20Cr1Mo1V(Nb)TiB緊固件Ⅰ類(晶粒級別1、2級)、Ⅱ類(晶粒級別3、4級)和Ⅲ類(晶粒級別5級)晶粒級別的檢測方法.結(jié)果表明:各晶粒級別對超聲波的散射衰減影響顯著,且隨著探測頻率的增加而增大.在相同探測頻率下,一次底波波高為滿刻度80％時,Ⅰ類與Ⅲ類緊固件相比,二次底波波高平均值低7.61％～28.1％,波幅值平均值高10.6～15.8 dB;Ⅱ類和Ⅲ類緊固件相比,二次底波波高平均值低6.7％～9.4％,波幅值平均值高4～5.6 dB.當(dāng)探測頻率為5 MHz、10 MHz時,粗晶(Ⅰ、Ⅱ類)緊固件對超聲波的散射衰減更為明顯.用該方法可有效檢測20Cr1 Mo 1V(Nb)TiB緊固件的晶粒級別,檢測方法具有效率高、便捷、準(zhǔn)確及無損材質(zhì)等優(yōu)點.

火力發(fā)電廠高溫緊固件的檢驗內(nèi)容、方法和處理措施，并對螺栓緊固與拆卸提出了要求。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于工作溫度400℃以上的汽缸、汽門、各種閥門和蒸汽管道法蘭的螺栓、螺母和墊片的檢驗和處理。對于工作溫度400℃及以下的緊固件可參照執(zhí)行。

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