氦質(zhì)譜檢漏法中的正壓法是怎樣的?-深圳華爾升
氦質(zhì)譜檢漏法將氦氣作為示漏氣體,因?yàn)楹庠诳諝庵械暮可佟⒎肿有 ①|(zhì)量輕,易于穿過漏孔。根據(jù)檢漏過程中的示漏氣體存儲(chǔ)位置以及被檢件的關(guān)系,將氦質(zhì)譜檢漏法分為真空法、正壓法和背壓法,其中正壓法又分為正壓吸槍法和正壓累積法。
正壓吸槍法,首先在被檢產(chǎn)品中填充高于大氣壓力的氦氣,以保持一定時(shí)間的壓力。在檢漏過程中,吸槍的吸嘴沿著要檢測(cè)的部分從下向上移動(dòng)。當(dāng)遇到漏孔時(shí),容器中的氦氣通過漏孔漏出來,吸被吸槍吸入質(zhì)譜儀,對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行檢漏。

正壓吸槍法采用吸槍掃描檢查被檢產(chǎn)品的外表面,實(shí)現(xiàn)漏孔的準(zhǔn)確定位。而正壓累積法采用一定的密閉功能,用氦罩把被檢產(chǎn)品罩起來,一定時(shí)間后,用吸槍測(cè)量累積容器內(nèi)氦氣濃度變化量,實(shí)現(xiàn)被檢產(chǎn)品總漏率的精準(zhǔn)測(cè)量。
正壓法的優(yōu)點(diǎn)是不需要輔助,就可以準(zhǔn)確定位漏點(diǎn),在任何工作壓力下都可以檢測(cè)。主要用于大容積高壓密閉容器產(chǎn)品的檢漏。
正壓法的缺點(diǎn)是檢測(cè)靈敏度相對(duì)較低,檢測(cè)結(jié)果不確定,受測(cè)試環(huán)境影響較大。
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