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技術(shù)干貨周刊奉上(MOS管,充電器,逆變器)

2023-03-30 10:00 作者:電子星球-官方  | 我要投稿

為什么插拔充電器,電池電量會(huì)跳變、跌落?

作者:工程師看海

前兩天,有個(gè)朋友遇到一個(gè)問題:為什么插拔充電器,電池電量會(huì)跳變?

這是個(gè)挺有趣的問題,現(xiàn)在我整理出來和大家一起交流分享下。

閑話少說,有多種策略來估計(jì)電池電量,最簡單粗暴的一種方法就是通過兩個(gè)串聯(lián)電阻,使用ADC采集電池電壓,進(jìn)而間接估計(jì)電量,這種方法估計(jì)精度雖然非常低,但是卻簡單易實(shí)現(xiàn),如下圖所示。

放電時(shí),電流從電池流出見圖中紅色電流路徑,此時(shí)A點(diǎn)電壓最高,因此A點(diǎn)電壓要高于B點(diǎn)電壓高于E點(diǎn)電壓,這個(gè)意思說的是,實(shí)際中,ADC采集的電壓是E點(diǎn)的電壓,這個(gè)電壓其實(shí)是小于電池電壓A的,而且受負(fù)載電流影響很大(后面會(huì)更新文章進(jìn)行深入介紹)。

而充電時(shí),情況就變的不一樣了,充電時(shí),電流是流入電池,電流路徑見下圖綠色路徑。此時(shí)B點(diǎn)的電壓最高,B點(diǎn)的電壓要高于A點(diǎn)和E點(diǎn)的電壓。

那么問題就來了!

假如現(xiàn)在電池正處于放電狀態(tài),即上圖所示,A點(diǎn)電池電壓最高。

如果此時(shí)突然插入充電器,對電池充電,如下圖,那么會(huì)使得B點(diǎn)位置的電壓突然增加,此時(shí)ADC感應(yīng)到電壓突然增加(E位置會(huì)隨著B位置增加),會(huì)判斷為電量突然增加,而使得電量跳變,俗稱電壓反彈或電量反彈。

反過來。

如果電池正處于充電狀態(tài),見下圖,B點(diǎn)電壓最高,此時(shí)如果突然拔掉充電器,拔掉后,會(huì)使得B點(diǎn)和E點(diǎn)電壓突然跌落,此時(shí)A點(diǎn)電壓是最高。那么,ADC感應(yīng)到拔掉充電器后的電壓跌落,那么就會(huì)判斷為電量突然跌落。

插拔充電器時(shí)的電量跳變,就是這么來的……

原文鏈接:https://www.dianyuan.com/eestar/article-6035.html


光伏微逆變器應(yīng)用中的拓?fù)浼肮ぷ髟矸治?/span>

作者:電源漫談

光伏逆變器中使用典型的反激變換器作為DC/DC部分的拓?fù)?,本文簡要分析反激變換器在光伏微逆中的應(yīng)用。

一.反激變換器的應(yīng)用概要分析

反激變換器一般用于較小功率的降壓應(yīng)用,典型來說低于幾百瓦左右,它具有較低的輸出電流。在光伏微逆變器應(yīng)用中,反激變換器作為單極拓?fù)?,它可以?0V-45VDC的PV電池電壓,升壓到一個(gè)對應(yīng)AC整流后的輸出電壓,同時(shí)通過變壓器將PV電池和電網(wǎng)隔離開。正激變換器同樣可以升壓PV電池電壓,并提供隔離,但是其元件數(shù)目會(huì)多一些。

基于電路簡單的優(yōu)勢,選擇反激變換器作為微逆變器的主拓?fù)?,但是不可忽略其相?yīng)的擔(dān)心,就是漏感能量的處理。具體來說,當(dāng)反激MOSFET關(guān)斷時(shí),有較大的能量留在磁芯中,它不能傳遞到副邊,這個(gè)能量導(dǎo)致一個(gè)大的電壓峰值,加在反激主MOSFET漏極上。傳統(tǒng)的電阻,電容,二極管吸收電路(RCD吸收電路)可以加在變壓器的原邊抑制MOSFET尖峰電壓,但是其具有副作用就是,將這個(gè)能量只能耗散為熱損失。

