在做透射電子顯微鏡（TEM測試）時，科學指南針檢測平臺工作人員在與很多同學溝通中了解到，大多數同學對TEM測試儀器原理不是很清楚，針對此，科學指南針檢測平臺團隊組織相關同事對網上海量知識進行整理，希望可以幫助到科研圈的伙伴們；

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分析原理：高能電子束穿透試樣時發(fā)生散射、吸收、干涉和衍射，使得在相平面形成襯度，顯示出圖象

譜圖的表示方法：質厚襯度象、明場衍襯象、暗場衍襯象、晶格條紋象、和分子象

提供的信息：晶體形貌、分子量分布、微孔尺寸分布、多相結構和晶格與缺陷等

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TEM工作圖

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TEM成像過程

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STEM成像不同于平行電子束的TEM，它是利用聚集的電子束在樣品上掃描來完成的，與SEM不同之處在于探測器置于試樣下方，探測器接收透射電子束流或彈性散射電子束流，經放大后在熒光屏上顯示出明場像和暗場像。

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STEM分析圖

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入射電子束照射試樣表面發(fā)生彈性散射，一部分電子所損失能量值是樣品中某個元素的特征值，由此獲得能量損失譜(EELS)，利用EELS可以對薄試樣微區(qū)元素組成、化學鍵及電子結構等進行分析。

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EELS原理圖

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以上就是科學指南針檢測平臺對網絡上相關資料的整理如有測試需求，可以和科學指南針聯(lián)系，我們會給與您最準確的數據和最好的服務體驗，希望可以在大家的科研路上有所幫助。

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