，選擇電子元器件的BIN功能。比較器功能中設(shè)置上下限值，以此為判斷標準來判斷是否合格。使用比較器功能是按照一個判斷標準判斷是否合格，而BIN功能是最多設(shè)置10個判斷標準，然后進行排名

使用多個頻率測量的分析模式的話，則有可從電子零部件的頻率特性中判斷合格與否的區(qū)域、峰值比較功能。區(qū)域判斷是確認測量值是否進入任意設(shè)置的判斷區(qū)域中的功能。峰值判斷是設(shè)置上限值、下限值、左限值、有限制后，判斷共振點的功能。

HIOKI日置阻抗分析儀IM7580主要用途：

電子元器件廠家的電子元器件的出貨檢查；

電子公司的電子元器件的驗收和特性評