GB/T 2423.22-2012 試驗(yàn)N：溫度變化
溫度變化試驗(yàn)適用于確定一次或連續(xù)多次溫度變化對(duì)試驗(yàn)樣品的影響。本試驗(yàn)不能用來考核僅由高溫或低溫所引起的影響，對(duì)這種影響，應(yīng)使用高溫或低溫試驗(yàn)法。
影響溫度變化試驗(yàn)的主要參數(shù)是:
溫度變化范圍的高溫和低溫溫度值；
試驗(yàn)樣品在高溫和低溫下的保持時(shí)間；
低溫到高溫或高溫到低溫之間溫度變化的速率；
條件試驗(yàn)循環(huán)數(shù)；
試驗(yàn)樣品吸收或放出的總熱量。
試驗(yàn)Na:規(guī)定轉(zhuǎn)換時(shí)間的快速溫度變化
試驗(yàn)?zāi)康?/span>
確定元件、設(shè)備和其它產(chǎn)品經(jīng)受環(huán)境溫度迅速變化的能力。所需的暴露時(shí)間，取決于試驗(yàn)樣品的性質(zhì)。
試驗(yàn)一般說明
把試驗(yàn)樣品交替暴露于低溫和高溫空氣(或合適的惰性氣體)中，使其經(jīng)受溫度快速變化的影響。
嚴(yán)酷等級(jí)
試驗(yàn)嚴(yán)酷程度由低溫與高溫溫度值、轉(zhuǎn)換時(shí)間和循環(huán)數(shù)確定。
有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)中應(yīng)規(guī)定低溫 TA 和高溫 TB，該溫度均應(yīng)從 GB 2423.1《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法》和 GB 2423.2《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法》規(guī)定的試驗(yàn)溫度中選取。
除非有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)另有規(guī)定，循環(huán)數(shù)應(yīng)為 5。
除非有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)另有規(guī)定，轉(zhuǎn)換時(shí)間 t2，應(yīng)為 2～3min。
初始檢測(cè)
按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求對(duì)試驗(yàn)樣品進(jìn)行外觀檢查及電氣和機(jī)械性能的檢測(cè)。
條件試驗(yàn)
試驗(yàn)樣品應(yīng)在不包裝、不通電、準(zhǔn)備使用狀態(tài)或標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的其它狀態(tài)進(jìn)行試驗(yàn)，條件試驗(yàn)開始時(shí)，試驗(yàn)樣品的溫度應(yīng)是試驗(yàn)室溫度。
在低溫和高溫下的試驗(yàn)時(shí)間 t1，取決于試驗(yàn)樣品的熱容量，試驗(yàn)時(shí)間應(yīng)為 3h、2h、1h、30min 或 10min，由有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，若有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)未規(guī)定試驗(yàn)時(shí)間時(shí)，則為 3h。
低溫箱內(nèi)溫度預(yù)先調(diào)節(jié)到要求的低溫 TA，然后把試驗(yàn)樣品放入箱內(nèi)。
低溫箱的溫度應(yīng)在 TA 下保持規(guī)定時(shí)間 t1， t1 值包括放入試驗(yàn)樣品后箱內(nèi)溫度恢復(fù)到 TA 所需的時(shí)間，該時(shí)間不應(yīng)大于 0.1t1。注:t1 試驗(yàn)時(shí)間，是從試驗(yàn)樣品放入試驗(yàn)箱的瞬間算起。
轉(zhuǎn)換時(shí)間 t2，試驗(yàn)樣品從低溫箱中取出并轉(zhuǎn)移到高溫箱中，轉(zhuǎn)換時(shí)間 t2，包括從一個(gè)箱取出和放入另一個(gè)箱的時(shí)間，以及在試驗(yàn)室環(huán)境溫度下停頓的時(shí)間。轉(zhuǎn)換時(shí)間分為下列三種，由有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)根據(jù)要求自定: 2～3min，20～30s；<10s。
高溫箱的溫度應(yīng)在高溫 TB 下保持要求的時(shí)間 t1。t1 包括放入試驗(yàn)樣品后箱內(nèi)溫度恢復(fù)到穩(wěn)定狀態(tài)的過程時(shí)間，該時(shí)間不應(yīng)大于 0.1t1。注：試驗(yàn)時(shí)間 t1，是從試驗(yàn)樣品放入箱內(nèi)的瞬間算起。
把試驗(yàn)樣品按 5 規(guī)定的轉(zhuǎn)換時(shí)間 t2，轉(zhuǎn)移到低溫箱，進(jìn)行下一個(gè)循環(huán)。