光伏微逆變器引入了一個(gè)有源箝位電路,它本質(zhì)上是無損吸收電路,漏感尖峰被箝位電容箝位,這些殘存能量存儲在箝位電容中,這個(gè)能量之后就會(huì)被電路傳遞到副邊,重新利用這部分能量供給負(fù)載。如果正確的設(shè)計(jì),有源箝位電路也可以對反激MOSFET提供ZVS開關(guān),減小開關(guān)損耗和提升效率。

圖1 單相的有源箝位反激變換器簡圖

圖1為有源箝位反激變換器的單相結(jié)構(gòu),其中漏電感顯示為一個(gè)獨(dú)立元件顯示出來,但是實(shí)際上它可以認(rèn)為是集成到主變壓器中的,Q1為反激主控MOSFET.如果箝位MOSFET Q2跨過變壓器繞組的話,就必須使用高邊驅(qū)動(dòng)電路,這里,PMOS Q2的使用可以避免使用高邊驅(qū)動(dòng)電路。

圖2 有源箝位反激驅(qū)動(dòng)電路

對于驅(qū)動(dòng)電路來說,如圖2所示,一個(gè)關(guān)鍵問題是驅(qū)動(dòng)PMOS的電路如何設(shè)計(jì),為了驅(qū)動(dòng)PMOS需要一個(gè)負(fù)電壓,放在PMOS的門級和源極。門級驅(qū)動(dòng)器MCP14E4的輸出是一個(gè)具有一定占空比的方波,幅值為12V,其中門級驅(qū)動(dòng)器的輸入信號PWM1H和PWM1L是來自控制器的輸出信號,一個(gè)小陶瓷電容0.1uF放置在PMOS驅(qū)動(dòng)的串聯(lián)回路上,用于去除直流偏置。

在占空比50%時(shí),方波幅值將為6V到-6V之間,增加一個(gè)二極管D22,放在電容后,陽極接到電容,陰極接到地,二極管將箝位正電壓到0.7V,則驅(qū)動(dòng)信號幅值被箝位到負(fù)電壓,圖3顯示出兩個(gè)MOSFET的門級驅(qū)動(dòng)波形。

圖3 有源箝位反激的典型運(yùn)行波形

二.有源箝位反激變換器的運(yùn)行原理分析

光伏微逆變器參考設(shè)計(jì)用一個(gè)交錯(cuò)有源箝位反激變換器實(shí)施,交錯(cuò)拓?fù)淇梢跃鬏斎胼敵鲭娏?,可以?shí)現(xiàn)低的銅損和鐵損,電流均流后輸出二極管導(dǎo)通損耗可以減小,可以幫助提升總體效率。

這里還有兩個(gè)另外的原因去實(shí)施交錯(cuò)設(shè)計(jì),如減小輸出電流紋波,幫助減小THD,因?yàn)檩斎腚娏骷y波同時(shí)也減小了,所以可以改善輸入bulk電容的壽命。

當(dāng)設(shè)計(jì)反激變壓器時(shí),必須要確認(rèn)的一件事情是它工作在CCM還是工作在DCM狀態(tài),交錯(cuò)反激變換器可以運(yùn)行在CCM和DCM兩種模式。例如,在輕載階段,反激運(yùn)行在DCM模式,在重載階段,反激運(yùn)行在CCM模式,在CCM模式,原邊和副邊的峰值電流將是2倍或者3倍低于DCM模式……

原文鏈接:https://www.dianyuan.com/eestar/article-6024.html


分享一種靈活性很高的協(xié)議格式

作者:嵌入式大雜燴

嵌入式開發(fā)中,常常會(huì)自定義一些協(xié)議格式,比如用于板與板之間的通信、客戶端與服務(wù)端之間的通信等。

自定義的協(xié)議格式可能有很多種,本篇文章我們來介紹一種很常用、實(shí)用、且靈活性很高的協(xié)議格式——ITLV格式。

什么是ITLV格式?

