軍工產(chǎn)品元器件篩選標(biāo)準(zhǔn),軍用品測(cè)試實(shí)驗(yàn)室
需要做環(huán)境應(yīng)力篩選/溫度循環(huán)試驗(yàn)的產(chǎn)品有:軍用計(jì)算機(jī)、工控機(jī)、防火墻、交換機(jī)、軍用車裁控制器、軍用車裁顯示終端、軍用加速度傳感器、軍用電子對(duì)抗設(shè)備、軍用信息設(shè)備等等。
? 篩選試驗(yàn)一般是對(duì)元器件成品而進(jìn)行的,但也可以在生產(chǎn)過程中對(duì)元器件的半成品進(jìn)行,例如,質(zhì)量保證等級(jí)較高的半導(dǎo)體器件封帽前的非破壞性鍵合拉力試驗(yàn)、內(nèi)部目檢等篩選都屬于半成品篩選。為有效剔除有缺陷的元器件,減少系統(tǒng)或設(shè)備的早期失效,本文主要提出了對(duì)軍用電子元器件成品進(jìn)行二次篩選試驗(yàn)的基本原則、要求、項(xiàng)目和方法供參考。
二次篩選的適應(yīng)范圍
二次篩選(或補(bǔ)充篩選)主要適用于下列四種情況的元器件:
a.元器件生產(chǎn)方未進(jìn)行“一次篩選”,或使用方對(duì)“一次篩選”的項(xiàng)目和應(yīng)力不具體了解的;
b.元器件生產(chǎn)方已進(jìn)行了“一次篩選”,但“一次篩選”的項(xiàng)目或應(yīng)力還不能滿足使用方對(duì)元器件質(zhì)量要求的;
c.在元器件的產(chǎn)品規(guī)范中未作具體規(guī)定、元器件生產(chǎn)方也不具備篩選條件的特殊篩選項(xiàng)目;
d.對(duì)元器件生產(chǎn)方是否已按合同或規(guī)范的要求進(jìn)行了“一次篩選”或?qū)Τ兄品健耙淮魏Y選”的有效性有疑問需要進(jìn)行驗(yàn)證的元器件。
以上a、b、c三種情況元器件的二次篩選(補(bǔ)充篩選)是很難用其它措施替代的。對(duì)于情況d則除了進(jìn)行二次篩選(補(bǔ)充篩選)外,還可采取對(duì)元器件生產(chǎn)方“一次篩選”進(jìn)行監(jiān)督等措施來替代二次篩選(補(bǔ)充篩選)。
軍工檢測(cè)篩選試驗(yàn)方法
篩選試驗(yàn)可分為常規(guī)篩選(如密封性篩選)和特殊環(huán)境篩選(如抗輻射、鹽霧等)。本文主要介紹常規(guī)篩選方法。常規(guī)篩選方法主要有如下幾種:
a.檢查篩選
檢查篩選可采取鏡檢、紅外線篩選、X射線篩選。紅外線篩選可以剔除體內(nèi)或表面熱缺陷嚴(yán)重的器,X射線篩選主要用于檢查管殼內(nèi)有無外來物和裝片、鍵合或封裝工序的缺陷以及芯片裂紋。
b.密封性篩選(如氣泡法、氨質(zhì)譜儀法、放射性氣體、示蹤檢漏法),用于剔除管殼及密封工藝中所在的缺陷(如裂紋、微小漏孔、氣孔以及封裝對(duì)位欠佳)。
c.環(huán)境應(yīng)力篩選(如振動(dòng)加速度、沖擊加速度、離心加速度、溫度循環(huán)和熱沖擊等);
d.壽命篩選(高溫貯存、低溫貯存、老練篩選、精密篩選、線性判別);
e.電測(cè)試篩選(對(duì)晶體管的補(bǔ)充手段)。
在實(shí)際中也常采用物理篩選(非破壞性的)和老練篩選(破壞性的)相結(jié)合的方式進(jìn)行。老練篩選效果好但成本高,物理篩選雖成本低,但效果差。工檢測(cè)篩選的有效性
軍品檢測(cè)選試驗(yàn)的應(yīng)力的確定原則
a.篩選應(yīng)力類型應(yīng)選擇能激發(fā)早期失效的應(yīng)力,根據(jù)不同產(chǎn)品所學(xué)握的信息及失效機(jī)理來確定;
b.篩選應(yīng)力應(yīng)以能激發(fā)出早期失效為宗旨,使產(chǎn)品各種隱患和缺陷盡快暴露出來;
c.篩選應(yīng)力不應(yīng)使正常產(chǎn)品失效;
d.篩選應(yīng)力去掉后,不應(yīng)使產(chǎn)品留下殘余應(yīng)力或影響產(chǎn)品的使用壽命;
e.應(yīng)力篩選試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間應(yīng)以能充分懸露早期失效為原則
軍工檢測(cè)元器件篩詵相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)
對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行篩選試驗(yàn)時(shí),應(yīng)根據(jù)產(chǎn)品的總規(guī)范中的要求來選擇試驗(yàn)項(xiàng)目。以下是幾種主要的試驗(yàn)方法及元器件的適用范圍。
GJB360A-96(電子及電氣元件試驗(yàn)方法)話用干電陰器,申容器,電威器,連接器,開關(guān),電器,變樂器,等電子及電氣元件。
GJB360A-96只適用干重量小干136ka或試驗(yàn)電樂低干50000V(有效值)的電子及電氣元件。
GJB128-97(半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法))適用于各種軍用半導(dǎo)體分立器件。
GJB548A-96(微電子器件試驗(yàn)方法和程序)適應(yīng)于微電子器件。
篩選試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)在執(zhí)行過程中不能隨意改動(dòng)。如需改動(dòng),應(yīng)經(jīng)型號(hào)總師批準(zhǔn),標(biāo)準(zhǔn)歸口部門簽發(fā)臨時(shí)更改單。對(duì)靜電敏感器件,在篩選、測(cè)試時(shí)應(yīng)按有關(guān)規(guī)定進(jìn)行防靜電處理。