【模擬IC】閂鎖效應的概念,產(chǎn)生原因,工作過程及解決方案
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一、閂鎖效應的概念及產(chǎn)生原因
閂鎖效應指的是在CMOS工藝制作的芯片中,寄生三極管與寄生體電阻形成的電路,在一定條件下,會導致電源與地之間產(chǎn)生大電流,可能會永久損壞芯片。可以由圖一看出,在同時具有NMOS和PMOS管時,P區(qū)和N區(qū)就有條件形成寄生的NPN和PNP三極管,紅色區(qū)域就是一個閂鎖效應的電路。
閂鎖效應的觸發(fā)條件一般是電源或是地線突然來一個大電流脈沖。比如房間里面別的感性上電瞬間(有的電源前面是有變壓器的,當你給他上電的時候,可能會對交流電有電壓上的脈沖干擾);靜電;電源電壓的波動(熱拔插)。

圖一 閂鎖效應的產(chǎn)生
二、閂鎖效應的等效電路和工作過程
我們可以把閂鎖效應的電路等效成圖二。

它的工作過程如下:
電路要想導通,必須使得R1的電壓PNP的PN結導通。如圖三所示,
(1)當電源來了個電流,使得R1的壓降為0.7V(假設PN結的導通電壓為0.7V),此時PNP導通。

圖三 工作過程1
(2)此時有一個I2流過R2,使得NPN導通。

圖三 工作過程 2
(3)NPN管導通,使得有大電流流過R1,使得PNP管進一步導通,使得R2又產(chǎn)生一個大電流,使得NPN管進一步導通,最后形成一個正反饋,如圖四所示。

圖四 閂鎖效應的正反饋過程
三、閂鎖效應的解決辦法
我們了解了閂鎖效應的工作過程,我們可以得到以下解決思路,第一,降低體電阻阻值,使得電阻無法讓三極管導通。第二,切斷或減少寄生三極管間的聯(lián)系。
閂鎖效應有以下解決方案:
(1) 使用GUARD RING (p+ 環(huán)包圍NMOS良好接地,N+ 環(huán)包圍PMOS并接VDD),降低體電阻的阻值,降低觸發(fā)風險(note:為什么加了guard ring就可以降低體電阻啊?因為與psub的寄生電阻形成并聯(lián)電阻了)。
(2) 如果有可能,NMOS可以遠離PMOS(增大NPN的基區(qū)寬度,使環(huán)路增益小于1)。
(3) 襯底接觸與阱接觸一定要按照DRC規(guī)則做到距離管子源端最近。
(4) 可以在P管和N管之間用接電源的阱做隔離。
(5) 數(shù)字電路的版圖設計尤其小心,門電路每次電平轉換都會產(chǎn)生電流尖峰,GUARD RING 必須有!
總結
以上就是對閂鎖效應的全部介紹,大家可以通過畫版圖來加深印象。你的點贊關注收藏是對作者最大的鼓勵,謝謝!