大家可能看到網(wǎng)絡(luò)上的很多文章用的是TLV(Tag、Length、Value)格式數(shù)據(jù)。實(shí)際中,可以根據(jù)實(shí)際需要進(jìn)行修改。我們這里稍微改一下,實(shí)際上也是大同小異的。

我們這里的ITLV各字段的含義:

  • I:ID或Index,用于區(qū)分是什么數(shù)據(jù)。

  • T:Type,代表數(shù)據(jù)類型,如int、float等。

  • L:Length,表示數(shù)據(jù)的長度(Value的長度)。

  • V:Value,表示實(shí)際的數(shù)據(jù)。

其中,I、T、L是固定長度的,在制定具體的數(shù)據(jù)協(xié)議之前,需要評估好當(dāng)前項(xiàng)目的數(shù)據(jù)會(huì)有多少、數(shù)據(jù)的最大長度是多少,考慮好后續(xù)數(shù)據(jù)擴(kuò)展也可以保證協(xié)議通用。一般I設(shè)置為1~2字節(jié),T設(shè)置為1字節(jié),L設(shè)置為1~4字節(jié)。

下面我們制定一個(gè)格式:

實(shí)際中,如果在物聯(lián)網(wǎng)系統(tǒng)中數(shù)據(jù)傳輸,我們用戶自定義的協(xié)議字段可能就只包含如上四個(gè)字段就可以了。比如我們公司的云平臺上的用戶數(shù)據(jù)格式用的就是類似ITLV這樣的格式。用戶在制定協(xié)議時(shí)的協(xié)議字段包含如上字段就可以了。

沒有包頭做一些數(shù)據(jù)區(qū)分,也沒有校驗(yàn)字段,只包含如上字段就能保證數(shù)據(jù)可靠傳輸嗎?

因?yàn)槎嗽仆ㄐ挪捎肕QTT,基于TCP,TCP的特點(diǎn)就是可靠的,網(wǎng)絡(luò)協(xié)議中會(huì)帶有校驗(yàn)。并且,實(shí)際在傳輸用戶數(shù)據(jù)時(shí),還會(huì)再用戶數(shù)據(jù)之前增加一些字段區(qū)分這就是用戶數(shù)據(jù)。所以,其實(shí)基于它的設(shè)備SDK來進(jìn)行開發(fā),操作的數(shù)據(jù)就是如上的數(shù)據(jù)。

但是,如果應(yīng)用于板與板之間的通信,只包含如上字段自然是有風(fēng)險(xiǎn)的。我們至少還需要還要包頭、校驗(yàn)字段。

實(shí)際中根據(jù)需要還可以增加其它字段,比如如果需要分包發(fā)送,還需要增加包號;如果多塊板之間進(jìn)行通信,還需要增加發(fā)送數(shù)據(jù)目標(biāo)地址等。

這里我們增加包頭與校驗(yàn)字段:

其中:

(1)Head固定為0x55、0xAA。

(2)Length為1字節(jié),即Value最大為256B。

ITLV格式數(shù)據(jù)處理

下面以例子來演示ITLV格式數(shù)據(jù)的處理。

下面我們以上面我們制定的協(xié)議編寫A板的組包、解析代碼……

原文鏈接:https://www.dianyuan.com/eestar/article-6032.html


MOS管導(dǎo)通和關(guān)斷過程

作者:開關(guān)電源分析

為了更好的理解MOS管的導(dǎo)通和關(guān)斷過程,我們一般會(huì)將電路中的寄生電感忽略掉,下面我們以一個(gè)最簡單的鉗位感應(yīng)開關(guān)模型來說明。

對于MOS的導(dǎo)通過程我們可以將其劃分為4個(gè)階段:首先第一個(gè)階段為輸入電容從0開始充電到Vth,在這個(gè)過程中,柵極絕大部分電流都用來給電容CGS充電,也有很小的電流流過電容CGS。當(dāng)電容CGS的電壓增加到門的極限時(shí),它的電壓就會(huì)有稍微的減??;這個(gè)過程稱為導(dǎo)通延遲,這是因?yàn)榇藭r(shí)器件的漏極電流和漏極電壓均未發(fā)生變化;當(dāng)柵極電壓達(dá)到開啟電壓時(shí),MOSFET處于微導(dǎo)通狀態(tài)。進(jìn)入第二個(gè)階段。

