XRD測(cè)試作為常用測(cè)試之一，但仍有許多同學(xué)不太了解，本篇文章由科學(xué)指南針科研服務(wù)平臺(tái)給大家介紹粉末XRD射線衍射的項(xiàng)目歸類。

?

廣角XRD

廣角、小角XRD因測(cè)試角度范圍而得名，廣角即測(cè)試范圍為10-120 °，常規(guī)廣角測(cè)到90 °即可，有機(jī)材料或者有機(jī)金屬配位材料一般測(cè)到四五十度也是可以的。廣角XRD是最常用到的測(cè)試條件，有機(jī)、無(wú)機(jī)材料判斷晶型、物相類型、PDF卡片等基本都是通過廣角XRD測(cè)試得到的譜圖分析得到的。一般大家口中的XRD，沒有特別說(shuō)明測(cè)試條件的都是指的廣角XRD，有時(shí)為了區(qū)別于塊體薄膜這些樣品形態(tài)的，也叫PXRD，即粉末XRD。

?

小角XRD

小角XRD和廣角XRD對(duì)應(yīng)，即測(cè)試低角度區(qū)域，稱為小角XRD，測(cè)試范圍一般為0.5-10 °。小角XRD一般可以探測(cè)到更多的微觀信息，比如介孔樣品除了做物理吸脫附的表征，也可以通過測(cè)試小角XRD驗(yàn)證介孔是否規(guī)整。

變溫XRD

變溫XRD，顧名思義，就是改變溫度測(cè)試XRD， 可測(cè)溫度范圍是95 K-1200℃，測(cè)試氣氛可以是空氣、氮?dú)?、氬氣、真空或者二氧化碳。一般情況下需要設(shè)置測(cè)試的溫度點(diǎn)，如室溫、100 ℃、300 ℃、500 ℃等，升溫速率以及XRD的角度測(cè)試范圍。此外，還要求樣品在測(cè)試溫度范圍內(nèi)不熔化。

?

微區(qū)XRD

微區(qū)XRD可以測(cè)試指定某個(gè)區(qū)域的XRD譜圖，但是測(cè)試區(qū)域需要大于等于0.5 mm，不能太小。另外測(cè)試角度范圍默認(rèn)是5-90 °，其他角度需要先和指南針老師溝通后再做決定。比如需要測(cè)試塊體樣品（尺寸要求是長(zhǎng)寬一般1-2 cm，厚度不超過5 mm）上面某一個(gè)或一些小區(qū)域的XRD，就可以用微區(qū)XRD來(lái)測(cè)試。

?

掠入射XRD

掠入射XRD（GIXRD）是專門用來(lái)測(cè)試薄膜樣品的手段。測(cè)試光是平行光，相對(duì)于常規(guī)的衍射光來(lái)說(shuō)能量較小，因此掠入射測(cè)試XRD的譜圖絕對(duì)峰強(qiáng)相對(duì)較弱。但是平行光可以更好的關(guān)注薄膜表面的信息，也不容易測(cè)到基底，因此掠入射XRD專門用于測(cè)試薄膜樣品。薄膜尺寸沒有特別要求，但是需要測(cè)試面平整光潔，不要有遮擋物，這樣測(cè)試結(jié)果才真實(shí)可信。

?

本文所有內(nèi)容文字、圖片和音視頻資料，版權(quán)均屬科學(xué)指南針網(wǎng)站所有，任何媒體、網(wǎng)站或個(gè)人未經(jīng)本網(wǎng)協(xié)議授權(quán)不得以鏈接、轉(zhuǎn)貼、截圖等任何方式轉(zhuǎn)載。

關(guān)于XRD測(cè)試，今天就分享到這里。如果內(nèi)容對(duì)你有幫助，希望大家不要吝嗇點(diǎn)個(gè)贊哦，我們會(huì)繼續(xù)給大家輸出更多優(yōu)質(zhì)內(nèi)容~

最后，祝大家科研順利！如果你想和更多科研工作者學(xué)習(xí)探討，可以掃碼關(guān)注下哦~