1.AFM和MFM都可以出形貌圖，這兩種有什么區(qū)別？以哪個(gè)為準(zhǔn)？

答：AFM出的圖是形貌圖，MFM出的圖是抬起模式相圖也就是磁疇分布圖，在分析相圖時(shí)需要對(duì)比形貌圖，分析兩者之間的差異從而得到磁分布的信息。

2. AFM可以分析材料的親疏水性嗎？如何判斷？

答：可以分析，需要用液下模式。

3.樣品導(dǎo)電性不好，需要噴金嗎？

答：AFM對(duì)樣品表面的導(dǎo)電性沒(méi)有要求，可以測(cè)導(dǎo)電的和不導(dǎo)電的。

4.測(cè)量樣品起伏度有極限值嗎？

答：有極限值，最好1微米之內(nèi)，5微米以內(nèi)根據(jù)樣品性質(zhì)用輕敲模式掃描時(shí)降低掃描1速度可以實(shí)現(xiàn)，大于5微米的樣品不建議使用AFM進(jìn)行測(cè)試。

5. 樣品尺寸較大，微米級(jí)的可以測(cè)嗎？檢測(cè)有必要嗎？

答：樣品尺寸橫向大小微米級(jí)的可以使用AFM測(cè)試，根據(jù)你想得到的材料信息來(lái)判斷有沒(méi)有檢測(cè)的必要，如果微米級(jí)起伏根據(jù)第4條回答來(lái)判斷。

6.AFM力曲線中位移-力曲線和距離-力曲線如何轉(zhuǎn)化？轉(zhuǎn)化過(guò)程中需要注意哪些細(xì)節(jié)？

答：F-Z轉(zhuǎn)換成F-D曲線可以在分析軟件中修改，將display mode改為Force vs sep就可以直接轉(zhuǎn)換。

7.樣品是粉末，疏松度十分疏松，測(cè)量時(shí)，會(huì)不會(huì)因?yàn)榉勰┦杷?，測(cè)不了啊？

答：一般粉末樣品需要分散到硅片或云母表面測(cè)試。

8.測(cè)量時(shí)，探針會(huì)不會(huì)將表面形貌破壞?。?/p>

答：樣品較軟時(shí)采用峰值力輕敲模式掃描，將力設(shè)置小一些就不會(huì)對(duì)表面形貌造成破壞。

9.磁學(xué)MFM測(cè)量探針的鍍層是Co的話，Co易氧化，如何保存？

答：一般是Co-Cr的鍍層，不會(huì)被氧化，沒(méi)有特殊保存要求。

10.AFM掃描過(guò)程中，力曲線反應(yīng)的是什么物理圖像？

答：力曲線反應(yīng)的是樣品與探針之間的作用力。

11.MESP針最大磁場(chǎng)可以加到多大？

答：MESP的探針矯頑力在400Oe，測(cè)試的樣品磁性較強(qiáng)時(shí)建議使用高矯頑力的探針或者低磁矩探針。

12.有鍍層的針會(huì)不會(huì)更粗一些？

答：不會(huì)，一般探針針尖在2nm，鍍層可以鍍的厚度很薄，可以忽略。

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