在第二個(gè)階段中,柵極電壓從Vth上升到Miller平坦區(qū),即VGS。這是器件的線性工作區(qū),電流和柵極電壓成正比。在柵極的一側(cè),電流如第一階段一樣流入電容CGS和CGD,電容VGS的的電壓將會(huì)不斷升高。在器件的輸出端,漏極電流也不斷變大,但是漏源電壓基本不變,保持先前水平(VDS,OFF )。當(dāng)所有電流都流入MOSFET而且二極管完全截止后,漏極電壓必須保持在輸出電壓水平;這時(shí)就進(jìn)入第三個(gè)階段。

進(jìn)入第三個(gè)階段后,柵極電壓已經(jīng)足夠使漏極電流全部通過,而且整流二極管處于完全截止?fàn)顟B(tài)?,F(xiàn)在允許漏極電壓下降。在器件漏極電壓下降過程中,柵源電壓保持不變。這就是柵極電壓波形的Miller平坦區(qū)。從驅(qū)動(dòng)得到的可用的所有柵極電流通過電容CGD放電,這將加快漏源電壓變化。而漏極電流幾乎不變,這是由于此刻它受外部電路限制。

最后一個(gè)階段是MOS溝道增強(qiáng),處于完全導(dǎo)通狀態(tài),這得益于柵極的電壓已經(jīng)足夠高。最終的VGS電壓幅度將決定器件最終導(dǎo)通阻抗。

而MOS的關(guān)斷過程恰好和它的導(dǎo)通過程是相反的:首先是關(guān)斷延遲,這階段需要電容CISS從最初值電壓放電到Miller平坦區(qū)水平。這期間柵極電流由電容CISS提供,而且它流入MOSFET的電容CGS和CGD。器件的漏極電壓隨著過載電壓的減小而略微的增大,然后進(jìn)入第二個(gè)階段,管子的漏源電壓從IDC·RDS(On)增加到最終值(VDS(off)),進(jìn)而促使二極管導(dǎo)通,進(jìn)入第三個(gè)階段,二極管給負(fù)載電流提供另一通路;柵極電壓從VGS,Miller降到Vth;大部分的柵極電流來自于電容CGS,在這個(gè)階段的最后漏極電流幾乎達(dá)到0;但是由于整流二極管的正向偏置,所以漏極電壓將維持在VDS(off)……

原文鏈接:https://www.dianyuan.com/eestar/article-6033.html


16位定點(diǎn) 數(shù)字信號處理編程的思考

作者:楊帥鍋

如果說要在16bit定點(diǎn)環(huán)境上使用DSP算法,如IIR構(gòu)成的2P2Z,會(huì)受到定點(diǎn)編程和量化精度的問題。如果說在float32環(huán)境上可以很容易進(jìn)行編程,那切換到定點(diǎn)環(huán)境上就不得不得考慮這些問題。通常情況下單精度浮點(diǎn)在小數(shù)點(diǎn)后的精度為1/(2^23),理論上使用32位定點(diǎn)IQ24就可以覆蓋單精度浮點(diǎn)的精度問題,但是在16bit上,使用i1.q15的方法來算,僅有1/(2^15)的精度,如果直接使用則會(huì)遇到量化精度引起的誤差問題。那么該如何把浮點(diǎn)切換到16bit的定點(diǎn)來呢,下面將一步一步的來進(jìn)行討論。

S1 傳遞函數(shù)離散

離散化:

帶入?yún)?shù),并出歸一化的z域傳遞函數(shù),這里把分母的z^2提出來,然后全部除以其它的數(shù)字,即可得到:

S2 使用IQ15的方法量化:

可見,a1項(xiàng)為最大,即可把全部數(shù)字除以a1項(xiàng),讓它用滿15bit的字長,可得:

然后乘以2^15,得到:

S3 提升B系數(shù):這里可以看到分子項(xiàng)上B0/B2的數(shù)字太小,所以為了提高量化精度,可以在B系數(shù)上繼續(xù)擴(kuò)大到2^12,這樣可以更多的利用字長,最后在輸出上除去引入增益即可。

可得B系數(shù)更新為。

然后考慮一下分母量化為32786時(shí)引入的增益:1.99998,在編程上考慮先左移1位然后再考慮小數(shù)點(diǎn)(32709/32678)即可引入增益。然后開始測試定點(diǎn)化后的PR控制器……

原文鏈接:https://www.dianyuan.com/eestar/article-5973.html


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