每一個(gè)循環(huán)由兩個(gè)試驗(yàn)時(shí)間 t1，和兩個(gè)轉(zhuǎn)換時(shí)間 t2組成。
9. 除非有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)另有規(guī)定，試驗(yàn)樣品應(yīng)按 3～8 各個(gè)程序經(jīng)受 5 次循環(huán)。
10. 最后一個(gè)循環(huán)結(jié)束時(shí)，試驗(yàn)樣品應(yīng)按規(guī)定進(jìn)行恢復(fù)程序。
恢復(fù)
條件試驗(yàn)結(jié)束后，試驗(yàn)樣品在試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下恢復(fù)，時(shí)間要足以達(dá)到溫度穩(wěn)定。對(duì)已知類型的試驗(yàn)樣品，有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)可規(guī)定具體的恢復(fù)時(shí)間。
試驗(yàn)結(jié)束后檢測(cè)
應(yīng)按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的要求對(duì)試驗(yàn)樣品進(jìn)行外觀檢查及電氣與機(jī)械性能的檢測(cè)。
試驗(yàn)Nb:規(guī)定溫度變化速率的溫度變化
試驗(yàn)?zāi)康?/span>
確定元件、設(shè)備或其它產(chǎn)品耐環(huán)境溫度變化的能力和在環(huán)境溫度變化期間的工作能力。
試驗(yàn)一般說明
把試驗(yàn)樣品放入能以一定速率變化到規(guī)定溫度的試驗(yàn)箱中經(jīng)受溫度變化試驗(yàn)，在試驗(yàn)期間可以監(jiān)測(cè)試驗(yàn)樣品的性能。
嚴(yán)酷等級(jí)
試驗(yàn)嚴(yán)酷程度由試驗(yàn)的低溫和高溫溫度值，溫度變化速率和循環(huán)數(shù)來確定。
有關(guān)規(guī)范中應(yīng)規(guī)定低溫 TA。TA 應(yīng)從 GB/T 2423.1 和 GB/T 2423.2 規(guī)定的試驗(yàn)溫度中選取。有關(guān)規(guī)范中應(yīng)規(guī)定高溫 TB。TB 應(yīng)從 GB/T 2423.1 和 GB/T 2423.2 規(guī)定的試驗(yàn)溫度中選取。
除非有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)另有規(guī)定，試驗(yàn)箱的溫度升降變化速率(不超過 5min 內(nèi)的平均值)應(yīng)為 1±0.2℃/min，3±0.6℃/min 或 5±1℃/min。
除非有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)另有規(guī)定，循環(huán)數(shù)應(yīng)為 2。
初始檢測(cè)
按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求對(duì)試驗(yàn)樣品進(jìn)行外觀檢查及電氣和機(jī)械性能的檢測(cè)。
條件試驗(yàn)
將試驗(yàn)樣品放入試驗(yàn)箱中，此時(shí)，試驗(yàn)樣品和試驗(yàn)箱均在試驗(yàn)室溫度下。
若有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求時(shí)，試驗(yàn)樣品可處于運(yùn)行狀態(tài)。
然后，使試驗(yàn)箱的溫度以規(guī)定速率降低到規(guī)定的低溫 TA。
在低溫或高溫下的試驗(yàn)時(shí)間 t1，取決于試驗(yàn)樣品的熱容量，t1 應(yīng)為 3h、2h、1h、30min 或 10min，由有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)選定，當(dāng)有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)未規(guī)定試驗(yàn)時(shí)間時(shí)，則為 3h。
試驗(yàn)箱溫度達(dá)到穩(wěn)定以后，試驗(yàn)樣品在低溫 TA下保持試驗(yàn)規(guī)定的時(shí)間 t1。
然后將試驗(yàn)箱溫度按規(guī)定的速率升到規(guī)定的高溫 TB。
在試驗(yàn)箱溫度達(dá)到穩(wěn)定后，試驗(yàn)樣品在高溫 TB，下保持試驗(yàn)規(guī)定的時(shí)間 t1。
將箱內(nèi)溫度按規(guī)定的速率降低到試驗(yàn)室環(huán)境溫度值。
上述程序構(gòu)成一個(gè)循環(huán)。
10. 除非有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)另有規(guī)定，試驗(yàn)樣品經(jīng)受兩次連續(xù)的循環(huán)。
