TEM測(cè)試成像原理
在制備透射電子顯微鏡(TEM測(cè)試)薄膜樣品時(shí),科學(xué)指南針檢測(cè)平臺(tái)工作人員在與很多同學(xué)溝通中了解到,大多數(shù)同學(xué)沒(méi)有太好的處理薄膜樣品的方法,針對(duì)此,科學(xué)指南針檢測(cè)平臺(tái)團(tuán)隊(duì)組織相關(guān)同事對(duì)網(wǎng)上海量知識(shí)進(jìn)行整理,希望可以幫助到科研圈的伙伴們;
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明暗場(chǎng)成像原理:晶體薄膜樣品明暗場(chǎng)像的襯度(即不同區(qū)域的亮暗差別),是由于樣品相應(yīng)的不同部位結(jié)構(gòu)或取向的差別導(dǎo)致衍射強(qiáng)度的差異而形成的,因此稱其為衍射襯度,以衍射襯度機(jī)制為主而形成的圖像稱為衍襯像。如果只允許透射束通過(guò)物鏡光欄成像,稱其為明場(chǎng)像;如果只允許某支衍射束通過(guò)物鏡光欄成像,則稱為暗場(chǎng)像。就衍射襯度而言,樣品中不同部位結(jié)構(gòu)或取向的差別,實(shí)際上表現(xiàn)在滿足或偏離布拉格條件程度上的差別。滿足布拉格條件的區(qū)域,衍射束強(qiáng)度較高,而透射束強(qiáng)度相對(duì)較弱,用透射束成明場(chǎng)像該區(qū)域呈暗襯度;反之,偏離布拉格條件的區(qū)域,衍射束強(qiáng)度較弱,透射束強(qiáng)度相對(duì)較高,該區(qū)域在明場(chǎng)像中顯示亮襯度。而暗場(chǎng)像中的襯度則與選擇哪支衍射束成像有關(guān)。如果在一個(gè)晶粒內(nèi),在雙光束衍射條件下,明場(chǎng)像與暗場(chǎng)像的襯度恰好相反。
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