芯片生產上市前將進行一系列準確復雜的有效性驗證過程，需要使用x-ray檢測設備，因為x-ray檢測設備可以有效檢測半導體芯片的內部缺陷。

現(xiàn)在芯片越來越小，越來越小，越來越高密度，越來越需要x-ray檢測設備的放大率和分辨率來檢測其內部缺陷，以確保芯片的質量沒有問題。

在半導體包裝實驗過程中，樣品驗證速度越快，越有可能保證其商品快速投放市場。只有產品質量和產量達標后，才能進行大規(guī)模生產，然后上市。

x-ray無損檢測在半導體密封檢測領域實現(xiàn)了100%的在線監(jiān)測，成為驗證產品質量的重要途徑。隨著半導體芯片新技術的迭代更新，x-ray檢測技術也朝著高精度、智能化的方向發(fā)展，緊跟半導體密封檢測的新趨勢、新要求。

瑞茂光學（深圳）有限公司成立于2012年，通過多年的技術積累和嚴謹守信的經營模式，已高速發(fā)展成集研發(fā)、設計、生產、加工、銷售為一體的大型專業(yè)X-RAY、X射線自動判斷設備的制造企業(yè)。公司自成立以來，主要供應顯微鏡、工業(yè)度量系統(tǒng)、影像測量儀及 X-RAY 系統(tǒng)解決方案，通過先進的技術方案和完善的銷售網絡，不斷引領無損傷檢測細分領域，為全球制造業(yè)提供一站式產品和技術服務方案。

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