聚焦離子束顯微鏡 (FIB) 的原理及應(yīng)用
????????聚焦離子束顯微鏡(Focused Ion Beam, FIB)是一種先進(jìn)的材料表征和納米加工工具,被廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、半導(dǎo)體制造和生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域。它利用高能離子束在樣品表面掃描,實(shí)現(xiàn)納米尺度的成像、刻蝕和沉積。
????????聚焦離子束顯微鏡的原理是通過(guò)將離子束聚焦到納米尺度,并探測(cè)離子與樣品之間的相互作用來(lái)實(shí)現(xiàn)成像。離子束可以是氬離子、鐳離子等,在加速電壓的作用下,形成高能離子束。通過(guò)使用電場(chǎng)透鏡系統(tǒng),離子束可以被聚焦到非常小的尺寸,從而實(shí)現(xiàn)很高的空間分辨率。

????????FIB(聚焦離子束)是將液態(tài)金屬(大多數(shù)FIB都用Ga,也有設(shè)備具有He和Ne離子源)離子源產(chǎn)生的離子束經(jīng)過(guò)離子槍加速,聚焦后照射于樣品表面產(chǎn)生二次電子信號(hào)取得電子像,或用強(qiáng)電流離子束對(duì)表面原子進(jìn)行剝離,以完成微,納米級(jí)表面形貌加工。通常是以物理濺射的方式搭配化學(xué)氣體反應(yīng),有選擇性的剝除金屬,氧化硅層或沉積金屬層。
????????在成像方面,聚焦離子束顯微鏡和掃描電子顯微鏡的原理比較相近,其中離子束顯微鏡的試片表面受鎵離子掃描撞擊而激發(fā)出的二次電子和二次離子是影像的來(lái)源,影像的分辨率決定于離子束的大小與畸變修正、帶電離子的加速電壓、二次離子訊號(hào)的強(qiáng)度、試片接地的狀況、與儀器抗振動(dòng)和磁場(chǎng)的狀況,商用機(jī)型的影像分辨率最高已達(dá) 4nm,雖然其分辨率不及掃描式電子顯微鏡和穿透式電子顯微鏡,但是對(duì)于定點(diǎn)結(jié)構(gòu)的分析,它沒(méi)有試片制備的問(wèn)題,在工作時(shí)間上較為經(jīng)濟(jì),同時(shí)可以產(chǎn)生更多的信息,例如被觀察樣品的成分不同等。
聚焦離子束顯微鏡的基本功能可概分為四種:
1、定點(diǎn)切割(Precisional Cutting)-利用離子的物理碰撞來(lái)達(dá)到切割之目的。 廣泛應(yīng)用于集成電路(IC)和LCD的Cross Section加工和分析。
2、選擇性的材料蒸鍍(Selective Deposition)-以離子束的能量分解有機(jī)金屬蒸氣或氣相絕緣材料,在局部區(qū)域作導(dǎo)體或非導(dǎo)體的沉積,可提供金屬和氧化層的沉積(Metal and TEOS Deposition),常見(jiàn)的金屬沉積有鉑(Platinum,Pt)和鎢(Tungstun,W)二種。
3、強(qiáng)化性蝕刻或選擇性蝕刻(Enhanced Etching-Iodine/Selective Etching-XeF2)-輔以腐蝕性氣體,加速切割的效率或作選擇性的材料去除。
4、蝕刻終點(diǎn)偵測(cè)(End Point Detection)-偵測(cè)二次離子的訊號(hào),藉以了解切割或蝕刻的進(jìn)行狀況。
????????聚焦離子束顯微鏡的應(yīng)用非常廣泛。在材料科學(xué)領(lǐng)域,它可以用于表征材料的晶體結(jié)構(gòu)、微觀組織和成分分析。通過(guò)掃描離子束,可以獲得高分辨率的表面形貌和納米級(jí)別的結(jié)構(gòu)信息。在半導(dǎo)體制造中,F(xiàn)IB可以用于芯片修復(fù)、斷面制備和探針修飾等工藝步驟。通過(guò)刻蝕和沉積離子束,可以實(shí)現(xiàn)納米級(jí)別的結(jié)構(gòu)加工和修復(fù)。
????????在生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域,聚焦離子束顯微鏡也發(fā)揮著重要作用。它可以用于細(xì)胞和組織的三維成像,揭示生物樣品的微觀結(jié)構(gòu)和形態(tài)特征。同時(shí),F(xiàn)IB還可以用于生物樣品的切片制備和納米級(jí)別的修飾,為生物學(xué)研究提供了強(qiáng)有力的工具。
????????總之,聚焦離子束顯微鏡是一種強(qiáng)大的納米加工和材料表征工具,其原理和應(yīng)用涉及多個(gè)領(lǐng)域。它在材料科學(xué)、半導(dǎo)體制造和生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用,為科學(xué)研究和工程技術(shù)提供了重要支持。隨著技術(shù)的不斷發(fā)展,聚焦離子束顯微鏡將繼續(xù)在各個(gè)領(lǐng)域展示出更大的潛力和應(yīng)用前景。
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