AFM測(cè)試常見(jiàn)的問(wèn)題及解答(二)
在做AFM測(cè)試時(shí),科學(xué)指南針檢測(cè)平臺(tái)工作人員在與很多同學(xué)溝通中了解到,好多同學(xué)對(duì)此項(xiàng)目不太了解,針對(duì)此,科學(xué)指南針檢測(cè)平臺(tái)組織相關(guān)同事對(duì)AFM測(cè)試進(jìn)行問(wèn)題收集并整理,希望可以幫助到科研圈的伙伴們;
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1.液體樣品如何控制濃度測(cè)試到單層高度?
答:這個(gè)主要看你的粉末的分散容易程度,能否測(cè)到單層要看你的分散效果,可以嘗試不同的溶液,增加超聲時(shí)間和靜置時(shí)間,讓樣品分散均勻才能測(cè)到單層的樣品。
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2.自由振幅哪里看?
答:自由振幅在Tun界面可以看到,這個(gè)值主要是DriveAmplitude產(chǎn)生的,所謂的DriveAmplitude指的探針夾后面的陶瓷片的振動(dòng)幅度,來(lái)給探針提供驅(qū)動(dòng)力的,那么自由振幅的大小即由DriveAmplitude的大小決定。
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3.導(dǎo)電玻璃表面的薄膜厚度用什么模式測(cè)試呢?
答:首先測(cè)試厚度應(yīng)該制作樣品的臺(tái)階才能測(cè)到厚度,至于模式的選擇還是筆者認(rèn)為這三種模式都可以,根據(jù)你薄膜的性質(zhì)來(lái)判斷,比如有機(jī)薄膜,那么我們就選擇力比較小的峰值力模式。
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4.AFM能用于測(cè)納米柱的粗糙度嗎?
答:可以測(cè)試,具體也要看納米柱的直徑,如果小于10nm,那就比較困難了。
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5.峰值力模式如何在0.05和0.15選擇合適的一個(gè)數(shù)值SETPOINT呢?
答:選擇不同的數(shù)值看測(cè)試效果,沒(méi)有固定的數(shù)值,只能我們?cè)跍y(cè)試過(guò)程中調(diào)整數(shù)值來(lái)滿足我們的測(cè)試需求。
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6.顆粒在油面水面的測(cè)量可以嗎?
答:可以測(cè)試,難度較大,應(yīng)該使用液下模式,注意使用專用的探針和探針夾。
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7.能否在二維形貌圖中找到指定位置測(cè)試力曲線?
答:不能實(shí)現(xiàn)。
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8.如何確定玻璃表面的測(cè)試范圍?
答:根據(jù)自己的需求確定,一般微米級(jí)即可,不建議大于30微米。
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9.獲得主形貌和電荷分布圖,期間要換探針嗎?
答:不需要更換探針,這是一整個(gè)過(guò)程,基于一根探針。
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10.AFM能有辦法測(cè)電位嗎?
答:可以測(cè)試,KPFM就可以。
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