紅外光譜曲線的基線調(diào)整
在做紅外光譜(IR)測(cè)試時(shí),科學(xué)指南針檢測(cè)平臺(tái)工作人員在與很多同學(xué)溝通中了解到,好多同學(xué)對(duì)IR不太了解,針對(duì)此,科學(xué)指南針檢測(cè)平臺(tái)團(tuán)隊(duì)組織相關(guān)同事對(duì)網(wǎng)上海量知識(shí)進(jìn)行整理,希望可以幫助到科研圈的伙伴們;
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紅外光譜測(cè)試是表征材料特征官能基團(tuán)種類和反應(yīng)過(guò)程中特征基團(tuán)變化的重要手段,可用于研究材料的分子結(jié)構(gòu)和化學(xué)鍵,表征和鑒別化學(xué)物種,并能定性或定量地研究反應(yīng)官能團(tuán)的含量變化情況。在利用紅外光譜對(duì)材料分子官能基團(tuán)進(jìn)行表征時(shí),經(jīng)常會(huì)遇到紅外曲線基線不平的情況,不僅影響到美觀,而且不利于吸收特征峰之間的變化對(duì)比;本文以O(shè)rigin軟件為例,采用三種方法對(duì)紅外光譜曲線基線進(jìn)行調(diào)整。
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1.在Origin軟件中輸入需要分析的紅外譜圖數(shù)據(jù)
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首先,打開(kāi)Origin軟件,Import ? Singles ASCII ??找到數(shù)據(jù)文檔存放位置???將文件類型選為All Files ??選擇將分析的數(shù)據(jù)文檔?? Open;輸入數(shù)據(jù)后的Origin界面如圖4所示。
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圖1
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圖2
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圖3
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圖4
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2.基線調(diào)整
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選中A(X1)和B(Y1)兩列數(shù)據(jù),單擊左下角的Line做如圖5所示的曲線圖,曲線基線出現(xiàn)明顯的不平整。
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圖5
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方法一:?jiǎn)螕舨藛螜谥?/strong>Analysis ? Data Manipulation ? Subtract Reference Data ? Open Dialog… ??彈出如圖7所示對(duì)話框;在Input 1下拉選項(xiàng)中選擇B(Y),Reference Data下拉選項(xiàng)中選擇C(Y),在Output?下拉選項(xiàng)中選擇<new>,點(diǎn)擊OK,利用數(shù)據(jù)表中自動(dòng)新增兩列數(shù)據(jù)(Subtract X1和Subtract Y1)作圖,修改后的Origin界面如圖9所示。
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圖6
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圖7
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圖8
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圖9
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方法二:選中A(X1)和B(Y1)兩列數(shù)據(jù),單擊左下角的Line做如圖5所示的曲線圖,單擊菜單欄中Analysis ? Data Manipulation ? Subtract Straight Line… ??彈出如圖11所示的Data Display對(duì)話框;在曲線左端左下角空白處雙擊添加基線的左側(cè)位點(diǎn),再在曲線右端右下角空白處雙擊,以選取直線基線的兩端點(diǎn),得到調(diào)整好基線的曲線圖,如圖12所示,圖中對(duì)話框?yàn)檎{(diào)整基線后的輸出結(jié)果日志。
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注意:在調(diào)整基線之前,一定要先將原始數(shù)據(jù)備份,因?yàn)檎{(diào)整基線后的數(shù)據(jù)會(huì)覆蓋原始數(shù)據(jù);
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圖10
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圖11
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圖12
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方法三:選中A(X1)和B(Y1)兩列數(shù)據(jù),單擊左下角的Line做如圖5所示的曲線圖,點(diǎn)擊左側(cè)工具欄中的Draw Data/Free-form drawing of data???在曲線低點(diǎn)下方雙擊選取基線位點(diǎn),如圖14所示;然后,單擊菜單欄中Analysis ? Data Manipulation ? Subtract Straight Line… ??彈出如圖16所示的Data Display對(duì)話框;在Reference Data下拉選項(xiàng)中選擇Plot(2):B,在Output?下拉選項(xiàng)中選擇<new>,點(diǎn)擊OK,即在原曲線下方得到調(diào)整基線后的曲線圖,如圖17所示,調(diào)整后的曲線數(shù)據(jù)會(huì)自動(dòng)存儲(chǔ)在另一個(gè)工作表中。
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圖13
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圖14
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圖15
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圖16
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圖17
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