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本書收錄了高級(jí)模擬電路研討會(huì)上18位演講者的發(fā)言稿，每一個(gè)部分都討論了有關(guān)模擬電路設(shè)計(jì)特定領(lǐng)域的新主題與極富價(jià)值的設(shè)計(jì)理念。每一部分的內(nèi)容都由本領(lǐng)域內(nèi)的六位專家來(lái)陳述，并負(fù)責(zé)分享當(dāng)前新的技術(shù)資訊。本書主要內(nèi)容包括魯棒性設(shè)計(jì)、Sigma-Delta數(shù)-模轉(zhuǎn)換器以及射頻設(shè)計(jì)技術(shù)。對(duì)于投身于模擬電路設(shè)計(jì)領(lǐng)域且希望跟蹤本領(lǐng)域新技術(shù)的研究人員而言，本書是一本不錯(cuò)的參考文獻(xiàn)。本書所涵蓋的內(nèi)容也適用于高級(jí)電路設(shè)計(jì)課程。

目錄

譯者序
原書前言
貢獻(xiàn)者
第1 部分　魯棒性設(shè)計(jì)
第1 章　納米CMOS 技術(shù)中模擬集成電路的可靠性建模與設(shè)計(jì) 3
Georges Gielen， Elie Maricau 和Pieter De Wit
第2 章　納米CMOS 技術(shù)中的統(tǒng)計(jì)變異性建模和模擬 14
A.. Asenov 和B.. Cheng
第3 章　納米尺度模擬CMOS 的高級(jí)物理設(shè)計(jì) 27
Lanny L.. Lewyn
第4 章　高溫高壓應(yīng)用環(huán)境下的健壯性設(shè)計(jì) 41
Ovidiu Vermesan， Edgard Laes， Marco Ottella， Mamun Jamal， Jan Kubik，
Kafil M.. Razeeb， Reiner John， Harald Gall， Massimo Abrate，
Nicolas Cordero 和Jan Vcelak
第5 章　CMOS 技術(shù)中的輻射效應(yīng)與加固設(shè)計(jì) 54
Federico Faccio
第6 章　智能功率高位開關(guān)電磁兼容性設(shè)計(jì) 70
Paolo Del Croce 和Bernd Deutschmann
第2 部分　Sigma.Delta 轉(zhuǎn)換器
第7 章　噪聲耦合Delta.Sigma 模.數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC） 82
Kyehyung Lee 和Gabor C.. Temes
第8 章　甚低過(guò)采樣率Sigma.Delta 轉(zhuǎn)換器 103
Trevor C.. Caldwell
第9 章　基于比較器的開關(guān)電容Delta.Sigma A.D 轉(zhuǎn)換器 121
Koen Cornelissens 和Michiel Steyaert
第10 章　基于VCO 的寬帶連續(xù)時(shí)間Sigma.Delta 數(shù).模轉(zhuǎn)換器 138
Michael H.. Perrott
第11 章　寬帶連續(xù)時(shí)間多比特Delta.Sigma ADC 160
J.. Silva.Martinez， C.. .Y.. Lu， M.. Onabajo， F.. Silva.Rivas， V.. Dhanasekaran 和
M.. Gambhir
第12 章　過(guò)采樣數(shù).模轉(zhuǎn)換器（DAC） 180
Andrea Baschirotto， Vittorio Colonna 和Gabriele Gandolfi
第3 部分　射頻識(shí)別技術(shù)
第13 章　RFID———一項(xiàng)在工業(yè)應(yīng)用中蓄勢(shì)待發(fā)的技術(shù) 205
Henri Barthel
第14 章　世界上最小的RFID 芯片技術(shù) 220
Mitsuo Usami
第15 章　RF 和RFID 的低功耗模擬設(shè)計(jì) 229
Raymond Barnett
第16 章　一種雙頻帶綜合射頻識(shí)別標(biāo)簽 247
Albert Missoni， Günter Hofer 和Wolfgang Pribyl
第17 章　印刷電子學(xué)———電路、產(chǎn)品和路線圖的首次提出 264
Jürgen Krumm 和Wolfgang Clemens
第18 章　EPC 兼容有機(jī)RFID 標(biāo)簽 275

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