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高低溫試驗(yàn)箱在電子元器件測(cè)試的運(yùn)用

2023-08-02 15:00 作者:北京宏展儀器  | 我要投稿

高低溫濕熱試驗(yàn)箱是用于電氣電子元器件、自動(dòng)化、通訊元器件、汽車(chē)零部件、金屬零部件、化工材料、塑料等行業(yè),國(guó)防工業(yè)、航空航天、工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶瓷及物理形狀變化的高分子材料,測(cè)試材料拉一遍又一遍地和產(chǎn)品在輸出高/低溫?zé)崦浝淇s的化學(xué)或物理傷害,可以確認(rèn)產(chǎn)品的質(zhì)量,從精密集成電路到重型機(jī)械部件,可以使用,是一個(gè)重要的組成部分,產(chǎn)品測(cè)試測(cè)試用例的所有領(lǐng)域。

電子元件是高低溫濕熱試驗(yàn)箱的基礎(chǔ),它可能由于其固有缺陷或在使用過(guò)程中對(duì)制造過(guò)程的控制不當(dāng),形成與時(shí)間有關(guān)或與應(yīng)力有關(guān)的故障。為了保證整批部件的可靠性,滿(mǎn)足整機(jī)的要求,在使用條件下,有必要將早期可能出現(xiàn)故障的部件拆除。零件的故障率隨時(shí)間變化的過(guò)程可以用類(lèi)似于“浴缸曲線”的故障率曲線來(lái)描述。早期故障率隨時(shí)間的增加迅速下降,在使用壽命(或意外故障期)內(nèi)故障率基本不變。

1、高溫貯存

電子元件的失效大多是由其機(jī)體和表面的各種物理、化學(xué)變化引起的,這些變化與溫度密切相關(guān)。當(dāng)溫度升高時(shí),化學(xué)反應(yīng)速度大大加快,破壞過(guò)程也加快。使有缺陷的部件能及時(shí)外露,待拆除。

2、功率電老練

在篩選過(guò)程中,在熱電應(yīng)力的共同作用下,可以很好地暴露元器件內(nèi)部和表面的各種潛在缺陷,這是可靠性篩選的一個(gè)重要項(xiàng)目。

各種電子元件通常條件下額定功率老化幾個(gè)小時(shí)到168小時(shí),一些產(chǎn)品,如集成電路、不能隨便改變條件,但可以使用高溫工作改善工作結(jié)溫,實(shí)現(xiàn)高應(yīng)力狀態(tài),電動(dòng)壓力選擇合適的各種組件,可以等于或略高于額定條件,但它不能吸引新的失效機(jī)理

3、溫度循環(huán)

電子產(chǎn)品在使用過(guò)程中會(huì)遇到不同的環(huán)境溫度條件。在熱膨脹和冷縮應(yīng)力作用下,熱匹配性能差的部件容易失效。溫度循環(huán)篩分利用極端高溫和極端低溫之間的熱膨脹和冷縮應(yīng)力,可有效消除具有熱性能缺陷的產(chǎn)品。常用的組分篩選條件為-55 ~ +125℃,循環(huán)5~10次。

4、部件篩選的必要性

電子元器件的固有可靠性取決于產(chǎn)品的可靠性設(shè)計(jì)。在產(chǎn)品的制造過(guò)程中,由于人為因素或原材料、工藝條件、設(shè)備條件的波動(dòng),zui終成品不可能達(dá)到預(yù)期的固有可靠性。

高低溫濕熱試驗(yàn)箱是否能可靠工作,取決于電子元器件是否能可靠工作。如果將早期故障部件安裝在整機(jī)設(shè)備上,整機(jī)設(shè)備的早期故障率將大大提高,其可靠性不能滿(mǎn)足要求,需要付出巨大的修理代價(jià)。

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