11. 按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的要求在條件試驗(yàn)期間內(nèi)對(duì)試驗(yàn)樣品進(jìn)行檢測(cè)，并規(guī)定: a.條件試驗(yàn)期間所要進(jìn)行的電氣及機(jī)械性能檢測(cè)的項(xiàng)目；b.檢測(cè)的開始時(shí)間。
12. 試驗(yàn)樣品從試驗(yàn)箱中取出前，應(yīng)使在試驗(yàn)室環(huán)境溫度下達(dá)到溫度穩(wěn)定。
恢復(fù)
在條件試驗(yàn)結(jié)束時(shí)，將試驗(yàn)樣品保留在試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下恢復(fù)，時(shí)間要足以達(dá)到溫度穩(wěn)定。對(duì)已知類型的試驗(yàn)樣品，有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)可規(guī)定具體恢復(fù)時(shí)間。
試驗(yàn)結(jié)束后檢測(cè)
應(yīng)按照有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的要求對(duì)試驗(yàn)樣品進(jìn)行外觀檢查及電氣和機(jī)械性能的檢測(cè)。
試驗(yàn)Nc:兩液槽溫度快速變化
試驗(yàn)?zāi)康?/span>
確定元件、設(shè)備或其它產(chǎn)品經(jīng)受溫度快速變化的能力。本試驗(yàn)產(chǎn)生一種急劇的熱沖擊，適用于玻璃一金屬密封及類似的試驗(yàn)樣品。
試驗(yàn)一般說明
試驗(yàn)樣品交替漫于兩個(gè)液槽中經(jīng)受溫度快速變化試驗(yàn)。
試驗(yàn)嚴(yán)酷等級(jí)
試驗(yàn)的嚴(yán)酷程度，由所規(guī)定的槽液溫度，從一個(gè)槽到另一個(gè)槽的轉(zhuǎn)換時(shí)間 t2 及循環(huán)數(shù)來確定。
本試驗(yàn)方法有兩組標(biāo)準(zhǔn)化了的持續(xù)時(shí)間參數(shù): 第一組: t2=8±2s 5min≤1<20min；第二組: t2=2±1s 15s≤t<5min
除非有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)另有規(guī)定，循環(huán)數(shù)應(yīng)為 10。
初始檢測(cè)
初始檢測(cè)按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求，對(duì)樣品進(jìn)行外觀檢查及電氣與機(jī)械性能檢測(cè)。
試驗(yàn)后檢測(cè)
試驗(yàn)樣品應(yīng)在不包裝的條件下進(jìn)行試驗(yàn)。
將試驗(yàn)室環(huán)境溫度下的試驗(yàn)樣品浸入試驗(yàn)規(guī)定溫度的低溫槽中。
試驗(yàn)樣品浸在低溫槽中，保持 t1 的時(shí)間。
從低溫槽中取出試驗(yàn)樣品，并浸入具有規(guī)定溫度的高溫槽中，轉(zhuǎn)換時(shí)間 t2 應(yīng)符合規(guī)定。
試驗(yàn)樣品浸在高溫槽中，保持t1時(shí)間。
試驗(yàn)樣品從高溫槽中取出并浸入低溫槽中之轉(zhuǎn)換時(shí)間 t2，應(yīng)符合規(guī)定。
一個(gè)循環(huán)包括兩個(gè)浸漬時(shí)間t1和兩個(gè)轉(zhuǎn)換時(shí)間 t2。
8.? 除非有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)另有規(guī)定，試驗(yàn)樣品應(yīng)經(jīng)受 10 個(gè)循環(huán)。
9. 在最后一個(gè)循環(huán)結(jié)束時(shí)，對(duì)樣品應(yīng)進(jìn)行規(guī)定的恢復(fù)程序。
恢復(fù)
條件試驗(yàn)結(jié)束后，試驗(yàn)樣品應(yīng)在試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下恢復(fù)，時(shí)間要足以達(dá)到溫度達(dá)穩(wěn)定，除去殘留在試驗(yàn)樣品上的液滴，有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)可按需要規(guī)定具體的清除方法對(duì)已知類型的試驗(yàn)樣品，有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)可規(guī)定一個(gè)特定的恢復(fù)時(shí)間。
試驗(yàn)結(jié)束后檢測(cè)
按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的要求對(duì)試驗(yàn)樣品進(jìn)行外觀檢查及電氣與機(jī)械性能的檢測(cè)。
