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《炬豐科技-半導(dǎo)體工藝》CMOS 單元工藝

2021-07-06 09:25 作者:華林科納  | 我要投稿

書(shū)籍:《炬豐科技-半導(dǎo)體工藝》

文章:CMOS 單元工藝

編號(hào):JFSJ-21-027

作者:炬豐科技

晶圓生產(chǎn)需要三個(gè)一般過(guò)程:硅精煉、晶體生長(zhǎng)和晶圓形成。硅精煉開(kāi)始于在大約?2000 °C 的電弧爐中用碳源還原二氧化硅。碳有效地從 SiO2 分子中“拉”出氧,從而將 SiO2 化學(xué)還原為大約 98% 的純硅,稱(chēng)為冶金級(jí)硅 (MGS)??倻p少量由以下等式控制

? 硅在高溫下暴露于氧化劑時(shí),很容易在所有暴露表面形成氧化物薄層。硅的天然氧化物以二氧化硅 (SiO) 的形式存在。在 CMOS 制造方面,SiO2 可以作為器件結(jié)構(gòu)(例如柵極氧化物)中的高質(zhì)量電介質(zhì)。此外,在加工過(guò)程中,熱生長(zhǎng)的氧化物可用作注入、擴(kuò)散和蝕刻掩模。硅作為微電子材料的優(yōu)勢(shì)可歸因于這種高質(zhì)量原生氧化物的存在以及由此產(chǎn)生的接近理想的硅/氧化物界面。

? 濕法蝕刻包括使用化學(xué)溶液去除材料。在 CMOS 制造中,濕法工藝用于清潔晶片和去除薄膜。濕法清潔過(guò)程在整個(gè)工藝流程中重復(fù)多次。一些清潔過(guò)程旨在去除微粒,而另一些則是去除有機(jī)和/或無(wú)機(jī)表面污染物。濕蝕刻劑可以是各向同性的(即,所有方向的蝕刻速率都相同)或各向異性的(即,不同方向的蝕刻速率不同),盡管在 CMOS 制造中使用的大多數(shù)濕蝕刻劑是各向同性的。通常,與干蝕刻工藝相比,濕蝕刻劑往往具有高度選擇性。濕蝕刻槽的示意圖如圖 1?所示。為了提高蝕刻均勻性并幫助去除微粒,通常對(duì)蝕刻劑進(jìn)行超聲波振動(dòng),如圖所示。此外,微控制器可精確控制浴槽的溫度。蝕刻完成后,晶片在去離子 (DI) 水中沖洗,然后旋轉(zhuǎn)干燥。

圖1使用 fbr 濕化學(xué)清洗和蝕刻的濕工作臺(tái)的簡(jiǎn)化圖是原子級(jí)噴砂。直流電源可用于濺射蝕刻導(dǎo)電基板,而通過(guò)電容耦合蝕刻非導(dǎo)電基板需要射頻電源。濺射蝕刻往往不是選擇性的,但它是非常各向異性的。


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